图像匹配方法、装置、电子设备、芯片制造方法及图纸

本公开涉及一种图像匹配方法、装置、电子设备、芯片。所述图像匹配方法包括获取待匹配图像；将所述待匹配图像与多个模板进行匹配；在所述待匹配图像与所述多个模板中的一个模板匹配成功，与其他模板匹配失败的情况下，基于所述待匹配图像与其他模板的重叠率，对匹配进行校验；在校验通过的情况下，确定所述待匹配图像匹配成功。本公开实施例在单一模板匹配成功的基础上，基于待匹配图像与其他模板的重叠率，进行匹配校验，提升了匹配的准确率，降低了误匹配率，从而实现了图像的高精度匹配。从而实现了图像的高精度匹配。从而实现了图像的高精度匹配。

【技术实现步骤摘要】
图像匹配方法、装置、电子设备、芯片


[0001]本公开涉及图像处理领域，尤其涉及一种图像匹配方法、装置、电子设备、芯片。

技术介绍

[0002]图像匹配领域中最为基础的匹配技术包括模板匹配方法与特征匹配方法。模板匹配方法是设定一个或多个目标模板后，与待匹配的图像进行遍历移动式匹配，以此来判断该模板和待匹配图像是否能够匹配。特征匹配方法，是指将图像中的某些特定结构作为特征，然后利用特征的结构或者位置等信息来匹配，其涉及到特征提取和特征匹配两个方面。
[0003]小尺寸图像匹配,主要指一次录入多个图像，但匹配时只采集一次的情形(如指纹匹配)，其对匹配的准确性要求较高。当前的小尺寸图像匹配系统，通常采用预先录入多个模板，将模板逐一与新采集样本进行匹配的方法。若存在单一子模板匹配成功，则将此次匹配判断为匹配成功；反之，若没有子模板与新样本匹配成功，则匹配失败。
[0004]但受限于采集设备尺寸和形状，此种匹配方法存在以下问题：若新样本采集于尺寸较小或形状不合适的采集设备(如窄条形采集设备)，那么采集自不同图源的模板与样本可能会有部分区域存在较大的相似性，从而导致错误的匹配结果的产生。
[0005]如何对图像匹配过程进行调整与优化，提升匹配准确率，实现图像的高精度匹配，是目前亟待解决的问题。

