非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法及装置制造方法及图纸

本说明书实施例提供了一种非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法及装置，其中，方法包括：对失效原因进行定义，建立失效事件与失效原因之间的关联；针对共因失效对称性确定非对称类型；根据同一个失效原因引发多个元件发生失效，确定共因失效单元组；确定所述共因失效单元组之间耦合强度系数；对失效原因条件概率、失效原因存在时单元发生失效的概率和耦合强度系数进行参数评估；根据失效事件与失效原因之间的关联、非对称类型、共因失效单元组、失效原因条件概率、失效原因存在时单元发生失效的概率和耦合强度系数建立非对称共因失效条件下系统可靠性模型。条件下系统可靠性模型。条件下系统可靠性模型。

【技术实现步骤摘要】
非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法及装置


[0001]本文件涉及计算机
，尤其涉及一种非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法及装置。

技术介绍

[0002]目前，关于共因失效研究方法的局限性如下：传统的概率风险评估(PRAs)方法通过故障树和事件树中的确定性关系以及共因失效(CCF)事件的确定性参数模型建立相关关系。常规的CCF模型不能量化相关性单元之间的防护机制，并且仅适用于冗余系统中的相同组件。其次，常规CCF模型假设共因失效对各元件的影响相同，也就是共因失效引发元件失效概率相同，该假设称为“对称性条件”。如现有研究共因失效常用的α参数模型，就是建立“对称性条件”下。“对称性条件”使得参数估计程序变得简单且广泛适用。但针对具有相关性的不同单元组成的系统来说，“对称性”处理就不适用了。因此，目前亟需一种非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法及装置，旨在解决现有技术中的上述问题。
[0004]本专利技术提供一种非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法，包括：
[0005]对失效原因进行定义，建立失效事件与失效原因之间的关联；
[0006]针对共因失效对称性确定非对称类型；
[0007]根据同一个失效原因引发多个元件发生失效，确定共因失效单元组；
[0008]确定所述共因失效单元组之间耦合强度系数；
[0009]对失效原因条件概率、失效原因存在时单元发生失效的概率和耦合强度系数进行参数评估；
[0010]根据失效事件与失效原因之间的关联、非对称类型、共因失效单元组、失效原因条件概率、失效原因存在时单元发生失效的概率和耦合强度系数建立非对称共因失效条件下系统可靠性模型。
[0011]本专利技术提供一种非对称共因失效条件下系统可靠性建模装置，包括：
[0012]定义模块，用于对失效原因进行定义，建立失效事件与失效原因之间的关联；
[0013]非对称类型确定模块，用于针对共因失效对称性确定非对称类型；
[0014]共因失效单元组模块，用于根据同一个失效原因引发多个元件发生失效，确定共因失效单元组，并确定所述共因失效单元组之间耦合强度系数；
[0015]评估模块，用于对失效原因条件概率、失效原因存在时单元发生失效的概率和耦合强度系数进行参数评估；
[0016]建模模块，用于根据失效事件与失效原因之间的关联、非对称类型、共因失效单元组、失效原因条件概率、失效原因存在时单元发生失效的概率和耦合强度系数建立非对称
共因失效条件下系统可靠性模型。
[0017]本专利技术实施例还提供一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现上述非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法的步骤。
[0018]本专利技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有信息传递的实现程序，所述程序被处理器执行时实现上述非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法的步骤。
[0019]采用本专利技术实施例，针对现有方法的局限性，从共因失效的失效根源、耦合机制以及防护机制三要素考虑，针对性的提出了非对称共因失效条件下的系统可靠性建模方法。是针对失效原因进行分析，并建立失效事件与失效原因之间的关联。根据共因失效三要素进行分析并提出了共因失效三参数。针对现有研究共因失效α等参数模型是将共因失效当做对称性来简单处理的局限性，提出了三种共因失效非对称类型。在确定共因失效单元组时，考虑了共因失效对各元件的影响不同。并在失效原因的可传播性之间建立了失效耦合机制，引入了耦合强度系数，能更清楚的说明共因失效单元组之间的依赖关系。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本说明书一个或多个实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1是本专利技术实施例的非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法的流程图；
