测试方法、装置、设备、可读存储介质及程序产品制造方法及图纸

本申请实施例提供了一种测试方法、装置、设备、可读存储介质及程序产品，该方法包括：获取至少两个激励程序；基于至少两个激励程序，确定自动化回归测试脚本；基于至少两个激励程序之间的优先级，通过自动化回归测试脚本，对至少两个激励程序对应的目标芯片的第一代码程序进行仿真，并确定至少两个激励程序针对第一代码程序的第一代码覆盖率；若第一代码覆盖率小于预设代码覆盖率阈值，则基于第一代码覆盖率和预设代码覆盖率阈值，进行相应回归处理，确定新第一代码覆盖率，新第一代码覆盖率大于或等于预设代码覆盖率阈值；如此，自动快速提高了激励程序针对目标芯片的第一代码程序的代码覆盖率。序的代码覆盖率。序的代码覆盖率。

【技术实现步骤摘要】
测试方法、装置、设备、可读存储介质及程序产品


[0001]本申请涉及计算机
，具体而言，本申请涉及一种测试方法、装置、设备、可读存储介质及程序产品。

技术介绍

[0002]现有技术中，芯片验证伴随着大量的测试用例(test case)，即激励程序或激励代码。其中，芯片验证例如大型的IP(Intellectual Property，知识产权)核验证或SOC(System On Chip，片上系统)验证。在芯片验证过程中，用户人工对大量激励程序进行逐一编译、仿真，及收集大量激励程序针对芯片的代码程序的代码覆盖率。如此，会造成大量人力和时间的浪费，而且激励程序针对芯片的代码程序的代码覆盖率较低。

技术实现思路

[0003]本申请针对现有的方式的缺点，提出一种测试方法、装置、设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品，用于解决如何快速提高激励程序针对芯片的代码程序的代码覆盖率的问题。
[0004]第一方面，本申请提供了一种测试方法，包括：
[0005]获取至少两个激励程序；
[0006]基于至少两个激励程序，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：第一处理模块，用于获取至少两个激励程序；第二处理模块，用于基于所述至少两个激励程序，确定自动化回归测试脚本；第三处理模块，用于基于所述至少两个激励程序之间的优先级，通过所述自动化回归测试脚本，对所述至少两个激励程序对应的目标芯片的第一代码程序进行仿真，并确定所述至少两个激励程序针对所述第一代码程序的第一代码覆盖率；第四处理模块，用于若所述第一代码覆盖率小于预设代码覆盖率阈值，则基于所述第一代码覆盖率和所述预设代码覆盖率阈值，进行相应回归处理，确定新第一代码覆盖率，所述新第一代码覆盖率大于或等于所述预设代码覆盖率阈值。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试装置还包括优先级设置模块，所述优先级设置模块，用于：确定所述至少两个激励程序中每个激励程序对应的文本文件的指令数量；基于各文本文件的指令数量，确定所述至少两个激励程序之间的优先级。3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第三处理模块，具体用于：通过所述自动化回归测试脚本，基于所述至少两个激励程序之间的优先级从大到小的顺序，依次对所述至少两个激励程序对应的目标芯片的第一代码程序进行仿真，并确定所述至少两个激励程序中每个激励程序针对所述第一代码程序的第一子代码覆盖率；基于各第一子代码覆盖率，确定所述至少两个激励程序针对所述第一代码程序的第一代码覆盖率。4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述第三处理模块，具体用于：创建覆盖率整合脚本；通过所述覆盖率整合脚本，将各第一子代码覆盖率进行整合，得到所述至少两个激励程序针对所述第一代码程序的代码覆盖率报告，所述代码覆盖率报告包括所述至少两个激励程序针对所述第一代码程序的第一代码覆盖率。5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第四处理模块，具体用于：基于所述第一代码覆盖率和所述预设代码覆盖率阈值，确定新增激励程序的数量；基于所述至少两个激励程序和所述新增激励程序，确定新的自动化回归测试脚本；基于所述新增激励程序的数量和所述新的自动化回归测试脚本，进行相应回归处理，确定新第一代码覆盖率。6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述第四处理模块，具体用于：若所述新增激励程序的数量为预定数量，则创建编译脚本和仿真脚本；通过所述编译脚本对所述新增激励程序进行编译，得到所述新增激励程序对应的文本文件；基于所述新增激励程序对应的文本文件，通过所述仿真脚本，对所述第一代码程序进行仿真；并通过所述新的自动化回归测试脚本，确定所述新增激励程序针对所述第一代码程序的第二子代码覆盖率；基于所述各第一子代码覆盖率和所述第二子代码覆盖率，确定新第一代码覆盖率。7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述第四处理模块，具体用于：若所述新增激励程序的数量大于预定数量，则基于所述至少两个激励程序和所述新增
激励程序之间的优先级，通过所述新的自动化回归测试脚本，对所述第一代码程序进行仿真，并确定新第一代码覆盖率。8.一种测试方法，其特征在于，包括：获取至少两个激励程序；基于所述至少两个激励程序，确定自动化回归测试脚本；基于所述至少两个激励程序之间的优先级，通过所述自动化回归测试脚本，对所述至少两个激励程序对应的目标芯片的第一代码程序进行仿真，并确定所述至少两个激励程序针对所述第一代码程序的第一代码覆盖率；若所述第一代码覆盖率小于预设代码覆盖率阈值，则基于所述第一代码覆盖率和所述预设代码覆盖率阈值，进行相应回归处理，确定新第一代码覆盖率，所述新第一代码覆盖率大于或等于所述预设代码覆盖率阈值。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，在所述基...

【专利技术属性】
技术研发人员：张静，
申请(专利权)人：广州全盛威信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：