一种基于光学快速轴向扫描的深度信息提取方法技术

本发明专利技术公开了一种基于光学快速轴向扫描的深度信息提取方法，工作过程如下：S1：CCD相机置于透镜的焦面上，电控变焦透镜置于透镜前方，待观测物体置于电控变焦透镜变焦区域内。S2：由工作站计算机控制CCD相机和电控变焦透镜的同步。控制电控变焦透镜的驱动电流，驱动电流每增大一步，工作站计算机程序同步触发CCD相机采集图像。S3：输送给电控变焦透镜的驱动电流在0

【技术实现步骤摘要】
一种基于光学快速轴向扫描的深度信息提取方法


[0001]本专利技术涉及光学成像领域，特别是涉及一种基于光学快速轴向扫描的深度信息提取方法。

技术介绍

[0002]物体深度信息提取在物体三维形貌测量工作中起着支撑作用，物体深度信息提取技术是对物体的表面进行测量从而得到物体轮廓信息，进而通过三维重建算法恢复物体形貌。物体深度信息提取得到的数据，可用于分析平面度、粗糙度、翘曲度等物体表面质量指标。随着现代科学技术的发展，物体深度信息提取技术被广泛应用于工业制造、智能识别、卫星导航、虚拟现实、医学设备等各个领域。精密测量设备的研发与制造能力是国家核心竞争力的重要体现，但国家对精密测量设备的需求与我国现有的技术水平不足之间的矛盾日益突出，使我国在关键
被“卡脖子”，制约了我国科技工业的发展。传统聚焦法在测量物体时结构简单、测量结果精确，具有广阔的应用前景。但其需要通过移动物体来采集图像序列，测量过程耗时较长，也不能对运动物体进行测量。而且系统需要机械位移部件，还会带来可靠性问题。因此，有必要研究出一种扫描速度快、精度高、且无需移动物体的深度测量方法本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于光学快速轴向扫描的深度信息提取方法，其特征在于：所述方法通过由CCD相机(1)、电控变焦透镜(2)、工作站(3)构成的光学轴向扫描模块实现，包括以下步骤：S1：CCD相机(1)置于透镜的焦面上，电控变焦透镜(2)置于透镜前方，待观测物体置于电控变焦透镜(2)变焦区域内；S2：由工作站(3)计算机控制CCD相机(1)和电控变焦透镜(2)的同步，控制电控变焦透镜(2)的驱动电流，驱动电流每增大一步，工作站(3)计算机程序同步触发CCD相机(1)采集图像；S3：输送给电控变焦透镜(2)的驱动电流在0
‑
150mA范围内以固定的步长渐进增大，成像焦点在一定范围内渐进式轴向移动，CCD相机(1)同步获取不同聚焦深度的图片序列，通过超像素方差索引提取在...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋贤林，刘且根，李子龙，余秀文，钟文华，汪贵军，董嘉庆，
申请(专利权)人：南昌大学，
类型：发明
国别省市：