可调节式防脱芯片测试插座制造技术

本实用新型专利技术揭示了一种可调节式防脱芯片测试插座，包括底座和上盖，上盖的下方弹性连接有压块，上盖的轴心螺接有螺轴，螺轴的顶部通过螺栓与旋钮连接；螺轴和旋钮之间同轴设置有行程调节盘，旋钮和行程调节盘之间穿设有定位销，上盖和行程调节盘之间形成第一行程限位机构，第一形成限位机构包括第一限位销和第一限位槽，第一限位销滑动卡设于第一限位槽内以限定行程调节盘的旋转行程；行程调节盘与旋钮之间设置有第二行程限位机构，第二行程限位机构包括第二限位销和第二限位槽，第二限位销滑动卡设于第二限位槽内以限定旋钮的旋转行程。本实用新型专利技术设置行程调节盘调节来适配不同厚度的芯片；设置第二行程限位机构来防止所述螺轴与螺孔脱开。轴与螺孔脱开。轴与螺孔脱开。

【技术实现步骤摘要】
可调节式防脱芯片测试插座


[0001]本技术涉及芯片测试装置
，具体地涉及一种可调节式防脱芯片测试插座。

技术介绍

[0002]电子芯片生产完成后需要进行检测来筛选出良品。由于芯片本身的体积较小，在进行测试时，需要使用测试插座来对芯片进行定位，来便于将检测模具的探针准确对准芯片进行测试。传统的测试设备只能同一个测试设备应用于一种厚度的芯片测试，即使同样长宽尺寸的芯片，由于芯片厚度不同，也需要制作新的插座盖来保证精密测量，造成成本过高。
[0003]针对测试设备的测试厚度固定问题，如公告号CN104535800B、公告号CN217034043U揭示的，现有的测试插座通常会设置一个与壳体螺纹连接的移动件，通过旋转来推动压块压紧芯片，并设置一个通过旋转调节的刻度盘进行高度调节来适配不同厚度的芯片。但在实际使用中，为了节约空间缩小体积，移动件的轴向长度较短，使得移动件在调节过程中或者复位过程中，非常容易因为旋转过度，而直接与壳体脱开，这样一方面会需要再次安装导致调节过程繁琐，另一方面会使得刻度盘脱离初始位置，需要重新调节适配高度，造成极大不便。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是克服现有技术存在的不足，提供一种可调节式防脱芯片测试插座。
[0005]本技术的目的通过以下技术方案来实现：
[0006]可调节式防脱芯片测试插座，包括中空的底座和与之一侧枢轴连接的上盖，二者的另一侧通过卡扣相卡接，所述上盖的轴心形成有螺孔，所述螺孔的下方弹性连接有压块，所述螺孔螺接有螺轴，所述螺轴的顶部通过螺栓与旋钮连接，所述旋钮通过旋转驱动所述螺栓相对所述螺孔做轴向移动，并带动所述压块同步做轴向移动来压紧或松开芯片；所述螺轴和旋钮之间同轴设置有行程调节盘，所述旋钮和行程调节盘之间穿设有一用于限定所述行程调节盘的定位销，所述上盖和所述行程调节盘之间形成第一行程限位机构，所述第一形成限位机构包括固设于所述上盖顶部的第一限位销和设置于所述行程调节盘的背面的圆弧形的第一限位槽，所述第一限位销滑动卡设于所述第一限位槽内以限定所述行程调节盘的旋转行程；所述行程调节盘与所述旋钮之间设置有第二行程限位机构，所述第二行程限位机构包括固设于所述行程调节盘上的第二限位销和设置于所述旋钮的背面的圆弧形的第二限位槽，所述第二限位销滑动卡设于所述第二限位槽内以限定所述旋钮的旋转行程。
[0007]优选的，所述定位销的顶部固接有拉手，所述定位销上套设有复位弹簧，所述拉手外凸于所述旋钮的顶面，所述行程调节盘上沿其边沿均布有一组插孔，所述定位销通过竖
直拉动所述拉手来选择性地插入所述插孔内，以对所述行程调节盘进行定位。
[0008]优选的，所述旋钮的顶部圆周均布有一组凸块，其中一个所述凸块上设置有矩形孔，所述拉手的底部与所述矩形孔相适配并卡设于所述矩形块内。
[0009]优选的，所述上盖的背面设置有与所述螺孔正对的压块固定块，所述压块固定块的边角通过一组第一弹簧、台阶螺丝与所述上盖弹性连接，所述压块设置于所述压块固定块的背面。
[0010]优选的，所述压块固定块的背面设置有一组连接螺栓，所述压块的两端活动套设于所述连接螺栓上，所述压块的内部中空，且其中空内部内置有一组第二弹簧，所述第二弹簧的两端分别与所述压块固定块、压块抵接。
[0011]优选的，所述第二限位槽的度数为180
°
。
[0012]优选的，所述旋钮的轴心具有凹槽，所述螺轴的顶部轴心具有与所述凹槽相匹配的凸块，所述凸块卡设于所述凹槽内；所述螺轴的顶部具有台阶面，所述台阶面的外壁具有螺纹，所述行程调节盘与所述台阶面螺接。
[0013]优选的，所述行程调节盘上设置有刻度值，所述旋钮上设置有用于显示所述刻度值的通孔。
[0014]优选的，所述上盖与所述底座之间通过第一转轴销竖直连接，所述第一转轴销上设置有一组扭簧。
[0015]优选的，所述卡扣通过第二转轴销与所述上盖的侧部枢轴连接，所述卡口与所述上盖之间垂直抵接有第三弹簧
