一种基于低频漏磁检测的无损检测夹制造技术

技术编号:38022884 阅读:12 留言:0更新日期:2023-06-30 10:49
本发明专利技术公开了一种基于低频漏磁检测的无损检测夹。由电源、液晶显示屏、检测线圈、扭盘、激励线圈、磁轭、配节、功率放大器、激励信号发生器、stm32开发板、手提圈、处理器组成,电源通过stm32开发板调节为合适的电压,使激励信号发生器产生正弦信号,经功率放大器放大,信号通过激励线圈会在空间产生磁场,将被检测试件饱和磁化,若检测试件表面存在缺陷,则会有磁力线溢出。通过扭转扭盘上的指针带动检测线圈旋转检测不同方向的磁场分量,检测信号通过处理器进行信号处理,将处理获得的缺陷的位置和深度通过液晶显示屏显示出来。本发明专利技术提供了一种基于低频漏磁检测的无损检测夹,具有高精度、轻巧、易携带的优点,对金属承压设备探伤具有良好前景。有良好前景。有良好前景。

【技术实现步骤摘要】
一种基于低频漏磁检测的无损检测夹
[0001]本专利技术属于电磁无损检测领域,具体属于一种基于低频漏磁检测的无损检测夹。

技术介绍

[0002]我国传统金属承压设备行业规模巨大,但传统承压设备往往以铁磁性物质为制作材料,大范围地应用于高压、强腐蚀的工作环境,因此容易出现不同程度的腐蚀和挤压。这些损伤严重危害经济、社会的安全运行,因此,针对铁磁性材料铸成的压力管道等承压设备开展早期安全诊断于评估,研发相关的检测仪器,防止恶性事故的发生具有重要意义。
[0003]传统的电磁传感器的检测能力往往受到磁化装置中的磁轭的形状、尺寸及激励线圈绕线匝数等因素的影响,而且容易受到趋肤效应的影响,对诊断铁磁性金属内部埋藏较深的缺陷能力有限。

技术实现思路

[0004]为了解决上述问题,本专利技术的目的在于提供一种基于低频漏磁检测技术的无损检测夹,采用较为低的激励频率,增加电磁波的穿透深度,优化了传感器实验条件参数,并通过改变外在条件参数增大了电磁场在待测试件的趋肤深度。通过相关仿真实验和实际测试实验的研究,该装置可以对待检设备的深度内部腐蚀缺陷进行检测。
[0005]本专利技术通过以下技术方案实现:工作时,磁轭(6)与被检测试件表面接触,电源(1)通过stm32开发板(10)调节为合适的电压,再通过激励信号发生器(9)产生频率可调交流信号,经过功率放大器(8)放大后,信号通过激励线圈(5)后会在空间产生磁场,将被检测试件饱和磁化,若检测试件表面存在缺陷,则会有磁力线溢出,通过扭转扭盘(4)上的指针带动检测线圈(5)旋转检测不同方向的磁场分量,检测信号通过处理器(12)进行信号处理和算法处理,将处理后获得的缺陷的位置和深度并通过液晶显示屏(2)显示出来,通过配节(7)可以进行伸缩。
[0006]本专利技术的工作原理是:激励线圈在较低频率下激发产生一个电磁场,通过功率放大器进而将被检测试件饱和磁化。被检测试件饱和磁化后,如果试件表面出现缺陷,由于缺陷处空气的磁导率低于金属试件,原先沿着试件表面传输的磁感线会尽最大努力绕过空气缺陷,向内部渗透一定的距离后又回到试件表面传输。由于短时间内,大量磁感线都绕过了空气缺陷,导致空气缺陷底部附近区域出现磁饱和效应,致使一些磁感线不得不溢出试件表面,在空气中传播一定距离后又回到试件表面。这时,置于试件表面附近的磁敏原件检测到这些泄露的磁感线,漏磁场的特征参量,反映了缺陷的信息,从而得到被检测试件损伤的位置和深度。
[0007]所述连接结构是封装好的连接各装置,用来传输信号,进行控制的绝缘导线。
[0008]所述的一种基于低频漏磁检测的无损检测夹,其特征在于:转动扭盘(5)上标刻有度数从0
°
到360
°
,当指针指向0
°
或者180
°
时,可检测全局磁场切向分量,当指针指向90
°
或者270
°
时,可检测缺陷深度。
[0009]所述的一种基于低频漏磁检测的无损检测夹,其特征在于:配节(7)最大伸长长度
为20cm。
[0010]本专利技术的有益效果是:采用较为低的激励频率,增加电磁波的穿透深度,优化了传感器实验条件参数,并通过改变外在条件参数增大了电磁场在待测试件的趋肤深度。通过相关仿真实验和实际测试实验的研究,该装置可以对待检设备的深度内部腐蚀缺陷进行检测,实现了对待测试件缺陷高灵敏度、实时性、安全稳定、操作简单的测量,具有良好的实际应用前景和工业价值。
附图说明
[0011]图1是一种基于低频漏磁检测的无损检测夹装置图。
[0012]图2是一种基于低频漏磁检测装置的信号处理示意图。
具体实施方式
[0013]本专利技术属于一种基于低频漏磁检测的无损检测夹,由电源(1)、液晶显示屏(2)、检测线圈(3)、扭盘(4)、激励线圈(5)、磁轭(6)、配节(7)、功率放大器(8)、激励信号发生器(9)、stm32开发板(10)、手提圈(11)、处理器(12)组成;工作时,磁轭(6)与被检测试件表面接触,电源(1)通过stm32开发板(10)调节为合适的电压,再经过激励信号发生器(9)产生频率可调交流信号,经过功率放大器(8)放大后,信号通过激励线圈(5)后会在空间产生磁场,将被检测试件饱和磁化,若检测试件表面存在缺陷,则会有磁力线溢出,通过扭转扭盘(4)上的指针带动检测线圈(5)旋转检测不同方向的磁场分量,检测信号通过处理器(12)进行信号处理和算法处理,将处理后获得的缺陷的位置和深度并通过液晶显示屏(2)显示出来,通过配节(7)可以进行伸缩,使磁轭接触人难以触及的位置,使检测更全面。
[0014]所述配节和手提圈的材料为环氧玻纤。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于低频漏磁检测的无损检测夹,由电源(1)、液晶显示屏(2)、检测线圈(3)、扭盘(4)、激励线圈(5)、磁轭(6)、配节(7)、功率放大器(8)、激励信号发生器(9)、stm32开发板(10)、手提圈(11)、处理器(12)组成;其特征在于:磁轭(6)与被检测试件表面接触,电源(1)通过stm32开发板(10)调节为合适的电压,再通过激励信号发生器(9)产生频率可调交流信号,经过功率放大器(8)放大后,信号通过激励线圈(5)后会在空间产生磁场,将被检测试件饱和磁化,若检测试件表面存在缺陷,则会有磁力线溢出,通过扭转扭盘(4)上的指针带动检测线圈(5)旋转检测不同方向的磁场分量,检测信号通过处理器(12)进行信号处理和算法处理,将处理后获得的缺陷的位置和深度并通过液晶显示屏(2)显示出来,通过配节(7)可以进行伸缩。2.根据权利要求1所述的一种基于低频漏磁检测技术的无损检测夹,...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱彬沈常宇王兆坤周俊
申请(专利权)人:中国计量大学
类型:发明
国别省市:

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