【技术实现步骤摘要】
一种菊花链拓扑检测方法、装置、设备及存储介质
[0001]本申请实施例涉及拓扑图检测
，具体涉及一种菊花链拓扑检测方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]菊花链型拓扑结构具有走线距离短、阻抗高且易控制的特点，常用于双数据速率3(Double Data Rate 3，DDR3)和静电防护器件(Electro
‑
Static Discharge，ESD)的走线设计。
[0003]在完成印制电路板(Printed Circuit Boards，PCB)的设计后，通常需要对整板的拓扑结构进行检查。目前，PCB工程师主要采取人工的方式逐个检查菊花链拓扑结构，当需要检查大量的菊花链拓扑结构时，人工检查的难度大幅度增强，从而导致检查效率低下。
技术实现思路
[0004]鉴于上述问题，本申请实施例提供了一种菊花链拓扑检测方法、装置、设备及存储介质，用于解决现有技术中存在的菊花链拓扑结构检查效率低下的问题。
[0005]根据本申请实施例的一个方面，提供了一种菊花链拓扑检测方法...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种菊花链拓扑检测方法，其特征在于，所述菊花链拓扑检测方法包括：获取电路拓扑图，所述电路拓扑图中包括多条菊花链拓扑，所有的所述菊花链拓扑之间具有不同的标识，每一条所述菊花链拓扑均包括多个待检测焊盘和与其连接的多条线段，所述待检测焊盘和所述线段均具有与其所在的所述菊花链拓扑相同的所述标识；根据所述标识读取每一条所述菊花链拓扑中的所述待检测焊盘的第一属性信息和所述线段的第二属性信息，所述第一属性信息包括所述待检测焊盘的第一位置信息，所述第二属性信息包括所述线段两端的第二位置信息；判断当前所述菊花链拓扑中所有的所述第二位置信息是否均存在与其相同的所述第一位置信息；若否，则确定出不存在与其相同所述第一位置信息的所述第二位置信息，并对与该部分所述第二位置信息距离最近的所述第一位置信息所对应的所述待检测焊盘进行标记。2.根据权利要求1所述的菊花链拓扑检测方法，其特征在于，所述第一属性信息还包括所述待检测焊盘上连接的线段数；所述判断当前所述菊花链拓扑中所有的所述第二位置信息是否均存在与其相同的所述第一位置信息之后，所述菊花链拓扑检测方法还包括：若是，则判断当前所述菊花链拓扑中是否存在所述线段数不等于二且不等于一的所述待检测焊盘；若是，则获取不等于二且不等于一的所述线段数所对应的所述待检测焊盘，并根据该部分所述待检测焊盘所对应的所述第一位置信息对该部分所述待检测焊盘进行标记；所述确定出不存在与其相同所述第一位置信息的所述第二位置信息，并对与该部分所述第二位置信息距离最近的所述第一位置信息所对应的所述待检测焊盘进行标记之后，所述方法还包括：执行所述判断当前所述菊花链拓扑中是否存在所述线段数不等于二且不等于一的所述待检测焊盘的步骤。3.根据权利要求1所述的菊花链拓扑检测方法，其特征在于，所述第一位置信息和所述第二位置信息通过直角坐标法表示。4.根据权利要求3所述的菊花链拓扑检测方法，其特征在于，所述确定出不存在与其相同所述第一位置信息的所述第二位置信息，并对与该部分所述第二位置信息距离最近的所述第一位置信息所对应的所述待检测焊盘进行标记，包括：确定出不存在与其相同所述第一位置信息的所述第二位置信息；通过两点间距离公式计算得到与该部分所述第二位置信息距离最近的所述第一位置信息；对与该部分所述第二位置信息距离最近的所述第一位置信息所对应的所述待检测焊盘进行标记。5.根据权利要求1所述的菊花链拓扑检测方法，其特征在于，所述标识包括所述菊花链拓扑的名称。6.一种菊花链拓扑检测装置，其特征在于，所述菊花链拓扑检测装置包括：获取模块，用于获取电路拓扑图，所述电路拓扑图中包括多条菊花链拓扑，所有的所述菊花链拓扑之间具有不同的标识，每一条所述菊花链拓扑均包...
【专利技术属性】
技术研发人员：付可心，赵明，陈志列，
申请(专利权)人：深圳市研祥智慧物联软件有限公司，
类型：发明
国别省市：
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