基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法及设备技术

本发明专利技术提供了一种基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法及设备。所述方法包括：根据预定像素单元的大小，对每一透光单元进行透光区域划分，在每一透光单元上均得到若干透光区域；在每一透光区域上设置一透光板，控制所述透光板朝向目标物体；每一透光板采集相应波段的单频率光线，得到每一透光板对应采集的单频率光线；将每一透光单元上在相同像素单元位置的全部透光板采集到的单频率光线进行合成，得到每一像素单元的合成光谱，并对合成光谱进行光电转换，得到用于分析物体构造的电信号。本发明专利技术可以根据需要对待检测物体的每个部分的成像效果进行精确调整，获得期望精度的图像，并且对物体内部的期望部位进行构造显示。并且对物体内部的期望部位进行构造显示。并且对物体内部的期望部位进行构造显示。

【技术实现步骤摘要】
基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法及设备


[0001]本专利技术实施例涉及光学成像
，尤其涉及一种基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法及设备。

技术介绍

[0002]随着光学探测机理研究的深入以及光学器件制造工艺的迅速发展，各种光学探测技术逐渐成熟，受到世界各国的高度重视。目前光学成像
的相关技术手段主要采用的是光学反射的成像机理，虽然能够满足成像需求，但是也存在成像效果不够连续及成像精度较低的问题。此外，在某些特定领域，如产品检测领域，在得到物体外部形状图像的同时，还希望同时能够检测到物体的内部构造，从而对物品实现全方位检测，这些需求都是目前的光学成像技术手段难以有效满足的。因此，开发一种基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法及设备，可以有效克服上述相关技术中的缺陷，就成为业界亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0003]针对现有技术存在的上述问题，本专利技术实施例提供了一种基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法及设备。
[0004]第一方面，本专利技术的实施例提供了一种基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法，包括：根据预定像素单元的大小，对每一透光单元进行透光区域划分，在每一透光单元上均得到若干透光区域；在每一透光区域上设置一透光板，控制所述透光板朝向目标物体；每一透光板采集相应波段的单频率光线，得到每一透光板对应采集的单频率光线；将每一透光单元上在相同像素单元位置的全部透光板采集到的单频率光线进行合成，得到每一像素单元的合成光谱，并对合成光谱进行光电转换，得到用于分析物体构造的电信号。
[0005]在上述方法实施例内容的基础上，本专利技术实施例中提供的基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法，所述根据预定像素单元的大小，对每一透光单元进行透光区域划分，在每一透光单元上均得到若干透光区域，包括：在每一透光单元上，获取单一像素单元在Y轴向和X轴向的像素点预设分布比例系数，以及所述每一透光单元的表面积与每一像素单元在Y轴上的像素点预设数量平方的无量纲比值，将所述预设分布比例系数与无量纲比值求积，得到透光区域的划分构造；其中，每一透光单元与每一像素单元均为矩形，且每两个透光单元之间表面积相等，每两个像素单元之间面积相等。
[0006]在上述方法实施例内容的基础上，本专利技术实施例中提供的基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法，所述将所述预设分布比例系数与无量纲比值求积，得到透光区域的划分构造，包括：其中，N为全部透光区域的划分构造；K为所述预设分布比例系数，根据实际需求预先确定；S为每一透光单元的表面积；为每一像素单元在Y轴上的像素点预设数量。
[0007]在上述方法实施例内容的基础上，本专利技术实施例中提供的基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法，所述在每一透光区域上设置一透光板，包括：在每一透光区域上设置双层透光介质的板体，不同透光单元的相同像素单元位置上设置的板体的谐振频率相异，所述谐振频率与预设波段的光线的频率相对应。
[0008]在上述方法实施例内容的基础上，本专利技术实施例中提供的基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法，所述每一透光板采集相应波段的单频率光线，得到每一透光板对应采集的单频率光线，包括：所述预设波段的光线透过所述板体时与板体产生谐振，所述预设波段的光线的传播速度降至所有透射光线中最低，所述预设波段的光线的透射度升至所有透射光线中最高，则通过所述每一透光板采集的光线中所述预设波段的光线的比例达到最高。
[0009]在上述方法实施例内容的基础上，本专利技术实施例中提供的基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法，所述预设波段的光线的透射度升至所有透射光线中最高，包括：包括：其中，为光线相对双层透光介质的板体的透射度；n为光线相对双层透光介质的板体的折射率；c为光线在真空中的速度；v为光线在双层透光介质的板体中的速度。
