一种芯片噪声自动化测试方法及相关设备技术

本发明专利技术实施例公开了一种芯片噪声自动化测试方法及系统，所述方法包括：获取待检测芯片的属性数据；基于所述属性数据确定实验参数，并获取所述待检测芯片在所述实验参数下的噪声数据；基于所述噪声数据判断所述待检测芯片是否合格。可以通过更换不同类型芯片并根据不同类型芯片修改实验参数，来满足不同类型芯片噪声测试需求。片噪声测试需求。片噪声测试需求。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片噪声自动化测试方法及相关设备


[0001]本专利技术涉及芯片检测
，尤其涉及一种芯片噪声自动化测试方法及相关设备。

技术介绍

[0002]芯片测试作为芯片交付之前的最后一个把关环节尤其重要。目前主流国产芯片自动化测试设备(ATE)都不能对芯片噪声进行测量，民用消费级芯片对芯片噪声这个参数不太敏感，但军工、航天领域对该参数要求就十分明确。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术提供了一种芯片噪声自动化测试方法及相关设备，用于解决现有技术中自动化测试设备(ATE)都不能对芯片噪声进行测量的问题。
[0004]为达上述之一或部分或全部目的或是其他目的，本专利技术提出一种芯片噪声自动化测试系统，包括：工控机、E3611A高精度可编程电源、全屏蔽测试盒以及频谱分析仪；其中，所述工控机与所述E3611A高精度可编程电源连接，所述工控机用于控制所述E3611A高精度可编程电源设定供电电压与最大电流；所述E3611A高精度可编程电源与所述全屏蔽测试盒连接，所述E3611A高精度可编程电源给所述全屏蔽测试盒提供设定后本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片噪声自动化测试系统，其特征在于，包括：工控机、E3611A高精度可编程电源、全屏蔽测试盒以及频谱分析仪；其中，所述工控机与所述E3611A高精度可编程电源连接，所述工控机用于控制所述E3611A高精度可编程电源设定供电电压与最大电流；所述E3611A高精度可编程电源与所述全屏蔽测试盒连接，所述E3611A高精度可编程电源给所述全屏蔽测试盒提供设定后的供电电压与设定后的最大电流；所述频谱分析仪与所述全屏蔽测试盒连接，所述频谱分析仪用于测试待检测芯片的噪声信号。2.如权利要求1所述的芯片噪声自动化测试系统，其特征在于，所述全屏蔽测试盒由芯片夹具、交流耦合电容、超低噪声放大电路组成，其中，所述待检测芯片置于所述芯片夹具上，所述待检测芯片的输出端连接到所述交流耦合电容一端，所述交流耦合电容的另一端连接所述超低噪声放大电路输入端，所述超低噪声放大电路输出端连接到所述频谱分析仪输入端。3.如权利要求2所述的芯片噪声自动化测试系统，其特征在于，所述超低噪声放大电路的增益方程为：其中，Vnoise为通过交流耦合电容传导过来的被测芯片噪声，VGnoise为经过放到后的被测芯片噪声，G为增益系数，Rg为反馈电阻，R58。4.如权利要求2所述的芯片噪声自动化测试系统，其特征在于，所述全屏蔽测试盒还包括：MCU、RS485接口电路和芯片存在检测电路；其中，所述RS485接口电路的一端连接所述工控机，所述RS485接口电路的另一端连接所述MCU，所述MCU与所述芯片存在检测电路进行交互，所述MCU连接所述超低噪声放大电路。5.如权利要求4所述的芯片噪声自动化测试系统，其特征在于，所述超低噪声放大电路包括：74HC138芯片、反相器、高电平时三极管、信号...

【专利技术属性】
技术研发人员：倪志权，周黄果，袁振宇，蔡官荣，
申请(专利权)人：深圳爱思普芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：