本申请实施例提供了一种检测装置及方法，装置包括：固定结构及至少一个检测结构；所述固定结构，用于固定待测显示基板，所述待测显示基板包括按照预设次序设置的至少两个绑定部；所述至少两个绑定部中任意两个位置相邻的绑定部能够与同一个所述检测结构建立信号连接；所述检测结构，用于通过与其建立信号连接的所述绑定部和/或者其余所述检测结构，分别按照所述预设次序和所述预设次序的倒序，将所述检测信号传输至每个所述绑定部，以实现对所述待测显示基板的电学检测。本申请实施例使输入各绑定部的检测信号可以叠加，进而在幅值上相同或相近，在保证电学检测全面有效的情况下，提高电学检测结果的准确度。提高电学检测结果的准确度。提高电学检测结果的准确度。
【技术实现步骤摘要】
一种检测装置及方法
[0001]本申请实施例涉及显示器件
，尤其涉及一种检测装置以及一种检测方法。
技术介绍
[0002]显示屏幕在制造过程中往往需要对显示器件进行电学检测(Electric Test,ET)，以判断显示器件的各方面功能是否正常。比如，通过让显示器件显示红色画面，判断显示器件在显示红色光时是否存在坏点或者判断整体亮度均匀性。尤其对于大尺寸的显示屏幕产品来说，由于单片面积更大，为避免其他显示设备材料的浪费，显示器件的电学检测尤为重要。然而，目前针对显示器件的电学检测，仍然存在弊端：由于检测线路自身存在电阻，检测信号在流经显示器件各区域的时候会发生信号衰减，由此导致检测开始之后显示屏幕各区域的亮度逐渐下降，整个发光区域的亮度严重不均衡，甚至在发光时形成多个亮度不同的区域，也就是出现“分屏”现象，严重影响电学检测结果的准确性。
[0003]需要说明的是，在上述
技术介绍
区分专利技术的信息仅用于加强对本专利技术的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供了一种检测装置以及一种检测方法，旨在使传输至显示基板的各绑定部的检测信号相同或者相近，在保证全面有效的电学检测的情况下，提高显示区域的发光亮度的均一性，从而提高电学检测结果的准确度。
[0005]在一方面，本申请实施例提供了一种检测装置，所述装置包括：固定结构及至少一个检测结构；
[0006]所述固定结构，用于固定待测显示基板，所述待测显示基板包括按照预设次序设置的至少两个绑定部；所述至少两个绑定部中任意两个位置相邻的绑定部能够与同一个所述检测结构建立信号连接；
[0007]所述检测结构，用于通过与其建立信号连接的所述绑定部和/或者其余所述检测结构，分别按照所述预设次序和所述预设次序的倒序，将所述检测信号传输至每个所述绑定部，以实现对所述待测显示基板的电学检测。
[0008]可选地，所述检测结构的数量大于或者等于2，并且，所述绑定部的数量大于或者等于3。
[0009]可选地，所述绑定部按照所述预设次序沿所述待测显示基板的一侧边缘并列排布；
[0010]其中，所述检测结构能够置于位置相邻的两个所述绑定部之间，以使所述任意两个位置相邻的绑定部与同一个所述检测结构建立信号连接。
[0011]可选地，所述检测结构包括：两个第一检测探针；所述绑定部包括：第一检测引脚；
[0012]任一所述检测结构的两个第一检测探针能够分别与两个位置相邻的所述绑定部
的第一检测引脚接触，以使该两个位置相邻的所述绑定部与同一个所述检测结构建立信号连接。
[0013]可选地，位于所述预设次序的首尾位置的所述绑定部具有一个第一检测引脚，其余所述绑定部具有两个第一检测引脚；
[0014]其中，其余所述绑定部的两个所述第一检测引脚分别能够用于与两个所述检测结构的所述第一检测探针建立信号连接。
[0015]可选地，任一所述检测结构还包括：检测焊盘；
[0016]其中，所述检测焊盘连接两个所述第一检测探针，以传输所述检测信号，使当前的所述检测结构所输出的所述检测信号，能够分别按照所述预设次序和所述预设次序的倒序，经由与其建立信号连接的所述绑定部和/或者其余所述检测结构，传输至各所述绑定部。
[0017]可选地，所述待测显示基板包括：级联电路；各所述绑定部按照所述预设次序两两之间通过所述级联电路建立信号连接；各所述级联电路上设置有第二检测引脚；
[0018]所述检测结构包括：第二检测探针；
[0019]其中，所述检测结构的第二检测探针能够与所述级联电路上的第二检测引脚接触，以使该检测结构能够与两个位置相邻的所述绑定部建立信号连接。
[0020]可选地，所述待测显示基板还包括：显示区；
[0021]所述检测信号包括点亮检测信号，用于检测所述显示区的发光功能。
[0022]可选地，所述待测显示基板还包括：围绕所述显示区的非显示区；所述非显示区包括：扇出区；
[0023]所述检测信号包括扇出区检测信号，用于检测所述扇出区的功能电路是否短路。
[0024]可选地，所述点亮检测信号包括：第一色彩点亮信号、第二色彩点亮信号和第三色彩点亮信号；
[0025]所述点亮检测信号，还用于检测所述显示区在显示预设色彩的情况下的发光功能；
[0026]其中，所述预设色彩包括：第一色彩、第二色彩和第三色彩。
[0027]可选地，所述显示区包括：至少两个子显示区，各所述绑定部分别与各所述子显示区的功能电路连接；
