一种波峰焊后AOI检测台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种波峰焊后AOI检测台，涉及AOI检测台领域，包括AOI机体，所述AOI机体的上端外表面设有检测工作台，所述检测工作台的上端外表面设有控制器与检测仓，所述控制器位于检测仓的一侧，所述检测工作台的中部设有滑道。本实用新型专利技术所述的一种波峰焊后AOI检测台，设置的滑道在使用时可便于定位检测板进行移动，并且第二定位磁片在使用时可与定位检测板下方的第一定位磁片进行磁性吸附，在使用时可便于对定位检测板进行定位，便于定位检测，可避免出现偏差，设置的第一检测工位和第二检测工位在使用时可便于对待检测工件进行放置，在使用时可单次对两组工件进行检测，检测效率较高，并且便于对工件进行更换，可提高工作效率。工作效率。工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种波峰焊后AOI检测台


[0001]本技术涉及AOI检测台领域，具体涉及一种波峰焊后AOI检测台。

技术介绍

[0002]波峰焊是让插件板的焊接面直接与高温液态锡接触达到焊接目的，AOI全称是自动光学检测，是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备，在波峰焊加工完成后，一般需要使用AOI进行检测以保证焊接的质量。
[0003]在中国技术专利申请号：CN202120152817.6中公开了一种可翻转FPC的AOI检测台，包括翻面机器人、供料仓和收料仓，各为独立机构组件，可以相互独立作业，从而能优化作业流程，提高作业效率，平面空间布局的最优化，大幅减少占地空间，供料仓和收料仓充分利用了AOI平台两侧的富余空间，翻面机器人安装在AOI平台的正上方，如此大大节省了占用空间，与员工作业的作业空间不发生干涉，特殊情况下，或是生产需要，员工可以随时接管操作作业，自动与半自动作业切换不受制约，但该AOI检测台在使用时不便于对工件进行更换，每次更换检测工件的时间较长，从而影响工作效率，并且在进行检测时不便于进行定位，容易出现偏差，为此，我们提出一种波峰焊后AOI检测台。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的在于提供一种波峰焊后AOI检测台，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：一种波峰焊后AOI检测台，包括AOI机体，所述AOI机体的上端外表面设有检测工作台，所述检测工作台的上端外表面设有控制器与检测仓，所述控制器位于检测仓的一侧，所述检测工作台的中部设有滑道，所述滑道的中部设有定位检测板，所述检测工作台的前端外表面设有仓门，所述检测工作台的两侧外表面均设有导口，所述定位检测板的中部设有第一检测工位、第二检测工位与拉手槽，所述第一检测工位位于第二检测工位的一侧，所述拉手槽位于第一检测工位和第二检测工位的两侧，所述定位检测板的下端外表面设有第一定位磁片，所述滑道的内部设有第二定位磁片。
[0006]优选的，所述AOI机体的上端外表面与检测工作台的下端外表面固定连接，所述检测工作台的上端外表面与检测仓的下端外表面固定连接。
[0007]优选的，所述检测工作台与滑道为一体成型结构，所述滑道的一端内表面与第二定位磁片的一端外表面固定连接，所述检测工作台的上端外表面与控制器的一端外表面可拆卸连接。
[0008]优选的，所述检测工作台的两侧内表面均与定位检测板的两端外表面活动连接，所述定位检测板与拉手槽为一体成型结构，所述拉手槽的数量为两组。
[0009]优选的，所述定位检测板均与第一检测工位和第二检测工位为一体成型结构。
[0010]优选的，所述定位检测板的下端外表面与第一定位磁片的一端外表面固定连接，
所述第一定位磁片的数量为两组。
[0011]有益效果
[0012]与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：
[0013]1、设置的滑道在使用时可便于定位检测板进行移动，并且第二定位磁片在使用时可与定位检测板下方的第一定位磁片进行磁性吸附，在使用时可便于对定位检测板进行定位，便于定位检测，可避免出现偏差。
[0014]2、设置的第一检测工位和第二检测工位在使用时可便于对待检测工件进行放置，在使用时可单次对两组工件进行检测，检测效率较高，并且便于对工件进行更换，可提高工作效率。
附图说明
[0015]图1为本技术的整体结构示意图；
[0016]图2为本技术定位检测板6的俯视结构图；
