显示缺陷检测系统和显示缺陷检测方法技术方案

公开了一种显示缺陷检测系统和显示缺陷检测方法。显示缺陷检测系统包括：预处理电路，该预处理电路接收由显示面板显示的测试图案的捕获图像作为包括对角线不均的面板图像，并且对该面板图像进行预处理以输出预处理图像；以及不均检测电路，该不均检测电路基于预处理图像的边缘映射，通过将反映对角线不均的亮度差的第一特征值与反映对角线不均的形状比率的第二特征值相乘来计算对角线不均的最终特征值，并且基于对角线不均的最终特征值来检测对角线不均的显示位置。对角线不均的显示位置。对角线不均的显示位置。

【技术实现步骤摘要】
显示缺陷检测系统和显示缺陷检测方法
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2021年12月14日提交的韩国专利申请第10
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2021
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0178480号的权益，该申请通过引用如在本文中完全阐述的那样并入本文。


[0003]本公开内容涉及显示缺陷检测系统和显示缺陷检测方法。

技术介绍

[0004]显示缺陷是在制造显示面板的过程中出现的缺陷，其各种原因包括加工设施的故障、工人的失误、由灰尘或微粒引起的细微缺点以及所用膜的缺陷。当出现显示缺陷时，显示面板的屏幕特性不均匀并且具有不均(mura)状态。存在各种类型(种类)、尺寸和级别的不均，并且特别地，不均具有各种类型，诸如圆形类型、线性类型、非正式类型和重复涂抹类型。
[0005]存在工人使用眼睛直接检测显示面板的不均的方法。然而，在这样的检测方法中，工人的眼睛可能容易疲劳，细微缺陷的检测率可能降低，并且检测结果可能由于工人的主观决断而改变，并且因此，难以期望恒定水平的检测结果。
[0006]在使用不均检测算法的检测方法中，由于没有清楚地示出捕获图像的边界、亮度变化和对比度，因此不均检测的难度水平较高。常规的算法基于对比率、标准偏差(STD)和振幅，但是难以提高对角线(diagonal)不均的检测准确度。对角线不均具有各种线方向以及各种线长度，并且因此，相关技术的检测方法在提高检测准确度方面具有局限性。

