用于旋磁器件三阶互调电平测试系统及测试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种用于旋磁器件三阶互调电平测试系统及测试方法，用于两路信号在旋磁器件中的三阶互调电平，该测试系统由信号源、功率合成器、衰减器和频率仪等仪器设备搭建而成；第一信号源、第二信号源分别经功率放大、信号隔离、带通滤波后接功率合成器的两个输入端，功率合成器的输出端经低通滤波器连接定向耦合器的输入端，定向耦合器耦合端连接功率计，负载额定功率大于测试系统的传输的最大功率，衰减器一端连接频谱仪，第一信号源、第二信号源均为频率和功率可调的信号源。本发明专利技术能测试旋磁器件在较大水平功率信号下的三阶互调性能，提高测试的可靠性和准确性。提高测试的可靠性和准确性。提高测试的可靠性和准确性。

【技术实现步骤摘要】
用于旋磁器件三阶互调电平测试系统及测试方法


[0001]本专利技术涉及一种三阶互调电平测试系统及方法，尤其涉及一种用于旋磁器件三阶互调电平测试系统及测试方法。

技术介绍

[0002]当两个不同频率且频率分别为f1和f2的信号进入旋磁器件时，会在该器件中产生二次谐波，频率为2f1和2f2，二次谐波信号与基频信号混频会产生三阶互调干扰信号2f1‑
f2及2f2‑
f1，三阶互调干扰信号会恶化通信质量。随着通信技术的发展，通信系统临近信道的干扰问题日益突出，对系统内旋磁器件的三阶互调电平提出了高的要求，因此需要一种旋磁器件的三阶互调电平测试系统及方法。
[0003]现有三阶互调测试系统及方法利用两个功率信号发生器发出不同频率f1和f2的功率信号，将2个功率信号合成，合成信号经过旋磁器件后进入接收器，接收器测试频点2f1‑
f2和2f2‑
f1下的功率水平，最后得到频点2f1‑
f2和2f2‑
f1下的功率与基频信号功率的差值，即为三阶互调电平。但这种三阶互调测试系统和方法具有以下缺陷：（1）原有测试系统不包含带通滤波器及低通滤波器等滤除带外杂散信号的元器件，会向接收器中引入其他元器件的三阶互调干扰信号，导致对旋磁器件的三阶互调测试结果不准确。
[0004]（2）原有测试系统的功率信号发生器后级无大功率的隔离器，无法吸收由测试后端反射回来的高水平的功率信号，若功率信号发生器后级系统发生故障，功率信号反射回来，则会造成功率信号发生器的烧毁。
[0005]（3）原有测试系统的功率信号发生器可发生的功率水平有限，一般均小于等于10W，无法发生较高水平的功率，使得原有测试系统无法测试旋磁器件在较高功率水平下的三阶互调电平。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的就在于提供一种解决上述问题，不仅能测试旋磁器件在较大水平功率信号下的三阶互调性能，还能提高准确性的用于旋磁器件三阶互调电平测试系统及方法。
[0007]为了实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是这样的：一种用于旋磁器件三阶互调电平测试系统，用于测试频率为f1的第一信号和频率为f2的第二信号在旋磁器件中的三阶互调电平，该测试系统由信号源、功率合成器、衰减器和频率仪等仪器设备搭建而成；所述测试系统包括第一信号源、第二信号源、功率合成器、衰减器和频率仪；所述第一信号源依次经第一功率放大器、第一隔离器和第一带通滤波器后，接功率合成器的一个输入端；所述第二信号源依次经第二功率放大器、第二隔离器和第二带通滤波器后，接功率合成器的另一个输入端；
功率合成器的输出端经低通滤波器连接定向耦合器的输入端，定向耦合器耦合端连接功率计，且定向耦合器的输出端标记为端口A；所述负载的输入端标记为端口B，且负载额定功率大于测试系统传输的最大功率，衰减器一端连接频谱仪，另一端标记为端口E；所述第一信号源、第二信号源均为频率和功率可调的信号源。
[0008]作为优选：所述第一带通滤波器、第二带通滤波器的带外衰减≥40dB；所述功率合成器的互调电平≤
‑
90dBm；所述低通滤波器的带外衰减≥40dB；所述衰减器的衰减≥40dB。
[0009]一种用于旋磁器件三阶互调电平测试系统的测试方法，包括以下步骤；（1）搭建一用于旋磁器件三阶互调电平测试系统，选择一待测三阶互调电平的旋磁器件作为被测器件，将被测器件的输入端和输出端分别标记为端口C和端口D；（2）确定第一信号的频率f1、第二信号的频率f2、第一信号源的输出功率P1，第二信号源的输出功率P2；（3）连接端口A和端口B；（4）调整第一信号源并记录调整位置P1，包括步骤（41）
‑