技术实现思路

[0006]有鉴于此，本公开提出了一种图像匹配方法、装置、电子设备、芯片。
[0007]根据本公开的一方面，提供了一种图像匹配方法，包括：
[0008]获取待匹配图像；
[0009]将所述待匹配图像与多个模板进行匹配；
[0010]在所述待匹配图像与所述多个模板中的一个模板匹配成功，与其他模板匹配失败的情况下，基于所述待匹配图像与其他模板的重叠率，对匹配进行校验；
[0011]在校验通过的情况下，确定所述待匹配图像匹配成功。
[0012]在一种可能的实现方式中，所述基于所述待匹配图像与其他模板的重叠率，对匹配进行校验，包括：
[0013]确定所述待匹配图像与所述多个模板之间的位置关系；
[0014]根据所述位置关系，确定所述待匹配图像与其他模板的重叠率；
[0015]基于所述待匹配图像与其他模板的重叠率，对匹配进行校验。
[0016]在一种可能的实现方式中，所述基于所述待匹配图像与其他模板的重叠率，对匹配进行校验，还包括：
[0017]若所述待匹配图像与其他模板的重叠率均小于给定阈值，则校验通过，确定所述待匹配图像匹配成功。
[0018]在一种可能的实现方式中，所述基于所述待匹配图像与其他模板的重叠率，对匹
配进行校验，还包括：
[0019]若所述其他模板中存在与所述待匹配图像的重叠率不小于给定阈值的模板，将重叠率不小于所述给定阈值的模板与所述待匹配图像重新进行匹配；
[0020]若重叠率不小于所述给定阈值的模板中，存在与所述待匹配图像匹配成功的给定比例或给定数量以上的模板，则校验通过，确定所述待匹配图像匹配成功。
[0021]在一种可能的实现方式中，所述基于所述待匹配图像与其他模板的重叠率，对匹配进行校验，还包括：
[0022]若重叠率不小于所述给定阈值的模板均未与所述待匹配图像匹配成功，则校验未通过，确定待匹配图像匹配失败。
[0023]在一种可能的实现方式中，确定所述待匹配图像与所述多个模板之间的位置关系，包括：
[0024]在匹配的过程中获取所述匹配成功的模板与所述待匹配图像的位置关系；
[0025]结合所述匹配成功的模板与所述待匹配图像的位置关系，以及给定的所述多个模板之间的位置关系，确定所述待匹配图像与所述多个模板之间的位置关系
[0026]在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：
[0027]若所述待匹配图像与所述多个模板中的两个或两个以上的模板匹配成功，则确定待匹配图像匹配成功；
[0028]若所述待匹配图像与所述多个模板均未匹配成功，则确定待匹配图像匹配失败。
[0029]根据本公开的另一方面，提供了一种图像匹配装置，包括：
[0030]获取模块，用于获取待匹配图像；
[0031]匹配模块，用于将所述待匹配图像与多个模板进行匹配；
[0032]校验模块，用于在所述待匹配图像与所述多个模板中的一个模板匹配成功，与其他模板匹配失败的情况下，基于所述待匹配图像与其他模板的重叠率，对匹配进行校验；
[0033]确定模块，用于在校验通过的情况下，确定所述待匹配图像匹配成功。
[0034]根据本公开的另一方面，提出一种电子设备，包括：处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为在执行所述存储器存储的指令时，实现上述方法。
[0035]根据本公开的另一方面，提供了一种芯片，所述芯片包括上述装置。
[0036]基于此，本公开提供了一种图像匹配方法。首先获取待匹配图像，然后将待匹配图像与多个模板进行匹配。若待匹配图像与多个模板中的一个模板匹配成功，而与其他模板匹配失败，则基于待匹配图像与其他模板的重叠率，对匹配进行校验；在校验通过的情况下，确定所述待匹配图像匹配成功。本公开在单模板匹配成功的基础上，又进行了一次多模板校验，通过校验提高了匹配的准确率，降低了误匹配率，从而实现了图像的高精度匹配。
[0037]根据下面参考附图对示例性实施例的详细说明，本公开的其它特征及方面将变得清楚。
附图说明
[0038]包含在说明书中并且构成说明书的一部分的附图与说明书一起示出了本公开的示例性实施例、特征和方面，并且用于解释本公开的原理。
[0039]图1示出样本与模板不匹配，但部分区域存在较大相似性的示意图。
[0040]图2示出根据本公开一实施例的图像匹配方法的流程图。
[0041]图3a示出根据本公开一实施例的匹配校验的流程图。
[0042]图3b示出根据本公开一实施例的确定待匹配图像与多个模板之间的位置关系的示意图。
[0043]图4示出根据本公开实施例的一种电子设备1900的框图。
具体实施方式
[0044]以下将参考附图详细说明本公开的各种示例性实施例、特征和方面。附图中相同的附图标记表示功能相同或相似的元件。尽管在附图中示出了实施例的各种方面，但是除非特别指出，不必按比例绘制附图。
[0045]在本公开的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本公开和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本公开的限制。
[0046]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像匹配方法，其特征在于，所述方法包括：获取待匹配图像；将所述待匹配图像与多个模板进行匹配；在所述待匹配图像与所述多个模板中的一个模板匹配成功，与其他模板匹配失败的情况下，基于所述待匹配图像与其他模板的重叠率，对匹配进行校验；在校验通过的情况下，确定所述待匹配图像匹配成功。2.根据权利要求1所述的图像匹配方法，其特征在于，所述基于所述待匹配图像与其他模板的重叠率，对匹配进行校验，包括：确定所述待匹配图像与所述多个模板之间的位置关系；根据所述位置关系，确定所述待匹配图像与其他模板的重叠率；基于所述待匹配图像与其他模板的重叠率，对匹配进行校验。3.根据权利要求1或2所述的图像匹配方法，其特征在于，所述基于所述待匹配图像与其他模板的重叠率，对匹配进行校验，包括：若所述待匹配图像与其他模板的重叠率均小于给定阈值，则校验通过，确定所述待匹配图像匹配成功。4.根据权利要求1或2所述的图像匹配方法，其特征在于，所述基于所述待匹配图像与其他模板的重叠率，对匹配进行校验，还包括：若所述其他模板中存在与所述待匹配图像的重叠率不小于给定阈值的模板，将重叠率不小于所述给定阈值的模板与所述待匹配图像重新进行匹配；若重叠率不小于所述给定阈值的模板中，存在与所述待匹配图像匹配成功的给定比例或给定数量以上的模板，则校验通过，确定所述待匹配图像匹配成功。5.根据权利要求4所述的图像匹配方法，其特征在于，所述基于所述待匹配图像与其他模板的重叠率，对匹配进行...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈世林，
申请(专利权)人：北京集创北方科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：