[0016]本技术的有益效果主要体现在：
[0017]1、设置第一行程限位机构来限定所述行程调节盘的旋转行程，并使用定位销对行程调节盘进行定位，使得行程调节盘可以根据芯片的厚度需求进行调节螺轴的行程距离，以对不同厚度的芯片进行精准定位；设置第二行程限位机构来限定所述旋钮的旋转行程，并优选限定所述旋钮旋转最大范围为180
°
，使得当定位销与行程调节盘分离后，来限定所述旋钮带动螺轴同步反向转动时，防止所述螺轴与螺孔脱开，进而提高所述螺轴复位或行程调节盘调节的效率；
[0018]2、通过第一弹簧、第二弹簧来弹性连接压块固定块和压块，保证压块地芯片始终产生向下的压力，来保证对芯片定位的稳定性，补偿探针或导电胶因长时间工作产生的弹力疲劳。
附图说明
[0019]下面结合附图对本技术技术方案作进一步说明：
[0020]图1：本技术实施例中上盖和底座卡接状态下的示意图；
[0021]图2：本技术实施例中上盖和底座分离状态下的示意图；
[0022]图3：本技术实施例的爆炸示意图；
[0023]图4：本技术实施例另一个方向的爆炸示意图；
[0024]图5：本技术实施例中旋钮的背面示意图；
[0025]图6：本技术实施例的剖视图。
具体实施方式
[0026]以下将结合附图所示的具体实施方式对本技术进行详细描述。但这些实施方式并不限于本技术，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本技术的保护范围内。
[0027]在方案的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。并且，在方案的描述中，以操作人员为参照，靠近操作者的方向为近端，远离操作者的方向为远端。
[0028]如图1至图6所示，本技术揭示了一种可调节式防脱芯片测试插座，包括中空的底座16和与之一侧枢轴连接的上盖1，二者的另一侧通过卡扣4相卡接，所述上盖1的轴心形成有螺孔101，所述螺孔101的下方弹性连接有压块14，所述螺孔101螺接有螺轴3，所述螺轴3的顶部通过螺栓12与旋钮6连接，所述旋钮6通过旋转驱动所述螺栓12相对所述螺孔101做轴向移动，并带动所述压块14同步做轴向移动来压紧或松开芯片；所述螺轴3和旋钮6之间同轴设置有行程调节盘5，所述旋钮6和行程调节盘5之间穿设有一用于限定所述行程调节盘5的定位销7，所述上盖1和所述行程调节盘5之间形成第一行程限位机构，所述第一形成本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.可调节式防脱芯片测试插座，包括中空的底座（16）和与之一侧枢轴连接的上盖（1），二者的另一侧通过卡扣（4）相卡接，其特征在于：所述上盖（1）的轴心形成有螺孔（101），所述螺孔（101）的下方弹性连接有压块（14），所述螺孔（101）螺接有螺轴（3），所述螺轴（3）的顶部通过螺栓（12）与旋钮（6）连接，所述旋钮（6）通过旋转驱动所述螺栓（12）相对所述螺孔（101）做轴向移动，并带动所述压块（14）同步做轴向移动来压紧或松开芯片；所述螺轴（3）和旋钮（6）之间同轴设置有行程调节盘（5），所述旋钮（6）和行程调节盘（5）之间穿设有一用于限定所述行程调节盘（5）的定位销（7），所述上盖（1）和所述行程调节盘（5）之间形成第一行程限位机构，所述第一行程限位机构包括固设于所述上盖（1）顶部的第一限位销（9）和设置于所述行程调节盘（5）的背面的圆弧形的第一限位槽（501），所述第一限位销（9）滑动卡设于所述第一限位槽（501）内以限定所述行程调节盘（5）的旋转行程；所述行程调节盘（5）与所述旋钮（6）之间设置有第二行程限位机构，所述第二行程限位机构包括固设于所述行程调节盘（5）上的第二限位销（13）和设置于所述旋钮（6）的背面的圆弧形的第二限位槽（601），所述第二限位销（13）滑动卡设于所述第二限位槽（601）内以限定所述旋钮（6）的旋转行程。2.根据权利要求1所述的可调节式防脱芯片测试插座，其特征在于：所述定位销（7）的顶部固接有拉手（8），所述定位销（7）上套设有复位弹簧（10），所述拉手（8）外凸于所述旋钮（6）的顶面，所述行程调节盘（5）上沿其边沿均布有一组插孔（502），所述定位销（7）通过竖直拉动所述拉手（8）来选择性地插入所述插孔（502）内，以对所述行程调节盘（5）进行定位。3.根据权利要求2所述的可调节式防脱芯片测试插座，其特征在于：所述旋钮（6）的顶部圆周均布有一组凸块（602），其中一个所述凸块（602...

【专利技术属性】
技术研发人员：李冰，王新丽，
申请(专利权)人：苏州运道电子有限公司，
类型：新型
国别省市：