一种射频组件功能和性能自动测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开一种射频组件功能和性能自动测试系统，包括测试底板CPU和信息采集ADC，所述测试底板CPU与所述信息采集ADC通过SPI接口电连接，所述测试底板CPU外部设置有QSPI存储器以及计算机，所述测试底板CPU与所述计算机通过通讯接口实现数据传输；所述信息采集ADC外部设置有用于射频组件的电压测试点，且所述信息采集ADC上设置有间接检测矢量信号源、信号功率、电压、电流、温度以及功率进行参数转换的传感器模组；本实用新型专利技术解决射频组件批量化生产时需要人工对其功能和性能逐一测试的问题，从而提高生产效率，模块的测试数据可以通过协议进行转换完成无纸化存储，便于后期的核对整理及状态跟踪。于后期的核对整理及状态跟踪。于后期的核对整理及状态跟踪。

【技术实现步骤摘要】
一种射频组件功能和性能自动测试系统


[0001]本技术涉及射频组件检测领域，具体涉及一种射频组件功能和性能自动测试系统。

技术介绍

[0002]由于射频放大器、混频器、锁相环等器件都有其相应的特征工作点，每个特征工作点一般都存在特定的工作电压，射频通道的增益可以通过对组件末端放大器输出功率进行检波后输出与之对应的等效工作电压，部分Power_Good等信号是一些固定的高低电平，这些特征值都可以通过ADC对其采集或者IO进行电平识别，从而判断组件的各个节点是否工作在正常状态，因此能够通过CPU获取相关节点的信息后与标准值进行比对，将异常值进行故障上报处理并指示出准确的故障位置，然而射频组件产品批量化生产时需要人工对其功能和性能进行逐一测试，人工劳动量大，造成生产效率低，同时测试结果信息需要人工记录存储，不利于产品质检信息的汇总分析。