[0010]第二方面，本专利技术的实施例提供了一种基于像素微分的单光频率物体全构造检测系统，包括：光线采集器，用于收集待检测物体反射或发出的光线；透光器，用于将不同像素单元的预设波段的光线按照对应频率进行采集，并将采集到的光线发送至光线合成器；光线合成器，用于将每一像素单元采集的多个频率的光线进行合成，得到合成光信号，并将合成光信号发送至光电转换器；光电转换器，用于将合成光信号转换为电信号，并发送至处理器；处理器，用于实现如前述任一方法实施例所述的基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法。
[0011]第三方面，本专利技术的实施例提供了一种基于像素微分的单光频率物体全构造检测装置，包括：第一主模块，用于实现根据预定像素单元的大小，对每一透光单元进行透光区域划分，在每一透光单元上均得到若干透光区域；第二主模块，用于实现在每一透光区域上设置一透光板，控制所述透光板朝向目标物体；第三主模块，用于实现每一透光板采集相应波段的单频率光线，得到每一透光板对应采集的单频率光线；第四主模块，用于实现将每一透光单元上在相同像素单元位置的全部透光板采集到的单频率光线进行合成，得到每一像素单元的合成光谱，并对合成光谱进行光电转换，得到用于分析物体构造的电信号。
[0012]第四方面，本专利技术的实施例提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器、至少一个存储器和通信接口；其中，所述处理器、存储器和通信接口相互间进行通信；所述存储器存储有可被所述处理器执行的程序指令，所述处理器调用所述程序指令执行第一方面的各种实现方式中任一种实现方式所提供的基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法。
[0013]第五方面，本专利技术的实施例提供了一种非暂态计算机可读存储介质，非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，计算机指令使计算机执行第一方面的各种实现方式中任
一种实现方式所提供的基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法。
[0014]本专利技术实施例提供的基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法及设备，通过在多个成像屏幕上对像素区域进行精细划分，并在划分出的每个像素区域进行滤光，得到针对每个像素区域的不同频率的多个单光，之后再将多个单光进行合成，最终得到物体的检测图像，可以根据需要对待检测物体的每个部分的成像效果进行精确调整，获得期望精度的图像，并且对物体内部的期望部位进行构造显示。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1为本专利技术实施例提供的基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法流程示意图；图2为本专利技术实施例提供的基于像素微分的单光频率物体全构造检测装置结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的电子设备的实体结构示意图；图4为本专利技术实施例提供的基于像素微分的单光频率物体全构造检测系统结构示意图；图5为本专利技术实施例提供的透光单元及像素单元结构示意图；图6为本专利技术实施例提供的双层透光介质的板体结本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法，其特征在于，包括：根据预定像素单元的大小，对每一透光单元进行透光区域划分，在每一透光单元上均得到若干透光区域；在每一透光区域上设置一透光板，控制所述透光板朝向目标物体；每一透光板采集相应波段的单频率光线，得到每一透光板对应采集的单频率光线；将每一透光单元上在相同像素单元位置的全部透光板采集到的单频率光线进行合成，得到每一像素单元的合成光谱，并对合成光谱进行光电转换，得到用于分析物体构造的电信号。2.根据权利要求1所述的基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法，其特征在于，所述根据预定像素单元的大小，对每一透光单元进行透光区域划分，在每一透光单元上均得到若干透光区域，包括：在每一透光单元上，获取单一像素单元在Y轴向和X轴向的像素点预设分布比例系数，以及所述每一透光单元的表面积与每一像素单元在Y轴上的像素点预设数量平方的无量纲比值，将所述预设分布比例系数与无量纲比值求积，得到透光区域的划分构造；其中，每一透光单元与每一像素单元均为矩形，且每两个透光单元之间表面积相等，每两个像素单元之间面积相等。3.根据权利要求2所述的基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法，其特征在于，所述将所述预设分布比例系数与无量纲比值求积，得到透光区域的划分构造，包括：其中，N为全部透光区域的划分构造；K为所述预设分布比例系数，根据实际需求预先确定；S为每一透光单元的表面积；为每一像素单元在Y轴上的像素点预设数量。4.根据权利要求3所述的基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法，其特征在于，所述在每一透光区域上设置一透光板，包括：在每一透光区域上设置双层透光介质的板体，不同透光单元的相同像素单元位置上设置的板体的谐振频率相异，所述谐振频率与预设波段的光线的频率相对应。5.根据权利要求4所述的基于像素微分的单光频率物体全构造检测方法，其特征在于，所述每一透光板采集相应波段的单频率光线，得到每一透光板对应采集的单频率光线，包括：所述预设波段的光线透过所述板体时与板体产生谐振，所述预设波段的光线的传播速度降至所有透射光线中最低，所述预设波段的光线的透射度升至所有...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡元学，芦宇，卞海溢，王江华，王晋研，马福生，姜成伟，姜春香，
申请(专利权)人：天津博霆光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：