显示面板不良的分析方法、计算机设备及介质技术

本发明专利技术实施例公开一种显示面板不良的分析方法、计算机设备及介质。在一具体实施方式中，应用于服务器的该方法包括：根据分析任务参数配置表及获取的分析任务参数值，生成包含分析任务参数信息的分析任务参数数据表；接收来自终端的分析任务的执行时间信息，执行时间信息由终端响应于对显示的第一界面的第一输入控件的操作得到；根据分析任务参数数据表和执行时间信息创建分析任务，按照执行时间信息定时调用分析模型执行分析任务，并存储分析结果。该实施方式可通过自动化的分析任务调度，根据用户的分析需求而定时执行显示面板不良分析任务，提升了显示面板不良分析的效率和用户操作简便性。户操作简便性。户操作简便性。

【技术实现步骤摘要】
显示面板不良的分析方法、计算机设备及介质


[0001]本专利技术涉及数据管理
更具体地，涉及一种显示面板不良的分析方法、计算机设备及介质。

技术介绍

[0002]在显示面板制造行业中，各生产工序或生产设备的影响都可能会造成显示面板不良，由于生产工序繁杂、数量庞大，依靠人力分析定位显示面板不良原因的方式，处理效率和准确率都极其受限，难以满足日益增长的生产需求。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种显示面板不良的分析方法、计算机设备及介质，以解决现有技术存在的问题中的至少一个。
[0004]为达到上述目的，本专利技术采用下述技术方案：
[0005]本专利技术第一方面提供一种显示面板不良的分析方法，所述方法应用于服务器，所述方法包括：
[0006]根据分析任务参数配置表及获取的分析任务参数值，生成包含分析任务参数信息的分析任务参数数据表；
[0007]接收来自终端的分析任务的执行时间信息，所述执行时间信息由所述终端响应于对显示的第一界面的第一输入控件的操作得到；
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板不良的分析方法，其特征在于，所述方法应用于服务器，所述方法包括：根据分析任务参数配置表及获取的分析任务参数值，生成包含分析任务参数信息的分析任务参数数据表；接收来自终端的分析任务的执行时间信息，所述执行时间信息由所述终端响应于对显示的第一界面的第一输入控件的操作得到；根据所述分析任务参数数据表和所述执行时间信息创建分析任务，按照所述执行时间信息定时调用分析模型执行分析任务，并存储分析结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分析任务执行信息包括分析任务的执行时间点和执行频率。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分析任务参数信息包括分析任务名称、显示面板信息、不良编号、生产信息、不良原因变量、不良结果变量中的至少一种。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据所述分析任务参数数据表和所述执行时间信息创建分析任务后，所述方法还包括生成包含分析任务创建信息的分析任务创建信息表和包含分析任务执行顺序信息的分析任务触发信息表。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述分析任务创建信息包括分析任务序号、创建用户信息、分析任务名称、执行状态信息中的至少一种，所述任务触发信息表包括分析任务序号、分析任务执行时间点、分析任务执行类型中的至少一种。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在调用分析模型执行分析任务后，所述方法还包括生成包含分析任务执行信息的分析任务执行信息表。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述分析任务执行信息表包括分析任务名称、显示面板信息、不良编号、生产信息、不良原因变量、不良结果变量、正负样本阈值中的至少一种。8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，在存储分析结果后，所述方法还包括生成包含分析结果信息的第一分析结果信息表。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，在存储分析结果后，所述方法还包括生成包含执行成功的分析任务的分析结果信息的第二分析结果信息表。10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述第一分析结果信息表和所述第二分析结果信息表分别包括分析任务序号、分析任务执行时间点、实例序号、分析任务名称、分析任务状态中的至少一种。11.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：接收来自终端的分析结果查询信息，所述分析结果查询信息由所述终端响应于对显示的第二界面的第二输入控件的操作得到；根据所述分析结果查询信息，从分析任务执行信息表、分析任务创...

【专利技术属性】
技术研发人员：代言玉，袁菲，张高剑，邓梁，冯子钰，吴建波，吴建民，王洪，沈国梁，王士侠，汤玥，
申请(专利权)人：北京中祥英科技有限公司，
类型：发明
国别省市：