热插拔测试装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种热插拔测试装置及系统，热插拔测试装置包括：第一连接器，用于被测器件的插入；第二连接器，用于插入至测试主机；开关，第一连接器与第二连接器通过开关相连；逻辑控制模块，与开关电连接，逻辑控制模块用于输出第一控制信号至开关，以控制开关的导通，逻辑控制模块还用于输出第二控制信号至开关，以控制开关的断开，第一控制信号包括通断信号和第一导通信号，第二控制信号包括通断信号和第一断开信号，通断信号包括持续时间随机的第二导通信号和第二断开信号。本发明专利技术实施例提供的热插拔测试装置及系统，避免了人工延误导致的测试效率较低，提高了热插拔测试效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
热插拔测试装置及系统


[0001]本专利技术涉及热插拔测试
，特别是涉及热插拔测试装置及系统。

技术介绍

[0002]热插拔(HotSwap)，即带电插拔，指在不关闭服务器或计算机的电源的情况下，将板卡、硬盘等外插设备插入或拔出服务器或计算机。
[0003]现有技术中，为了验证板卡、硬盘等外插设备的热插拔功能，需进行热插拔测试。在热插拔测试时通常是通过人工插拔的方式进行测试的。然而，热插拔测试需反复进行，且热插拔测试次数多达上千次，人工插拔时操作繁琐且消耗的时间较长，另人工多次插拔时会存在延误，进而导致热插拔测试的效率较低。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例的目的在于提供一种热插拔测试装置及系统，以解决现有技术中热插拔测试的效率较低的技术问题。具体技术方案如下：
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供一种热插拔测试装置，包括：
[0006]第一连接器，用于被测器件的插入；
[0007]第二连接器，用于插入至测试主机；
[0008]开关，所述第一连接器与所述第二连接器通过所述开关相连；
[0009]逻辑控制模块，与所述开关电连接，所述逻辑控制模块用于输出第一控制信号至所述开关，以控制所述开关的导通，所述逻辑控制模块还用于输出第二控制信号至所述开关，以控制所述开关的断开，所述第一控制信号包括通断信号和第一导通信号，所述第二控制信号包括通断信号和第一断开信号，所述通断信号包括持续时间随机的第二导通信号和第二断开信号。
[0010]可选地，所述被测器件包括与所述第一连接器相配合的第三连接器，所述第三连接器包括长管脚和短管脚，所述第一连接器包括用于与所述长管脚相连的第一端子和用于与所述短管脚相连的第二端子，所述开关包括用于连接所述第一端子与所述第二连接器的第一开关和用于连接所述第二端子与所述第二连接器的第二开关；
[0011]所述逻辑控制模块用于输出所述第一控制信号至所述第一开关，并在预设延时后输出所述第一控制信号至所述第二开关，所述逻辑控制模块还用于输出所述第二控制信号至所述第二开关，并在所述预设延时后输出所述第二控制信号至所述第一开关。
[0012]可选地，所述通断信号为矩形波信号，所述第二导通信号为第二高电平信号，所述第二断开信号为第二低电平信号，所述第二高电平信号的持续时间与所述第二低电平信号的持续时间均是随机的，所述矩形波信号的持续时间大于或等于1毫秒，且小于10毫秒。
[0013]可选地，所述矩形波信号包括多个所述第二高电平信号和多个所述第二低电平信号，所述第二高电平信号或所述第二低电平信号的持续时间大于或等于20纳秒，且小于或等于100微秒；
[0014]所述逻辑控制模块用于通过随机函数生成所述矩形波信号中包括的每个所述第二高电平信号的持续时间和每个所述第二低电平信号的持续时间。
[0015]可选地，还包括与所述逻辑控制模块电连接的测试间隔时间输入模块，所述逻辑控制模块用于从所述测试间隔时间输入模块获取测试间隔时间，所述逻辑控制模块用于输出第二控制信号至所述开关以控制所述开关的断开，并在所述测试间隔时间之后输出第一控制信号至所述开关以控制所述开关的导通。
[0016]可选地，还包括与所述逻辑控制模块电连接的预设测试次数输入模块，所述逻辑控制模块用于从所述预设测试次数输入模块获取预设测试次数，所述逻辑控制模块用于对当前测试次数进行计数，所述逻辑控制模块还用于在所述当前测试次数达到所述预设测试次数时，结束热插拔测试。
[0017]可选地，还包括与所述逻辑控制模块电连接的预设延时输入模块，所述逻辑控制模块用于从所述预设延时输入模块获取所述预设延时。
[0018]可选地，还包括与所述逻辑控制模块电连接的显示模块，所述逻辑控制模块用于将所述当前测试次数发送至所述显示模块，所述显示模块用于显示所述当前测试次数。
[0019]可选地，还包括与所述逻辑控制模块电连接的测试开关，所述测试开关被触发打开时用于向所述逻辑控制模块发送开始信号，所述逻辑控制模块用于接收开始信号，并输出第一控制信号至所述开关以控制所述开关的导通。
[0020]第二方面，本专利技术实施例提供一种热插拔测试系统，包括上述任一项热插拔测试装置。
