一种缺陷检测方法及装置、电子设备制造方法及图纸

本申请提供了一种缺陷检测方法及装置、电子设备。缺陷检测方法包括：获取待检测的显示面板的灰阶数据；基于待检测的目标缺陷，对灰阶数据进行特征提取，得到目标特征数据；从预先存储的缺陷与缺陷条件的对应关系中，确定与目标缺陷对应的目标缺陷条件；检测目标特征数据中是否存在数据满足目标缺陷条件；若存在，则确定显示面板存在目标缺陷。如此，实现了针对显示面板中目标缺陷的直接、快速、准确检测，有效提高了检测效率。有效提高了检测效率。有效提高了检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种缺陷检测方法及装置、电子设备


[0001]本申请涉及缺陷检测
，具体涉及一种缺陷检测方法及装置、电子设备。

技术介绍

[0002]目前，显示面板的生产具有制程长、站点多、工艺复杂等特点。为了确保显示面板的产品良率，在生产过程中，每完成一步工序，都需要对产品进行缺陷检测，以避免缺陷产品进入后续工序，造成资源浪费。
[0003]显示面板生产过程中产生的缺陷种类多达上百种，上百种缺陷中，只有占比较少的部分缺陷属于致死类缺陷，会严重影响产品质量。然而，在现有的缺陷检测方案中，往往需要在检测完成后才能从检测结果中筛查是否存在致死类缺陷，因此，存在缺陷检测效率较低的问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请致力于提供一种缺陷检测方法及装置、电子设备，能够有效提高缺陷检测效率。
[0005]本申请的第一方面提供一种缺陷检测方法，包括：
[0006]获取待检测的显示面板的灰阶数据；
[0007]基于待检测的目标缺陷，对所述灰阶数据进行特征提取，得到目标特征数据；
[0008]从预先存储的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取待检测的显示面板的灰阶数据；基于待检测的目标缺陷，对所述灰阶数据进行特征提取，得到目标特征数据；从预先存储的缺陷与缺陷条件的对应关系中，确定与所述目标缺陷对应的目标缺陷条件；检测所述目标特征数据中是否存在数据满足目标缺陷条件；若存在，则确定所述显示面板存在目标缺陷。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于待检测的目标缺陷，对所述灰阶数据进行特征提取，得到目标特征数据，包括：基于预先存储的缺陷与特征项的对应关系，确定与所述目标缺陷对应的目标特征项；根据所述目标特征项，对所述灰阶数据进行特征提取，得到所述目标特征数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述缺陷与特征项的对应关系的构建方法包括：获取与所述缺陷对应的多个采样数据；所述采样数据包括多个参数项；将所述多个参数项中，满足相关性条件的项作为与所述缺陷对应的特征项，得到所述缺陷与特征项的对应关系；所述相关性条件包括：当前参数项中，指定特征数据在该项中的占比满足第一阈值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，将所述多个参数项中，满足相关性条件的项作为与所述缺陷对应的特征项，得到所述缺陷与特征项的对应关系，包括：将所述多个参数项中，满足所述相关性条件的项确定为第一相关项；对预设经验项和所述第一相关项进行去重合并，得到第一合并项，将所述第一合并项作为与所述缺陷对应的特征项，得到所述缺陷与特征项的对应关系。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述将所述第一合并项作为与所述缺陷对应的特征项，得到所述缺陷与特征项的对应关系，包括：确定目标项中每个项与所述第一合并项中每个项的相关性值；将所述目标项中相关性值满足第二阈值的项，确定为第二相关项；对所...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹聪聪，马领玉，
申请(专利权)人：云谷固安科技有限公司，
类型：发明
国别省市：