一种改善液晶面板对组精度的方法技术

一种改善液晶面板对组精度的方法，包括：将液晶面板上的图形等分成多份；量测首站图形各部分的大小、及出站图形各部分大小，获得图形各部分的不同放大缩小形变的比例当成一组参数；根据所需的出站图形数据和上一步骤中获得的一组参数，逆推出首站图形各部分的大小的数据；根据上步获得的首站图形各部分的大小的数据，设定曝光机所对应的各部分的数值，进行首站图形曝光。按本发明专利技术的方法制作的首站图形在经过几道工序后的出货图形即可达到所需要的图形数据，减少图形的变异，以此可提高对组精度。精度。精度。

【技术实现步骤摘要】
一种改善液晶面板对组精度的方法


[0001]本专利技术属于液晶显示器的制造
，具体是指一种改善液晶面板对组精度的方法。

技术介绍

[0002]液晶显示器(LCD，LiquidCrystalDisplay)制备工艺中，主要有阵列工序、面板成型工序和模组构装工序这三个重要工序。其中，阵列工序主要是制造TFT(ThinFilmTransistor，薄膜晶体管)基板及CF(colorfilter，彩色滤光片)基板。在阵列工序中，需要将掩膜板上的图形转移到涂布好的玻璃基板上，即曝光。
[0003]面板厂中首站图形经过多道制程后在出货时图形会呈现放大或缩小的趋势。为了让出货的图形符合规格，目前普遍的做法是将出货时图形变异的大小等比例预补到首站的图形中。假设图形变化是出货图形较首站图形会缩小10mm，那么首站需将图形做到1010mm，目前做法是将10mm的差异等比例分在图形内，如图1所示。而实际上图形变化并不是等比例的，不同位置的形变是不同的，以目前的做法实际图形就存在一定的偏差，如图2所示，造成对组后也存在一定偏差，如图3所示(图中A代表对组后形成的偏差)。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题在于提供一种改善液晶面板对组精度的方法。
[0005]本专利技术是这样实现的：
[0006]一种改善液晶面板对组精度的方法，包括如下步骤：
[0007]步骤一：将液晶面板上的图形等分成多份；
[0008]步骤二：量测首站图形各部分的大小、及出站图形各部分大小，获得图形各部分的不同放大缩小形变的比例当成一组参数；
[0009]步骤三：根据所需的出站图形数据和所述步骤二中获得的一组参数，逆推出首站图形各部分的大小的数据；
[0010]步骤四：根据步骤三获得的首站图形各部分的大小的数据，设定曝光机所对应的各部分的数值，进行首站图形曝光。
[0011]进一步地，所述液晶面板，为TFT
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LCD面板；所述首站图形，是指GE制程后量测的图形；所述出站图形，是指经GE
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SE
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DC
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SD
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OC
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CM
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VA
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BC
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CH
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PE制程后最终出货时量测的图形。
[0012]进一步地，所述液晶面板，为彩膜基板；所述首站图形，是指BM制程后的图形；所述出站图形，是指经过BM制程、G制程、B制程、OC制程、PS制程，最终出货时量测的图形。
[0013]本专利技术的优点在于：按本专利技术的方法制作的首站图形在经过几道工序后的出货图形即可达到所需要的图形数据，减少图形的变异，以此可提高对组精度。
附图说明
[0014]下面参照附图结合实施例对本专利技术作进一步的描述。
[0015]图1是现有技术的理论上首站图形和出货图形的数据对比图。
[0016]图2是现有技术的实际上首站图形和出货图形的数据对比图。
[0017]图3是现有技术的方法对组后的偏差示意图。
[0018]图4是本专利技术的方法的首站图形和出货图形的数据对比图。
具体实施方式
[0019]一种改善液晶面板对组精度的方法，包括如下步骤：
[0020]步骤一：将液晶面板上的图形等分成多份；
[0021]步骤二：量测首站图形各部分的大小、及出站图形各部分大小，获得图形各部分的不同放大缩小形变的比例当成一组参数；
[0022]步骤三：根据所需的出站图形数据和所述步骤二中获得的一组参数，逆推出首站图形各部分的大小的数据；
[0023]步骤四：根据步骤三获得的首站图形各部分的大小的数据，设定曝光机所对应的各部分的数值，进行首站图形曝光。
[0024]如果液晶面板为TFT
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LCD面板；所述首站图形，是指GE制程后量测的图形；所述出站图形，是指经GE
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SE
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DC
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SD
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OC
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CM
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VA
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BC
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CH
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PE制程后最终出货时量测的图形。
[0025]如果液晶面板为TFT
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LCD面板；所述首站图形，是指BM制程后的图形；所述出站图形，是指经过BM制程、G制程、B制程、OC制程、PS制程，最终出货时量测的图形。
[0026]如图4所示，假设出货需要图形是1000mm经过制程后总体缩小了10mm，则首站需将图形做到1010mm，将图形5等分，依据实际的量测数据推出首站图形每一份的图形比例是203、201.5、201、201.5、203mm，以该方法制作的图形在出货时形变更小更加贴近规格。
[0027]按本专利技术的方法制作的首站图形在经过几道工序后的出货图形即可达到所需要的图形数据，减少图形的变异，以此可提高对组精度。
[0028]以上所述仅为本专利技术的较佳实施用例而已，并非用于限定本专利技术的保护范围。凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换以及改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种改善液晶面板对组精度的方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤一：将液晶面板上的图形等分成多份；步骤二：量测首站图形各部分的大小、及出站图形各部分大小，获得图形各部分的不同放大缩小形变的比例当成一组参数；步骤三：根据所需的出站图形数据和所述步骤二中获得的一组参数，逆推出首站图形各部分的大小的数据；步骤四：根据步骤三获得的首站图形各部分的大小的数据，设定曝光机所对应的各部分的数值，进行首站图形曝光。2.如权利要求1所述的一种改善液晶面板对组精度的方法，其特征在于：所述液晶面板，为TFT
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LCD面板；所述首站图形，是指GE制程后量测的图形；所述出站...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑俊山，王子伟，吴俊德，
申请(专利权)人：福建华佳彩有限公司，
类型：发明
国别省市：