解压缩电路、电路生成方法和IC芯片技术

一种解压缩电路、电路生成方法和IC芯片，涉及IC芯片测试领域，用于通过解压缩电路输出大量测试信号实现对IC芯片的器件进行测试。解压缩电路(12)包括多个子电路(30)，子电路(30)包括多个元胞自动机CA电路(301)，以及移相器(302)，CA电路(301)包括第一异或电路(XOR1)以及寄存器(R)，第一异或电路(XOR1)包括第一输入端；寄存器(R)的数据输入端被耦合至第一异或电路(XOR1)的输出端；寄存器(R)的数据输出端被耦合至第一异或电路(XOR1)的第一输入端，以及移相器(302)的一个输入端；寄存器(R)的数据输出端还被耦合至至少一个其他CA电路(301)中的第一异或电路(XOR1)的第二输入端；移相器(302)用于输出测试信号。(302)用于输出测试信号。(302)用于输出测试信号。(302)用于输出测试信号。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄宇，张威威，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：