一种利用光学二次谐波测试悬空二维铁电材料的方法技术

本发明专利技术属于固态电介质应用技术领域，公开了一种利用光学二次谐波测试悬空二维铁电材料的方法，利用挠曲电效应，将二维铁电材料转移至带有孔洞的基底上，制备出具有应变梯度的悬空二维铁电材料，接着利用光学二次谐波(SHG)表征系统对孔洞位置进行扫描，观察孔洞位置的SHG信号变化。本发明专利技术针对悬空二维铁电材料建立了光学二次谐波表征技术，补充了二维铁电材料宏观极化的调控方法，解决了极化调控程度较小时表征难度大的问题，避免了极化调控时漏电流的影响。时漏电流的影响。时漏电流的影响。

【技术实现步骤摘要】
一种利用光学二次谐波测试悬空二维铁电材料的方法


[0001]本专利技术属于固态电介质应用
，更具体的说是涉及一种利用光学二次谐波测试悬空二维铁电材料的方法。

技术介绍

[0002]目前微电子领域当中，铁电材料凭借着具有铁电性、热释电性、压电性等性质，在铁电存储器、热释电红外探测器、压电传感器等电子器件方面具有重要的应用。随着现代电子器件微型化和高度集成化的发展，用于制备铁电器件的铁电薄膜厚度要求越来越薄。但是，由于铁电薄膜中的退极化场会破坏薄膜的极化状态，随着薄膜厚度不断减小，这种破坏效应就愈专利技术显。因此研究工作者一直在努力希望获得在原子级厚度具有稳定铁电性的铁电薄膜。二维铁电材料凭借着原子级别的厚度、更大的比表面积、良好的机械性能、简易的制备工艺等优点，成为下一代多功能器件的热门研究材料，目前已广泛应用于柔性器件当中。
[0003]铁电材料中极化取向一致的微小区域叫铁电畴，铁电畴结构与翻转是材料物理过程和现象的基础，直接决定着材料的性能和应用领域。因此对铁电材料的极化调控是铁电材料不可避免的科学问题。目前对于铁电材料极化调控本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种利用光学二次谐波测试悬空二维铁电材料的方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)利用机械剥离方法从铁电材料的单晶上剥离出二维铁电材料，然后将二维铁电材料转移至带有孔洞的基底上方，使二维铁电材料形成应变梯度，得到悬空二维铁电材料；(2)挑选出适合测试的悬空二维铁电材料；(3)利用光学二次谐波表征系统，通过位移台将悬空二维铁电材料移动到扫描区域，选择固定入射光角度和SHG偏振方向，固定测试参数，对悬空二维铁电材料进行自动扫描，得到悬空二维铁电材料宏观极化所激发的SHG信号分布图；(4)根据SHG信号分布图，通过位移台将悬空二维铁电材料的不同位置移动至激光下方，改变入射光的偏振角度，测试悬空二维铁电材料不同位置处产生的入射光偏振依赖SHG信号。2.根据权利要求1所述的一种利用光学二次谐波测试悬空二维铁电材料的方法，其特征在于，所述二维铁电材料选自CuInP2S6、α
‑
In2Se3、MoS2中的一种。3.根据权利要求2所述的一种利用光学二次谐波测试悬空二维铁电材料的方法，其特征在于，所述二维铁电材料为CuInP2S6。4.根据权利要求1所述的一种利用光学二次谐波测试悬...

【专利技术属性】
技术研发人员：王金斌，董阳达，张园，陈骞鑫，王向东，
申请(专利权)人：湘潭大学，
类型：发明
国别省市：