一种光存储单元的倒空信号测试电路制造技术

本发明专利技术公开了一种光存储单元的倒空信号测试电路，特点是该电路由二个单稳态电路及反相器Ｆ、运放器Ｈ和选通开关Ｗ串接而成，单稳态电路由六个端口的双Ｄ触发器、电容和可变电阻组成，来自倒空读出电路的输出信号接入第一个单稳态电路，经反相器、运放器处理后作为ＶＢ信号输出和下一个单稳态电路的信号输入，最后以ＲＳ信号输出。本发明专利技术的倒空信号由另外的电路独立产生，不依赖于复位信号，可灵活调节倒空脉冲的时间、信号的宽度以及倒空信号与复位信号的位置，方便测试不同倒空条件下光存储传感器和电路对接后的工作情况，与现有技术相比具有很好的可操作性和实用性，信号参数方便调节的优点。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种光存储单元的倒空信号测试电路，其特征在于该电路由二个单稳态电路及反相器Ｆ、运放器Ｈ和选通开关Ｗ串接而成，单稳态电路由六个端口的触发器Ｌ、电容Ｃ和可变电阻Ｒ组成，触发器Ｌ１的Ｓ端接地；ＣＬＫ为时钟信号端接倒空读出电路输出信号；Ｑ端依次串接可变电阻Ｒ１、电容Ｃ１后接地；Ｉ端共接可变电阻Ｒ１、电容Ｃ１；Ｑ－端分别接触发器Ｌ１的Ｄ端、反相器Ｆ的输入端和选通开关Ｗ的①端；反相器Ｆ的输出端接运放器Ｈ正极和选通开关Ｗ的②端；运放器Ｈ的输出端作为ＶＢ信号输出；选通开关Ｗ的③端接下一个单稳态电路；触发器Ｌ２的ＣＬＫ时钟信号端接选通开关Ｗ的③端；Ｓ端接地；Ｑ端依次串接可变电阻Ｒ２、电容Ｃ２后接地；Ｉ端共接可变电阻Ｒ２、电容Ｃ２；Ｑ－端接触发器Ｌ２的Ｄ端后作为ＲＳ信号输出。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：韩建强，郭方敏，詹国钟，熊大元，越方禹，朱自强，褚君浩，
申请(专利权)人：华东师范大学，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]