相机系统的补偿精度的确定方法、装置与存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种相机系统的补偿精度的确定方法、装置与存储介质。该方法包括：获取标定板的第一图片；根据第一图片生成第一图形的第一实际信息；根据第一理论信息与第一实际信息生成对整体精度进行补偿的像素当量；获取标定板的第二图片；根据第二图片与像素当量，生成第二图形的第二实际信息；根据第二理论信息与第二实际信息生成局部补偿精度值。像素当量为相机系统在抓靶时对抓靶的图形坐标的整体偏移补偿精度的取值，局部补偿精度值中包括抓靶的图形坐标对应的局部偏移补偿精度值，从而使相机系统在抓靶时能够根据整体偏移补偿精度值与局部偏移补偿精度值确定更精准的图形坐标，提高了相机系统的抓靶镭射精度。提高了相机系统的抓靶镭射精度。提高了相机系统的抓靶镭射精度。

【技术实现步骤摘要】
相机系统的补偿精度的确定方法、装置与存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及激光应用
，具体涉及一种相机系统的补偿精度的确定方法、装置与存储介质。

技术介绍

[0002]镭射系统在对IC载板(封装基板)等产品进行镭射标记时，通常采用光斑大小为50微米(um)以上的绿光纳秒激光器、160毫米(millimeter，mm)mmx160mm的大场镜，并利用线扫相机快速抓靶定位，用以保证镭射精度50um以内。
[0003]但在实际运用中，实际上镭射的结果与理论上镭射的结果会出现70
‑
80um的精度偏差，镭射精度差。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种相机系统的补偿精度的确定方法、装置与存储介质，用以解决现有技术中镭射精度差的问题。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种相机系统的补偿精度的确定方法，包括：
[0006]获取标定板的第一图片，所述第一图片包括镭射标记设备根据获取的第一理论信息在所述标定板上镭射的第一图形；
[0007]根据所述第一图片生成所述第一图形的第一实际信息；
[0008]根据所述第一理论信息与所述第一实际信息生成对整体精度进行补偿的像素当量；
[0009]获取所述标定板的第二图片，所述第二图片包括镭射标记设备根据获取的第二理论信息在所述标定板上镭射的第二图形；
[0010]根据所述第二图片与所述像素当量，生成所述第二图形的第二实际信息；
[0011]根据所述第二理论信息与所述第二实际信息生成局部补偿精度值。
[0012]在一种可能的实现方式中，所述第一图形包括多个第一形状图形，所述第一实际信息包括多个所述第一形状图形对应的第一实际坐标，所述第一理论信息包括多个所述第一形状图形对应的第一理论坐标；所述根据所述第一理论信息与所述第一实际信息生成对整体精度进行补偿的像素当量，包括：
[0013]根据多个所述第一形状图形对应的所述第一理论坐标生成多个理论图形间距值；
[0014]根据多个所述第一形状图形对应的所述第一实际坐标生成每个所述理论图形间距值对应的实际图形间距值；
[0015]根据多个所述理论图形间距值和与每个所述理论图形间距值对应的所述实际图形间距值，生成所述像素当量。
[0016]在一种可能的实现方式中，所述根据多个所述理论图形间距值和与每个所述理论图形间距值对应的所述实际图形间距值，生成所述像素当量，包括：
[0017]将多个所述理论图形间距值对应的所述实际图形间距值与所述理论图形间距值
作比，生成每个所述理论图形间距值对应的第一比值；
[0018]将多个所述第一比值的平均数作为所述像素当量。
[0019]在一种可能的实现方式中，所述第二图形包括多个第二形状图形，所述第二实际信息包括多个所述第二形状图形对应的第二实际坐标，所述第二理论信息包括多个所述第二形状图形对应的第二理论坐标，所述局部补偿精度值包括多个局部坐标补偿精度值；所述根据所述第二理论信息与所述第二实际信息生成局部补偿精度值，包括：
[0020]根据每个所述第二形状图形对应的所述第二理论坐标与所述第二实际坐标，生成每个所述第二形状图形对应的局部坐标补偿精度值。
[0021]在一种可能的实现方式中，所述局部补偿精度值包括多个局部坐标补偿精度值，在所述根据所述第二理论信息与所述第二实际信息生成局部补偿精度值之后，所述方法还包括：
[0022]获取待加工电路板的电路板图片，所述电路板图片包括靶标；
[0023]根据获取的镭射信息与像素当量确定所述靶标对应的第一精度坐标；
[0024]根据所述第一精度坐标，从多个所述局部坐标补偿精度值中确定出所述第一精度坐标对应的目标局部坐标补偿精度值；
[0025]根据所述目标局部坐标补偿精度值与所述第一精度坐标生成所述靶标对应的第二精度坐标。
[0026]在一种可能的实现方式中，所述待加工电路板为IC载板；
[0027]所述镭射信息包括搜索框比例、防呆半径、料片误差值中至少一个。
[0028]第二方面，本专利技术实施例提供了一种相机系统的补偿精度的确定装置，包括：
[0029]第一获取模块，用于获取标定板的第一图片，所述第一图片包括镭射标记设备根据获取的第一理论信息在所述标定板上镭射的第一图形；
[0030]第一生成模块，用于根据所述第一图片生成所述第一图形的第一实际信息；
[0031]第二生成模块，用于根据所述第一理论信息与所述第一实际信息生成对整体精度进行补偿的像素当量；