技术实现思路

[0003]本技术的目的就在于为了解决上述问题而提供一种射频组件功能和性能自动测试系统，在不占用过多CPU资源的前提下实现射频组件功能和性能的自动测试，替代大部分采用人工的测试方法，同时能够适用集成式CPU以及非集成式CPU的信息采集以及读取方式，适用性更广，详见下文阐述。
[0004]为实现上述目的，本技术提供了以下技术方案：
[0005]本技术提供的一种射频组件功能和性能自动测试系统，包括测试底板CPU和信息采集ADC，所述测试底板CPU与所述信息采集ADC通过SPI接口电连接，所述测试底板CPU外部设置有QSPI存储器以及计算机，所述测试底板CPU与所述计算机通过通讯接口实现数据传输；
[0006]所述信息采集ADC外部设置有用于射频组件的电压测试点，且所述信息采集ADC上设置有间接检测矢量信号源电压、电流、温度以及功率进行参数转换的传感器模组。
[0007]采用上述一种射频组件功能和性能自动测试系统，对于集成CPU的射频组件而言，其各个测试点直接测试器件特性工作点的电压，可以直接和信息采集ADC连接，需要间接测量的参数通过信息采集ADC的多个传感器检测转换后进入信息采集ADC，SPI通信接口是信息采集ADC与测试底板CPU的通信渠道，采集到的信息通过SPI接口向测试底板CPU进行传输，部分电平状态指示可以直接(或者电平转换后)接入CPU的IO进行处理；
[0008]对于没有集成CPU的射频组件可以将采用上、下探针工装与各个测试点相连接，采用测试底板+CPU+探针的方式进行信息采集；
[0009]在系统设计时需要提前设定组件和内部关键器件的正常工作状态，这样测试底板CPU正常工作后就会对组件的状态进行检查，当出现异常状态时就会上报故障标志位，故障标志位有外部指示等和协议标志信息，当故障出现通过对应地查找相应的标志位即可快速
地对故障类型进行定位，在测试底板CPU完成所有的状态信息收集后会控制done标志灯亮起，测试完成后测试底板CPU将输出的数据与标准数据进行对比，消除系统的误差就可以得出射频组件是否正常的结论。
[0010]作为优选，所述测试底板CPU外部电连接有并列分布的故障指示灯、正常指示灯以及done标志灯，且所述测试底板CPU上方设置有状态标志位、RF故障标志位以及锁定指示模块。
[0011]作为优选，所述矢量信号源输出端电连接待测试模块，且该待测试模块下方通过测试探头连接有测试底板，所述测试探头为互联插头或测试探针。
[0012]作为优选，所述测试底板外侧设置有用以向该测试底板进行供电的电源，且所述测试底板外侧与所述计算机电连接实现数据通信。
[0013]作为优选，所述矢量信号源输出端电连接待测试模块，所述待测试模块外侧设置有电源，且所述待测试模块与所述计算机电连接实现数据通信。
[0014]作为优选，所述测试底板CPU与所述QSPI存储器通过SPI接口电连接。
[0015]作为优选，所述测试底板CPU内部集成有检波器。
[0016]有益效果在于：本技术通过采集ADC将间接和直接测量到的电压信息转换为数字模式后，MCU通过四线制SPI将对应的信息读取出来，存储在QSPI存储器中或者根据自定义协议输出，输出数据中还包含MCU通过IO采集的高低电平等状态信息，这些状态信息包含射频组件内部关键单元正常工作和标志位(如电源的Power good、PLL的锁定指示、PA电源是否开启等)；
[0017]射频组件编号、组件生产日期等初始状态信息以固定的地址进行存储在QSPI存储器中，射频组件每次上电后即对外输出相关的信息，做到射频组件的身份即时识别。对于独立运行的射频组件其组件编号信息可以通过约定协议写入到QSPI存储器，做到组件编号的即时关联，便于组件批量化管理；
[0018]解决射频组件批量化生产时需要人工对其功能和性能进行逐一测试的问题，释放检测工序位置的人力投入，从而提高生产效率，以及模块的测试数据可以通过协议进行转换完成无纸化存储，便于后期的核对整理及状态跟踪。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1是本技术的结构框图；
[0021]图2是本技术未集成CPU的射频组件简化的测试框图；
[0022]图3是本技术集成CPU的射频组件简化的测试框图。
[0023]附图标记说明如下：
[0024]1、测试底板CPU；101、故障指示灯；102、正常指示灯；103、done标志灯；2、信息采集ADC；3、QSPI存储器；4、计算机；5、通讯接口；6、待测试模块；7、矢量信号源；8、电源；9、测试底板；901、测试探头。
具体实施方式
[0025]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本技术的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本技术所保护的范围。
[0026]参见图1
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图3所示，本技术提供了一种射频组件功能和性能自动测试系统，包括测试底板CPU1和信息采集ADC2，测试底板CPU1与信息采集ADC2通过SPI接口电连接，测试底板CPU1外部设置有QSPI存储器3以及计算机4，测试底板CPU1与计算机4通过通讯接口5实现数据传输；
[0027]信息采集ADC2外部设置有用于射频组件的电压测试点，且信息采集ADC2上设置有间接检测矢量信号源7电压、电流、温度以及功率进行参数转换的传感器模组。
[0028]作为可选的实施方式，测试底板CPU1外部电连接有并列分布的故障指示本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频组件功能和性能自动测试系统，其特征在于：包括测试底板CPU和信息采集ADC，所述测试底板CPU与所述信息采集ADC通过SPI接口电连接，所述测试底板CPU外部设置有QSPI存储器以及计算机，所述测试底板CPU与所述计算机通过通讯接口实现数据传输；所述信息采集ADC外部设置有用于射频组件的电压测试点，且所述信息采集ADC上设置有间接检测矢量信号源信号功率、电压、电流、温度以及功率进行参数转换的传感器模组。2.根据权利要求1所述一种射频组件功能和性能自动测试系统，其特征在于：所述测试底板CPU外部电连接有并列分布的故障指示灯、正常指示灯以及done标志灯，且所述测试底板CPU上方设置有状态标志位、RF故障标志位以及锁定指示模块。3.根据权利要求2所述一种射频组件功能和性能自动测试系统，其特征在于：所述矢...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴鹏，冯璐，仝海波，甘佳辉，张骏丰，李润东，任志鹏，
申请(专利权)人：长沙学院，
类型：新型
国别省市：