[0017]图3为本技术定位检测板6的仰视结构图；
[0018]图4为本技术第二定位磁片13的结构图。
[0019]图中：1、AOI机体；2、检测工作台；3、控制器；4、检测仓；5、滑道；6、定位检测板；7、仓门；8、导口；9、第一检测工位；10、第二检测工位；11、拉手槽；12、第一定位磁片；13、第二定位磁片。
具体实施方式
[0020]为使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本技术。
[0021]如图1
‑
4所示，一种波峰焊后AOI检测台，包括AOI机体1，AOI机体1的上端外表面设有检测工作台2，检测工作台2的上端外表面设有控制器3与检测仓4，控制器3位于检测仓4的一侧，检测工作台2的中部设有滑道5，滑道5的中部设有定位检测板6，检测工作台2的前端外表面设有仓门7，检测工作台2的两侧外表面均设有导口8，定位检测板6的中部设有第一检测工位9、第二检测工位10与拉手槽11，第一检测工位9位于第二检测工位10的一侧，拉手槽11位于第一检测工位9和第二检测工位10的两侧，定位检测板6的下端外表面设有第一定位磁片12，滑道5的内部设有第二定位磁片13，AOI机体1的上端外表面与检测工作台2的下端外表面固定连接，检测工作台2的上端外表面与检测仓4的下端外表面固定连接，检测仓4在使用时可通过激光对波峰焊的焊接处进行检测，检测工作台2与滑道5为一体成型结构，滑道5的一端内表面与第二定位磁片13的一端外表面固定连接，检测工作台2的上端外表面与控制器3的一端外表面可拆卸连接，滑道5在使用时可便于定位检测板6进行移动，并且第二定位磁片13在使用时可与定位检测板6下方的第一定位磁片12进行磁性吸附，在使用时可便于对定位检测板6进行定位，便于定位检测，可避免出现偏差，检测工作台2的两侧内表面均与定位检测板6的两端外表面活动连接，定位检测板6与拉手槽11为一体成型结构，拉手槽11的数量为两组，拉手槽11在使用时可便于对定位检测板6进行拉动，定位检测板6均与第一检测工位9和第二检测工位10为一体成型结构，第一检测工位9和第二检测工位10在使用时可便于对待检测工件进行放置，在使用时可单次对两组工件进行检测，检测
效率较高，并且便于对工件进行更换，可提高工作效率，定位检测板6的下端外表面与第一定位磁片12的一端外表面固定连接，第一定位磁片12的数量为两组，第一定位磁片12在使用时可便于对第二定位磁片13进行磁性吸附，可便于对定位检测板6进行定位。
[0022]工作原理
[0023]需要说明的是，本技术为一种波峰焊后AOI检测台，在使用时，可将需要检测的工件分别放入到定位检测板6的第一检测工位9和第二检测工位10中，然后通过拉手槽11推动定位检测板6，使定位检测板6沿滑道5从导口8进入到检测仓4中，此时第一检测工位9下方的第一定位磁片12最先与第二定位磁片13进行吸附，吸附完成后可通过检测仓4内的激光检测装置对工件进行检测，当检测完成后可接着推动定位检测板6，使第二检测工位10下方的第一定位磁片12与第二定位磁片13进行定位吸附，然后对第二检测工位10中的工件进行检测，当工件都检测完毕后，可将定位检测板6从检测仓4的另一侧进行拉出，然后再放置工件，以相同的方式对另外的工件进行检测，在使用时可单次对两组工件进行检测，检测效率较高，并且便本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种波峰焊后AOI检测台，包括AOI机体(1)，其特征在于：所述AOI机体(1)的上端外表面设有检测工作台(2)，所述检测工作台(2)的上端外表面设有控制器(3)与检测仓(4)，所述控制器(3)位于检测仓(4)的一侧，所述检测工作台(2)的中部设有滑道(5)，所述滑道(5)的中部设有定位检测板(6)，所述检测工作台(2)的前端外表面设有仓门(7)，所述检测工作台(2)的两侧外表面均设有导口(8)，所述定位检测板(6)的中部设有第一检测工位(9)、第二检测工位(10)与拉手槽(11)，所述第一检测工位(9)位于第二检测工位(10)的一侧，所述拉手槽(11)位于第一检测工位(9)和第二检测工位(10)的两侧，所述定位检测板(6)的下端外表面设有第一定位磁片(12)，所述滑道(5)的内部设有第二定位磁片(13)。2.根据权利要求1所述的一种波峰焊后AOI检测台，其特征在于：所述AOI机体(1)的上端外表面与检测工作台(2)的下端外表面固定连接，所述检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘建平，
申请(专利权)人：深圳市杰易微科技有限公司，
类型：新型
国别省市：