光学扫描仪制造技术

本发明专利技术的光学相控阵(3)构成为通过使用扫描用相位量分别独立地控制将从光源(2)供给的光分支而成的多个分支光的相位，并从具有多个天线元件的天线阵列放射，来实现光束的扫描。监视用受光部(6)构成为接受从光学相控阵放射的光。信号处理部(7)构成为根据监视用受光部中的检测结果来检测光束的特性，并生成用于修正扫描用相位量的相位调整量以使特性的检测值与预先准备的设计值一致。值与预先准备的设计值一致。值与预先准备的设计值一致。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光学扫描仪
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本国际申请主张基于在2020年9月30日向日本专利厅申请的日本专利申请第2020－165997号的优先权，通过参照将日本专利申请第2020－165997号的全部内容引用到本国际申请。


[0003]本公开涉及使用光学相控阵的光学扫描仪。

技术介绍

[0004]已知有使用光学相控阵(以下，OPA)，来进行光束形成以及光束转向的技术。OPA是Optical Phased Array的缩写。在OPA中，使用具有放射光的多个天线元件的天线阵列，分别控制给予各天线元件的相移量。
[0005]根据天线阵列的配置和所使用的光的波长在理论上唯一地确定为了光束转向而对各天线元件给予的相移量。但是，若从光源到各天线元件的波导的特性根据温度变化等而变化，则在对各天线元件给予的相移量中产生误差，对于光束轮廓以及出射角度等得不到所需的性能。
[0006]在下述专利文献1中，提出了设置监视供给至各个天线元件的光的相位的相位监视器，并对通过与各天线元件连接的波导的光的相位进行反馈控制，以使本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种光学扫描仪，具备：光源(2)；光学相控阵(3)，构成为通过使用扫描用相位量分别独立地控制将从上述光源供给的光分支而成的多个分支光的相位，并从具有多个天线元件的天线阵列放射，来实现光束的扫描；监视用受光部(6)，构成为接受从上述光学相控阵放射的光；以及信号处理部(7)，构成为根据上述监视用受光部中的检测结果来检测上述光束的特性，并生成用于修正上述扫描用相位量的相位调整量以使上述特性的检测值与预先准备的设计值一致。2.根据权利要求1所述的光学扫描仪，其中，上述信号处理部使用光束的扩展角以及光束照射方向的偏移量中的至少一个作为上述光束的特性。3.根据权利要求1或2所述的光学扫描仪，其中，上述监视用受光部配置在接受由上述光学相控阵形成的光栅瓣的位置。4.根据权利要求1～3中任一项所述的光学扫描仪，其中，上述监视用受光部配置在上述光学相控阵的扫描...

【专利技术属性】
技术研发人员：丰田雄一，別府太郎，守口智博，佐佐木光，
申请(专利权)人：株式会社电装，
类型：发明
国别省市：