具有电源毛刺检测和电源毛刺自测试功能的芯片制造技术

示出了芯片内的电源毛刺检测和电源毛刺自测试。在芯片中，处理器具有电源端、毛刺检测器和自测试电路。电源端用于接收电源。毛刺检测器耦接到处理器的电源端，用于检测电源毛刺。自测试电路包括毛刺产生器和毛刺控制器，毛刺控制器控制毛刺产生器在芯片内产生自测试毛刺信号，以对所述毛刺检测器进行测试。本申请的自测试毛刺信号由芯片自身产生，不需要额外的测试垫测试毛刺检测器。额外的测试垫测试毛刺检测器。额外的测试垫测试毛刺检测器。

【技术实现步骤摘要】
具有电源毛刺检测和电源毛刺自测试功能的芯片


[0001]本专利技术涉及芯片上的电源毛刺(power
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glitch)检测和电源毛刺自测试。

技术介绍

[0002]今天，已知黑客(hacker)使用电源毛刺攻击，这是一种复杂的攻击，旨在迷惑电子设备中的芯片以泄露芯片的秘密。
[0003]如何检测这种恶意攻击是片上系统(system
‑
on
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chip，SoC)设计中的一个重要问题。

技术实现思路

[0004]示出了与芯片上的电源毛刺检测和电源毛刺自测试相关的技术。
[0005]根据本专利技术示例性实施例的具有电源毛刺检测和电源毛刺自测试的芯片包括处理器、毛刺检测器和自测试电路。处理器具有用于接收电源的电源端。毛刺检测器耦接到处理器的电源端以用于电源毛刺的检测。自测试电路包括毛刺产生器和毛刺控制器。毛刺控制器控制毛刺产生器在芯片内产生自测试毛刺信号，以测试毛刺检测器。
[0006]本申请的自测试毛刺信号由芯片自身产生。不需要额外的测试垫来测试毛刺检测器。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有电源毛刺检测和电源毛刺自测试功能的芯片，其特征在于，包括：处理器，具有用于接收电源的电源端；毛刺检测器，耦接到所述处理器的电源端，用于检测电源毛刺；以及自测试电路，包括毛刺产生器和毛刺控制器，所述毛刺控制器控制所述毛刺产生器在芯片内产生自测试毛刺信号，以对所述毛刺检测器进行测试。2.如权利要求1所述的芯片，其特征在于，还包括：多路复用器，在正常模式下将所述处理器的电源端耦接到所述毛刺检测器，在电源毛刺自测试模式下将所述自测试毛刺信号耦接到所述毛刺检测器。3.如权利要求1或者2所述的芯片，其特征在于，所述毛刺控制器包括产生时钟信号的锁相环；以及所述毛刺控制器根据所述时钟信号操作。4.如权利要求3所述的芯片，其特征在于，所述毛刺控制器包括：移位寄存器，用于根据所述锁相环产生的时钟信号操作；以及脉冲产生器，被所述移位寄存器驱动以产生脉冲信号，所述脉冲信号被发送到所述毛刺产生器以确定所述自测试毛刺信号的脉冲宽度。5.如权利要求4所述的芯片，其特征在于，所述毛刺产生器包括：分压器和多个开关，所述分压器提供多个可选电压，多个开关用于选择所述多个可选电压中的一个作为所述自测试毛刺信号；以及所述毛刺控制器控制所述毛刺产生器的开关以利用所述脉冲信号导通选择的开关，所述选择的开关是选择的可选电压对应的开关。6.如权利要求4所述的芯片，其特征在于，所述自测试电路还包括：频率计，用于监测所述锁相环或所述移位寄存器的故障。7.如权利要求1所述的芯片，其特征在于，所述自测试毛刺信号被反馈给所述毛刺控制器以用于检验，所述毛刺控制器通过错误标志呈现所述自测试毛刺信号的错误。8.如权利要求7所述的芯片，其特征在于，所述毛刺控制器输出脉冲信号至所述毛刺产生器，以决定所述自测试毛刺信号的脉冲宽度；所述毛刺控制器根据所述脉冲信号产生第一触发信号和第二触发信号，以检测所述自测试毛刺信号的反相信号的上升转变和所述自测试毛刺信号的上升转变，以及当基于所述第一触发信号，所述自测试毛刺信号的反相信号的上升转变被检测到，以及基于所述第二触发信号，所述自测试毛刺信号的上升转变被检测到，所述错误标志被取消生效以示出所述自测试毛刺信号运行正常。9.如权利要求8所述的芯片，其特征在于，所述毛刺控制器具有第一D触发器、第二D触发器、第三D触发器以及与门；所述第一D触发器具有D端和时钟端，所述第一D触发器的D端接收所述自测试毛刺信号的反相信号，所述时钟端接收所述第一触发信号；所述第二D触发器具有D端和时钟端，所述第二D触发器的D端接收所述自测试毛刺...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈品文，陈冠中，
申请(专利权)人：联发科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：