测量非线性器件的非线性相关参数的方法、装置和系统制造方法及图纸

本申请实施例提供一种测量非线性器件的非线性相关参数的方法、装置和系统，其中，该装置包括：第一处理单元，其对待测信号进行带阻滤波，生成带陷信号，根据所述带陷信号被输入非线性器件后所述非线性器件的第一输出信号计算所述非线性器件在传输所述待测信号时的第一非线性相关参数；第二处理单元，其根据将第一输入信号输入所述非线性器件后所述非线性器件的第二输出信号计算增益压缩修正系数，所述第一输入信号与所述待测信号具有相同的功率和不同的信号概率分布；以及第三处理单元，其根据所述增益压缩修正系数对所述第一非线性相关参数进行修正，得到所述非线性器件在传输所述待测信号时的第二非线性相关参数。传输所述待测信号时的第二非线性相关参数。传输所述待测信号时的第二非线性相关参数。传输所述待测信号时的第二非线性相关参数。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：叶彤，陶振宁，宿晓飞，杨成悟，
申请(专利权)人：富士通株式会社，
类型：发明
国别省市：