【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种测量圆柱体导体材料参数的装置，其特征是，包括信号发生器（１）、频率计（２）、电流表（Ａ）、电压表（Ｖ）、相位表（φ），工作线圈（Ａ１）、比较线圈（Ａ２）及经与其连接的数据卡（３）和计算机（４）作电信号方式的连接构成；所述的工作线圈（Ａ１），比较线圈（Ａ２）是三个完全相同的线圈，即它们线圈的匝数和绕制方式完全相同；ＡＩ．０，ＡＩ．１引脚为数据卡（３）模拟输入口，ＡＯ．０引脚为模拟输出口。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杜向阳，程武山，范狄庆，余遒，
申请(专利权)人：上海工程技术大学，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]
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