[0032]第二获取模块，用于获取所述标定板的第二图片，所述第二图片包括镭射标记设备根据获取的第二理论信息在所述标定板上镭射的第二图形；
[0033]第三生成模块，用于根据所述第二图片与所述像素当量，生成所述第二图形的第二实际信息；
[0034]第四生成模块，用于根据所述第二理论信息与所述第二实际信息生成局部补偿精度值。
[0035]在一种可能的实现方式中，所述第一图形包括多个第一形状图形，所述第一实际信息包括多个所述第一形状图形对应的第一实际坐标，所述第一理论信息包括多个所述第一形状图形对应的第一理论坐标；所述第二生成模块包括第一生成子模块、第二生成子模块与第三生成子模块；
[0036]所述第一生成子模块，用于根据多个所述第一形状图形对应的所述第一理论坐标生成多个理论图形间距值；
[0037]所述第二生成子模块，用于根据多个所述第一形状图形对应的所述第一实际坐标生成每个所述理论图形间距值对应的实际图形间距值；
[0038]所述第三生成子模块，用于根据多个所述理论图形间距值和与每个所述理论图形间距值对应的所述实际图形间距值，生成所述像素当量。
[0039]第三方面，本专利技术实施例提供了一种存储介质，所述存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述存储介质所在设备执行上述第一方面或第一方面任一可能的实现方式中的相机系统的补偿精度的确定方法。
[0040]第四方面，本专利技术实施例提供了一种相机设备，包括存储器和处理器，所述存储器用于存储包括程序指令的信息，所述处理器用于控制程序指令的执行，所述程序指令被处理器加载并执行时实现上述第一方面或第一方面任一可能的实现方式中的相机系统的补偿精度的确定方法的步骤。
[0041]本专利技术实施例提供的一种相机系统的补偿精度的确定方法、装置与存储介质的技术方案中，通过获取标定板的第一图片，第一图片包括镭射标记设备根据获取的第一理论信息在标定板上镭射的第一图形；根据第一图片生成第一图形的第一实际信息；根据第一理论信息与第一实际信息生成对整体精度进行补偿的像素当量；获取标定板的第二图片，第二图片包括镭射标记设备根据获取的第二理论信息在标定板上镭射的第二图形；根据第二图片与像素当量，生成第二图形的第二实际信息；根据第二理论信息与第二实际信息生成局部补偿精度本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种相机系统的补偿精度的确定方法，其特征在于，包括：获取标定板的第一图片，所述第一图片包括镭射标记设备根据获取的第一理论信息在所述标定板上镭射的第一图形；根据所述第一图片生成所述第一图形的第一实际信息；根据所述第一理论信息与所述第一实际信息生成对整体精度进行补偿的像素当量；获取所述标定板的第二图片，所述第二图片包括镭射标记设备根据获取的第二理论信息在所述标定板上镭射的第二图形；根据所述第二图片与所述像素当量，生成所述第二图形的第二实际信息；根据所述第二理论信息与所述第二实际信息生成局部补偿精度值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一图形包括多个第一形状图形，所述第一实际信息包括多个所述第一形状图形对应的第一实际坐标，所述第一理论信息包括多个所述第一形状图形对应的第一理论坐标；所述根据所述第一理论信息与所述第一实际信息生成对整体精度进行补偿的像素当量，包括：根据多个所述第一形状图形对应的所述第一理论坐标生成多个理论图形间距值；根据多个所述第一形状图形对应的所述第一实际坐标生成每个所述理论图形间距值对应的实际图形间距值；根据多个所述理论图形间距值和与每个所述理论图形间距值对应的所述实际图形间距值，生成所述像素当量。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据多个所述理论图形间距值和与每个所述理论图形间距值对应的所述实际图形间距值，生成所述像素当量，包括：将多个所述理论图形间距值对应的所述实际图形间距值与所述理论图形间距值作比，生成每个所述理论图形间距值对应的第一比值；将多个所述第一比值的平均数作为所述像素当量。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二图形包括多个第二形状图形，所述第二实际信息包括多个所述第二形状图形对应的第二实际坐标，所述第二理论信息包括多个所述第二形状图形对应的第二理论坐标，所述局部补偿精度值包括多个局部坐标补偿精度值；所述根据所述第二理论信息与所述第二实际信息生成局部补偿精度值，包括：根据每个所述第二形状图形对应的所述第二理论坐标与所述第二实际坐标，生成每个所述第二形状图形对应的局部坐标补偿精度值。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述局部补偿精度值包括多个局部坐标补偿精度值，在所述根据所述第二理论信息与所述第二实际信息生成局部补偿精度值之后，所述方法还包括：获取待加工电路板的电路板图片，所述电路板图片包括靶标；根据获取...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱延文，侯林坚，林潇俊，陈国栋，吕洪杰，杨朝辉，
申请(专利权)人：深圳市大族数控科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：