一种入射空间角度测量系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种入射空间角度测量系统，包括光学图像投影设备、光学图像传导设备、第一光学图像采集设备以及光学图像处理设备，光学图像投影设备、光学图像传导设备、第一光学图像采集设备以及光学图像处理设备放置在暗室内；光学图像投影设备靠近光学传导设备设置，用于向光学图像传导设备投射第一图像；光学图像传导设备，用于接收所述第一图像，并输出第二图像；第一光学图像采集设备靠近光学图像传导设备设置，用于采集所述第二图像；第一光学图像采集设备与光学图像处理设备连接。相较于现有方式，本实用新型专利技术可提高测量结果准确性，提高测量效率，且测量方法在作业现场即可测量，操作便捷。操作便捷。操作便捷。

【技术实现步骤摘要】
一种入射空间角度测量系统


[0001]本技术涉及光学显示领域，具体涉及一种入射空间角度测量系统。

技术介绍

[0002]目前，AR眼镜微型显示系统入射空间角度的测量方式基本都是依靠工装定位方式，工装定位方式对工装加工精度有极高的要求，现有工装加工精度的测量是通过三坐标测量机等机械手段完成。
[0003]三坐标测量机的工作原理是：对工装进行坐标测量，获取工装位置角度数据，把工装位置角度数据输入到三坐标测量机，三坐标测量机通过计算来确定工装位置角度是否存在偏差。
[0004]用三坐标测量机对现有工装加工精度测量具有如下弊端：
[0005]1.测量方式主要依靠数据，数据不充分或者分布不恰当都会影响到测试结果，进而影响工装加工精度测量结果准确性。
[0006]2.需要大量分布测量点数，大量的分布测量点数会消耗大量的工作时间。
[0007]3.测量设备结构复杂、体积较大，不便于现场测量。
[0008]基于上述内容，现有依靠工装定位方式对AR眼镜微型显示系统入射空间角度进行测量，具有如下问题：
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种入射空间角度测量系统，其特征在于，包括光学图像投影设备、光学图像传导设备、第一光学图像采集设备以及光学图像处理设备；所述光学图像投影设备、光学图像传导设备、第一光学图像采集设备以及光学图像处理设备放置在暗室内；所述光学图像投影设备靠近所述光学图像传导设备设置，用于向光学图像传导设备投射第一图像；所述光学图像传导设备，用于接收所述第一图像，并输出第二图像；所述第一光学图像采集设备靠近所述光学图像传导设备设置，用于采集所述第二图像；所述第一光学图像采集设备与所述光学图像处理设备连接。2.根据权利要求1所述的入射空间角度测量系统，其特征在于，所述第一图像由光学图像投影设备向光学图像传导设备投射的入射光束构成。3.根据权利要求2所述的入射空间角度测量系统，其特征在于，还包括光学图像导入设备，所述光学图像导入设备与所述光学图像投影设备连接；所述光学图像导入设备，用于导入设定图片，并将所述设定图片发送给光学图像投影设备。4.根据权利要求3所述的入射空间角度测量系统，其特征在于，还包括驱动设备；所述驱动设备的输入端与所述光学图像导入设备连接，所述驱动设备的输出端与所述光学图像投影设备连接；所述光学图像导入设备，还用于将导入的设定图片记录在所述驱动设备内；所述驱动设备，用于对记录的设定图片...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟祥峰，刘瀚笙，冒新宇，
申请(专利权)人：北京至格科技有限公司，
类型：新型
国别省市：