（42）；（41）关闭第二信号源和第二功率放大器，开启第一信号源和第一功率放大器；（42）调整第一信号源输出的信号频率至f1，再调整第一信号源的功率，同时观察功率计读数至指标要求水平，记录此时第一信号源的调节位置P1；（5）调整第二信号源并记录调整位置P2，包括步骤（51）
‑
（52）；（51）关闭第一信号源和第一功率放大器，开启第二信号源和第二功率放大器；（52）调整第二信号源输出的信号频率至f2，再调整第二信号源的功率，同时观察功率计读数至指标要求水平，记录此时第二信号源的调节位置P2；（6）断开端口A和端口B，连接端口A和端口C、端口D和端口E；（7）同时开启第一信号源、第二信号源、第一功率放大器和功率放大器，并将第一信号源和第二信号源调至步骤（4）（5）中记录的调节位置；（8）用频谱仪在频点2f1‑
f2和2f2‑
f1处，测量被测器件的三阶互调电平。
[0010]与现有技术相比，本专利技术的优点在于：（1）将原有测试系统的功率发生器替换为信号源和功率放大器的组合，其中信号源的频率和功率均可调，不仅调试更简单灵活，还使得测试系统可以测试旋磁器件在较大水平功率信号下的三阶互调性能。
[0011]（2）在功率放大器后级加入大功率容量的隔离器，对功率放大器起到了保护作用，提高了测试系统的可靠性；在测试系统中加入带通滤波器和低通滤波器可有效阻隔带外杂散信号，大幅提升了测试系统对旋磁器件三阶互调电平的测试准确性。
[0012]（3）基于本专利技术新的测试系统的结构，提出了一种测试方法，测试方法操作简单快捷，适用性高。
附图说明
[0013]图1为本专利技术电路原理图。
实施方式
[0014]下面将结合附图对本专利技术作进一步说明。
[0015]实施例1：参见图1，一种用于旋磁器件三阶互调电平测试系统，用于测试频率为f1的第一信号和频率为f2的第二信号在旋磁器件中的三阶互调电平，该测试系统由信号源、功率合成器、衰减器和频率仪等仪器设备搭建而成；所述测试系统包括第一信号源、第二信号源、功率合成器、衰减器和频率仪；所述第一信号源依次经第一功率放大器、第一隔离器和第一带通滤波器后，接功率合成器的一个输入端；所述第二信号源依次经第二功率放大器、第二隔离器和第二带通滤波器后，接功率合成器的另一个输入端；功率合成器的输出端经低通滤波器连接定向耦合器的输入端，定向耦合器耦合端连接功率计，且定向耦合器的输出端标记为端口A；所述负载的输入端标记为端口B，且负载额定功率大于测试系统传输的最大功率，衰减器一端连接频谱仪，另一端标记为端口E；所述第一信号源、第二信号源均为频率和功率可调的信号源。
[0016]所述第一带通滤波器、第二带通滤波器的带外衰减≥40dB，所述功率合成器的互调电平≤
‑
90dBm，所述低通滤波器的带外衰减≥40dB，所述衰减器的衰减≥40dB。
[0017]一种用于旋磁器件三阶互调电平测试系统的测试方法，包括以下步骤；（1）搭建一用于旋磁器件三阶互调电平测试系统，选择一待测三阶互调电平的旋磁器件作为被测器件，将被测器件的输入端和输出端分别标记为端口C和端口D；（2）确定第一信号的频率f1、第二信号的频率f2、第一信号源的输出功率P1，第二信号源的输出功率P2；（本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于旋磁器件三阶互调电平测试系统，用于测试频率为f1的第一信号和频率为f2的第二信号在旋磁器件中的三阶互调电平，包括测试系统和负载，其特征在于：所述测试系统包括第一信号源、第二信号源、功率合成器、衰减器和频率仪；所述第一信号源依次经第一功率放大器、第一隔离器和第一带通滤波器后，接功率合成器的一个输入端；所述第二信号源依次经第二功率放大器、第二隔离器和第二带通滤波器后，接功率合成器的另一个输入端；功率合成器的输出端经低通滤波器连接定向耦合器的输入端，定向耦合器耦合端连接功率计，且定向耦合器的输出端标记为端口A；所述负载的输入端标记为端口B，且负载额定功率大于测试系统传输的最大功率，衰减器一端连接频谱仪，另一端标记为端口E；所述第一信号源、第二信号源均为频率和功率可调的信号源。2.根据权利要求1所述的用于旋磁器件三阶互调电平测试系统，其特征在于：所述第一带通滤波器、第二带通滤波器的带外衰减≥40dB；所述功率合成器的互调电平≤
‑
90dBm；所述低通滤波器的带外衰减≥40dB；所述衰减器的衰减≥40dB。3.根据权利要求1所述的用于旋磁器件三阶互调电平测试系统的测试方法，其特征在于：包括以下步骤；（1）搭建一用于旋磁器件三阶互调电平测试系统，选择一待测三阶互调电平的旋磁...

【专利技术属性】
技术研发人员：王华伟，尹久红，冉扬洲，张成，
申请(专利权)人：西南应用磁学研究所中国电子科技集团公司第九研究所，
类型：发明
国别省市：