[0022]图2是本专利技术实施例的非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法详细流程图；
[0023]图3是本专利技术实施例的模型基本事件的示意图；
[0024]图4是本专利技术实施例的模型耦合组件的示意图；
[0025]图5是本专利技术实施例的通过耦合因子概念传播原因条件的示意图；
[0026]图6是本专利技术实施例的非对称共因失效条件下可靠性简单模型的示意图；
[0027]图7是本专利技术实施例的非对称共因失效条件下系统可靠性建模装置示意图；
[0028]图8是本专利技术实施例的电子设备的示意图。
具体实施方式
[0029]针对现有方法的局限性，本专利技术实施例从共因失效的失效根源、耦合机制以及防护机制三要素考虑，针对性的提出了非对称共因失效条件下的系统可靠性建模方法。
[0030]为了使本
的人员更好地理解本说明书一个或多个实施例中的技术方案，下面将结合本说明书一个或多个实施例中的附图，对本说明书一个或多个实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本说明书的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本说明书一个或多个实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本文件的保护范围。
[0031]方法实施例
[0032]根据本专利技术实施例，提供了一种非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法，图1
是本专利技术实施例的非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法的流程图，如图1所示，根据本专利技术实施例的非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法具体包括：
[0033]步骤101，对失效原因进行定义，建立失效事件与失效原因之间的关联；具体地，通过失效原因条件概率、失效原因存在时单元发生失效的概率和耦合强度系数三个参数对失效原因进行定义。
[0034]步骤102，针对共因失效对称性确定非对称类型；所述非对称类型具体包括：
[0035]第一类型：同一个失效原因引起元件发生失效的概率不同；
[0036]第二类型：失效原因存在的概率不同；
[0037]第三类型：同一失效原因造成不同元件失效发生的时间不同。
[0038]步骤103，根据同一个失效原因引发多个元件发生失效，确定共因失效单元组；所述共因失效单元组中共因失效引发每个元件发生失效概率是不同的。
[0039]步骤104，确定所述共因失效单元组之间耦合强度系数；具体包括：
[0040]根据材料结构、载荷类似、环境类似和/或维护策略，确定所述共因失效单元组之间耦合强度系数。
[0041]步骤105，对失效原因条件概率、失效原因存在时单元发生本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法，其特征在于，包括：对失效原因进行定义，建立失效事件与失效原因之间的关联；针对共因失效对称性确定非对称类型；根据同一个失效原因引发多个元件发生失效，确定共因失效单元组；确定所述共因失效单元组之间耦合强度系数；对失效原因条件概率、失效原因存在时单元发生失效的概率和耦合强度系数进行参数评估；根据失效事件与失效原因之间的关联、非对称类型、共因失效单元组、失效原因条件概率、失效原因存在时单元发生失效的概率和耦合强度系数建立非对称共因失效条件下系统可靠性模型。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对失效原因进行定义具体包括：通过失效原因条件概率、失效原因存在时单元发生失效的概率和耦合强度系数三个参数对失效原因进行定义。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述非对称类型具体包括：第一类型：同一个失效原因引起元件发生失效的概率不同；第二类型：失效原因存在的概率不同；第三类型：同一失效原因造成不同元件失效发生的时间不同。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述共因失效单元组中共因失效引发每个元件发生失效概率是不同的。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述共因失效单元组之间耦合强度系数具体包括：根据材料结构、载荷类似、环境类似和/或维护策略，确定所述共因失效单元组之间耦合强度系数。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对失效原因条件概率、失效原因存在时单元发生失效的概率和耦合强度系数进行参数评估具体包括：通过历史数据、统计数据和/或相似产品的数据来获取对失效原因条件概率...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘征，涂亮，何振锋，刘昊东，李永杰，
申请(专利权)人：广州大学，
类型：发明
国别省市：