[0028]其中，任意两个所述绑定部接收的所述检测信号的电压幅值之间的差值百分比小于第一预设比例，并且，任意两个所述子显示区的平均亮度之间的差值百分比小于第二预设比例。
[0029]可选地，所述显示基板包括：目标电极；
[0030]所述检测信号包括：目标电极检测信号，用于检测所述目标电极的功能。
[0031]可选地，所述检测装置还包括：
[0032]压合结构，用于承载并移动所述检测结构，并通过压合的方式使所述检测结构与所述绑定部形成电学接触，使任意两个位置相邻的所述绑定部能够与同一个所述检测结构建立信号连接。
[0033]可选地，所述检测装置还包括：
[0034]信号源，与所述检测结构建立信号连接，用于生成所述检测信号和向所述检测结
构传输所述检测信号。
[0035]与现有技术相比，本申请实施例提供的检测装置具有以下优点：
[0036](1)本申请实施例通过各检测结构与具有相邻所述预设次序的两个绑定部建立信号连接，并输入检测信号，使检测信号能够沿所述预设次序和/或者所述预设次序的倒序，传输至各所述绑定部，由于各绑定部接收的检测信号可以包括直接由与其连接的检测结构输出的检测信号，还可以包括间接连接的其他检测结构输出的沿预设次序和/或者预设次序的倒序传输的检测信号，则传输至显示基板的各绑定部的检测信号是来自所有检测结构输出的检测信号的叠加信号，该叠加信号的电压幅值在各绑定部相同或者相近，由此使得输入待测显示基板各子显示区域的检测信号的电压幅值相同或相近，进而提高了显示区域的发光亮度的均一性，而电学检测中对于各子显示区域的发光亮度的检测是很重要的一项，因此，避免输入各绑定部的信号幅值的差异过大，就有助于避免发光亮度的检测受到影响，由此能够提高电学检测结果的准确度。
[0037](2)由于本申请实施例从显示基板的数据绑定侧输入检测信号，适应了显示基板的结构设计，能够检测显示基板的扇出区是否短路，因此可以实现全面有效的电学检测。
[0038]在又一方面，本申请实施例还提供了一种检测方法，
[0039]将待测显示基板固定于固定结构，所述待测显示基板包括按照预设次序设置的至少两个绑定部；
[0040]所述至少两个绑定部中任意两个位置相邻的绑定部与同一个所述检测结构建立信号连接；本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种检测装置，其特征在于，所述装置包括：固定结构及至少一个检测结构；所述固定结构，用于固定待测显示基板，所述待测显示基板包括按照预设次序设置的至少两个绑定部；所述至少两个绑定部中任意两个位置相邻的绑定部能够与同一个所述检测结构建立信号连接；所述检测结构，用于通过与其建立信号连接的所述绑定部和/或者其余所述检测结构，分别按照所述预设次序和所述预设次序的倒序，将所述检测信号传输至每个所述绑定部，以实现对所述待测显示基板的电学检测。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测结构的数量大于或者等于2，并且，所述绑定部的数量大于或者等于3。3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述绑定部按照所述预设次序沿所述待测显示基板的一侧边缘并列排布；其中，所述检测结构能够置于位置相邻的两个所述绑定部之间，以使所述任意两个位置相邻的绑定部与同一个所述检测结构建立信号连接。4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述检测结构包括：两个第一检测探针；所述绑定部包括：第一检测引脚；任一所述检测结构的两个第一检测探针能够分别与两个位置相邻的所述绑定部的第一检测引脚接触，以使该两个位置相邻的所述绑定部与同一个所述检测结构建立信号连接。5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，位于所述预设次序的首尾位置的所述绑定部具有一个第一检测引脚，其余所述绑定部具有两个第一检测引脚；其中，其余所述绑定部的两个所述第一检测引脚分别能够用于与两个所述检测结构的所述第一检测探针建立信号连接。6.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述检测结构还包括：检测焊盘；其中，所述检测焊盘连接两个所述第一检测探针，以传输所述检测信号，使当前的所述检测结构所输出的所述检测信号，能够分别按照所述预设次序和所述预设次序的倒序，经由与其建立信号连接的所述绑定部和/或者其余所述检测结构，传输至各所述绑定部。7.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述待测显示基板包括：级联电路；各所述绑定部按照所述预设次序两两之间通过所述级联电路建立信号连接；各所述级联电路上设置有第二检测引脚；所述检测结构包括：第二检测探针；其中，所述检测结构的第二检测探针能够与所述级联电路上的第二检测引...
【专利技术属性】
技术研发人员：张武霖，张勇，郝龙虎，唐亮珍，许星，于洪俊，王宇杰，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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