技术实现思路

[0007]为了克服相关技术的上述问题，本公开内容可以提供显示缺陷检测系统和显示缺陷检测方法，其可以提高对角线不均的检测准确度。
[0008]为了实现这些目的和其他优点并根据本公开内容的目的，如本文中所体现和广泛描述的，显示缺陷检测系统包括：预处理电路，该预处理电路接收由显示面板显示的测试图案的捕获图像作为包括对角线不均的面板图像，并对该面板图像进行预处理以输出预处理图像；以及不均检测电路，该不均检测电路基于预处理图像的边缘映射，通过将反映对角线不均的亮度差的第一特征值与反映对角线不均的形状比率的第二特征值相乘来计算对角线不均的最终特征值，并且基于对角线不均的最终特征值来检测对角线不均的显示位置。
[0009]在本公开内容的另一方面中，显示缺陷检测方法包括：接收由显示面板显示的测试图案的捕获图像作为包括对角线不均的面板图像，并对该面板图像进行预处理以输出预处理图像；基于预处理图像的边缘映射，通过将反映对角线不均的亮度差的第一特征值与反映对角线不均的形状比率的第二特征值相乘来计算对角线不均的最终特征值；以及基于对角线不均的最终特征值来检测对角线不均的显示位置。
附图说明
[0010]附图被包括以提供对本公开内容的进一步理解，并且被并入本申请中并构成本申请的一部分，附图示出了本公开内容的实施方式并且与说明书一起用于说明本公开内容的原理。在附图中：
[0011]图1是示出根据本公开内容的实施方式的显示缺陷检测系统的图；
[0012]图2是示出图1的显示缺陷检测电路的图；
[0013]图3是示出由图2的预处理电路执行的预处理过程的图；
[0014]图4和图5是示出由图1的显示缺陷检测电路执行的不均检测过程的图；
[0015]图6是示出基于角度数目“n”将对角线不均候选中的每一个的边缘映射图像旋转n次的示例的图；以及
[0016]图7是示出针对n个数目的角度计算x轴方向与y轴方向之间的投影比率值中的最大比率值作为相应的对角线不均候选的形状比率特征值的示例的图。
具体实施方式
[0017]在下文中，将参照附图更全面地描述本公开内容，在附图中示出了本公开内容的示例性实施方式。然而，本公开内容可以以许多不同的形式实施并且不应当被解释为限于本文阐述的实施方式；而是，提供这些实施方式使得本公开内容将是全面和完整的并且将向本领域技术人员充分传达本公开内容的构思。
[0018]本公开内容的优点和特征及其实现方法将通过以下参照附图描述的实施方式来阐明。然而，本公开内容可以以不同的形式实施，并且不应被解释为限于本文中阐述的实施方式。相反，提供这些实施方式使得本公开内容将是透彻和完整的，并且将向本领域技术人员充分传达本公开内容的范围。此外，本公开内容仅由权利要求的范围来限定。
[0019]在用于描述本公开内容的各种实施方式的附图中公开以描述本公开内容的实施方式的形状、尺寸、比率、角度、数目等仅是示例性的，并且本公开内容不限于此。贯穿全文，相同的附图标记指代相同的元件。贯穿本说明书，相同的元件由相同的附图标记表示。如在本文中所使用的，除非使用术语“仅”，否则术语“包括”、“具有”、“包含”等表明可以添加其他部分。如本文中所使用的，除非上下文另有明确指示，否则单数形式“一”、“一个”和“该”也旨在包括复数形式。
[0020]即使没有明确的陈述，本公开内容的各种实施方式中的元件也将被解释为包括误差容限。
[0021]在描述位置关系时，例如，当两个部分之间的位置关系被描述为“在
……
上”、“在
……
上方”、“在
……
下”和“靠近
……”
时，一个或更多个其他部分可以被设置在这两个部分之间，除非使用“正好”或“直接”。
[0022]应当理解，尽管本文中可以使用术语“第一”、“第二”等来描述各种元件，但是这些元件不应受这些术语的限制。这些术语仅用于区分一个元件和另一元件。例如，在不脱离本公开内容的范围的情况下，第一元件可以被称为第二元件，类似地，第二元件可以被称为第一元件。
[0023]在以下描述中，当确定相关已知功能或配置的详细描述不必要地使本公开内容的要点模糊时，将省略该详细描述。在下文中，将参照附图详细描述本公开内容的实施方式。
[0024]图1是示出根据本公开内容的实施方式的显示缺陷检测系统100的图。
[0025]参照图1，显示缺陷检测系统100可以包括显示设备、亮度测量器CMR和显示缺陷检测电路40。
[0026]显示设备可以是电致发光显示设备，但不限于此，并且可以应用于各种类型的显示设备。例如，显示设备可以被实现为各种类型，诸如液晶显示设备、电泳显示设备、电润湿显示设备和量子点显示设备。在本实施方式中，下面将主要描述电致发光显示设备。
[0027]该显示设备可以包括控制器10、面板驱动器20和显示面板30。
[0028]包括多条像素线的屏幕可以设置在显示面板30中，并且多个像素P可以包括在多条像素线的每一条像素线中。此处，“像素线”可以表示在一个方向上彼此相邻的一组信号线和像素P。信号线可以包括用于向像素P供应数据电压Vdata的多条数据线DL、用于向像素P供应参考电压Vref的多条参考电压线RL、用于向像素P供应扫描信号的多条栅极线GL以及用于向像素P供应高电平像素电压EVDD的多条高电平电力线。
[0029]显示面板30的像素P可以被布置成矩阵类型以配置像素本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示缺陷检测系统，包括：预处理电路，所述预处理电路接收由显示面板显示的测试图案的捕获图像作为包括对角线不均的面板图像，并且对所述面板图像进行预处理以输出预处理图像；以及不均检测电路，所述不均检测电路基于所述预处理图像的边缘映射，通过将反映所述对角线不均的亮度差的第一特征值与反映所述对角线不均的形状比率的第二特征值相乘来计算所述对角线不均的最终特征值，并且基于所述对角线不均的最终特征值来检测所述对角线不均的显示位置。2.根据权利要求1所述的显示缺陷检测系统，其中，由所述预处理电路执行的预处理过程包括：裁剪所述面板图像以提取包括所述对角线不均的感兴趣区域ROI并且将所述ROI的尺寸改变为预定尺寸的过程；对所述ROI的色感或亮度进行归一化的过程；以及从归一化的ROI中去除阻碍所述对角线不均的检测的噪声分量的过程。3.根据权利要求1所述的显示缺陷检测系统，其中，所述不均检测电路包括：边缘检测器，所述边缘检测器生成包括关于所述预处理图像的边缘信息的边缘映射图像；块计算器，所述块计算器以块为单位来划分所述边缘映射图像，并且计算与边缘映射块图像中的每一个对应的块边缘特征值；不均候选选择器，所述不均候选选择器从所述边缘映射块图像中选择所述块边缘特征值大于或等于参考值的边缘映射块图像作为不均候选图像；形状比率计算器，所述形状比率计算器在以多个角度旋转所述不均候选图像的同时，针对所述多个角度中的每一个在x轴方向和y轴方向上对所述不均候选图像中包括的对角线不均进行投影，并且计算与其中所述x轴方向与所述y轴方向之间的投影比率值最大的角度对应的投影比率值作为所述对角线不均的形状比率特征值；以及最终特征值计算器，所述最终特征值计算器将指示所述第一特征值的所述不均候选图像的块边缘特征值与指示所述第二特征值的所述对角线不均的形状比率特征值相乘以计算指示所述对角线不均的最终特征值的亮度
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形状比率特征值。4.根据权利要求3所述的显示缺陷检测系统，其中，所述边缘映射图像和所述不均候选图像中的每一个都是二进制图像。5.根据权利要求3所述的显示缺陷检测系统，其中，所述不均候选选择器从所述边缘映射块图像中选择所述块边缘特征值为前10％的边缘映射块图像作为所述不均候选图像，并且过滤并去除所述块边缘特征值低于前10％的边缘映射块图像。6.根据权利要求3所述的显示缺陷检测系统，其中，所述x轴方向与所述y轴方向之间的投影比率值包括：通过将x轴方向投影值除以y轴方向投影值而获得的第一比率值；以及通过将所述y轴方向投影值除以所述x轴方向投影值而获得的第二比率值。7.根据权利要求6所述的显示缺陷检测系统，其中，所述形状比率计算器针对所述多个角度计算多个第一比率值和多个第二比率值，并且计算所述多个第一比率值和所述多个第二比率值中的一个最大比率值作为所述对角线不均的形状比率特征值。8.根据权利要求3所述的显示缺陷检测系统，其中，所述边缘检测器通过使用Sobel滤
波器来检测x轴方向和y轴方向...

【专利技术属性】
技术研发人员：金起铉，洪钟周，
申请(专利权)人：乐金显示有限公司，
类型：发明
国别省市：