【技术实现步骤摘要】
一种电解质初晶温度检测分析方法
[0001]本申请涉及铝冶炼领域
,具体而言,涉及一种电解质初晶温度检测分析方法。
技术介绍
[0002]初晶温度是电解质的一个重要参数。无论是研究电解质的物化性能还是指导铝电解生产的参数调整,准确测量电解质初晶温度都非常重要。电解质初晶温度的测量通常采用步冷曲线法或差热分析法,即先将电解质在一个耐高温的坩埚内熔化,然后由浸入电解质熔体内的测温元件跟踪电解质温度的变化,由于电解质相变凝固过程中放热,电解质的降温曲线上会出现温度“平台”或“拐点”,从而确定电解质初晶温度。
[0003]对于传统的铝电解过程,电解质主要为钠冰晶石
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氧化铝体系,由于电解质组分相对单一,电解质熔体降温曲线上的温度“平台”或“拐点”比较明显清晰,采用步冷曲线法或差热分析法非常容易测量。但随着电解质体系的复杂化,高锂钾电解质逐步增多,电解质中的锂钾氟化物在电解质降温凝固过程,以KAlF4、LiFAlF4、LiNa2AlF6、NaLi2AlF6、K2NaAlF6、K2LiAlF6等物相形式出 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电解质初晶温度检测分析方法,其特征在于,所述检测分析方法利用电解质熔体在初晶温度以下呈浑浊状态与在初晶温度以上呈清澈状态时,电解质熔体的电导率随温度变化的差异,确定电解质初晶温度,所述检测分析方法包括:将待测电解质制粉,用坩埚盛装并加热,获取所述待测电解质的熔体浑浊温度和熔体清澈温度;根据所述熔体浑浊温度和所述熔体清澈温度确定测量温度区间,绘制在所述测量温度区间内的电导率变化曲线;根据所述电导率变化曲线,确定所述待测电解质的初晶温度;其中,所述浑浊温度用于表征所述待测电解质处于浑浊状态时对应的任意一个温度,所述清澈温度用于表征所述待测电解质处于清澈状态时对应的任意一个温度,所述浑浊状态是指所述待测电解质已成为液体状态,但仍有悬浮的未熔或结晶的细小颗粒,灯光照射时不完全透明,看不到坩埚底部,所述清澈状态是指所述待测电解质完全熔化成为液体,无悬浮的未熔或结晶的细小颗粒,灯光照射时透明,可见坩埚底部。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将待测电解质...
【专利技术属性】
技术研发人员:包生重,张芳芳,罗丽芬,侯光辉,陈开斌,王怀江,石序,李静,
申请(专利权)人:中铝郑州有色金属研究院有限公司,
类型:发明
国别省市:
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