[0021]本专利技术实施例提供的热插拔测试装置及系统中，被测器件插入至第一连接器，第二连接器插入至测试主机，通过逻辑控制模块输出的第一控制信号或第二控制信号，可控制开关的导通或断开，从而模拟被测器件插入测试主机或拔出测试主机，即本专利技术实施例提供的热插拔测试装置及系统可以在不对被测器件进行反复插拔的情况下自动实现热插拔测试，避免了人工延误导致的测试效率较低，提高了热插拔测试效率；此外，通过第一控制信号和第二控制信号中通断信号的设置，能够模拟人工插拔时的抖动，进而保证了对人工插拔的模拟效果；另外，本专利技术实施例提供的热插拔测试装置及系统可以在不对被测器件进行反复插拔的情况下自动实现热插拔测试，即无需人工繁琐操作，自动化程度较高，降低了人力成本；另还能避免因反复多次插拔导致的被测器件与测试主机的连接处的损坏。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
[0023]图1为本专利技术实施例中提供的一种热插拔测试装置的结构示意图；
[0024]图2为本专利技术实施例中提供的另一种热插拔测试装置的结构示意图；
[0025]图3为本专利技术实施例中提供的一种热插拔测试系统的结构示意图。
[0026]附图标记：
[0027]10
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逻辑控制模块，11
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第一连接器，12
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第二连接器，13
‑
开关，14
‑
测试间隔时间输入模块，15
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预设测试次数输入模块，16
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预设延时输入模块，17
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显示模块，18
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测试开关，20
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被测器件，21
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第三连接器，30
‑
测试主机。
具体实施方式
[0028]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行描述。
[0029]本专利技术所举实施例只用于解释本专利技术，并非用于限定本专利技术的范围。在下列段落中参照附图以举例方式更具体地描述本专利技术。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本专利技术实施例的目的。
[0030]热插拔技术是实现电源连续运行和不停机维护的关键技术。目前，为了验证板卡、硬盘等外插设备的热插拔功能，需进行热插拔测试。在热插拔测试时通常是通过人工插拔的方式进行测试的。然而，热插拔测试需反复进行，且热插拔测试次数多达上千次，人工插拔时操作繁琐且消耗的时间较长，另人工多次插拔时会存在延误，进而导致热插拔的效率较低；另热插拔测试时可能存在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种热插拔测试装置，其特征在于，包括：第一连接器，用于被测器件的插入；第二连接器，用于插入至测试主机；开关，所述第一连接器与所述第二连接器通过所述开关相连；逻辑控制模块，与所述开关电连接，所述逻辑控制模块用于输出第一控制信号至所述开关，以控制所述开关的导通，所述逻辑控制模块还用于输出第二控制信号至所述开关，以控制所述开关的断开，所述第一控制信号包括通断信号和第一导通信号，所述第二控制信号包括通断信号和第一断开信号，所述通断信号包括持续时间随机的第二导通信号和第二断开信号。2.根据权利要求1所述的热插拔测试装置，其特征在于，所述被测器件包括与所述第一连接器相配合的第三连接器，所述第三连接器包括长管脚和短管脚，所述第一连接器包括用于与所述长管脚相连的第一端子和用于与所述短管脚相连的第二端子，所述开关包括用于连接所述第一端子与所述第二连接器的第一开关和用于连接所述第二端子与所述第二连接器的第二开关；所述逻辑控制模块用于输出所述第一控制信号至所述第一开关，并在预设延时后输出所述第一控制信号至所述第二开关，所述逻辑控制模块还用于输出所述第二控制信号至所述第二开关，并在所述预设延时后输出所述第二控制信号至所述第一开关。3.根据权利要求1所述的热插拔测试装置，其特征在于，所述通断信号为矩形波信号，所述第二导通信号为第二高电平信号，所述第二断开信号为第二低电平信号，所述第二高电平信号的持续时间与所述第二低电平信号的持续时间均是随机的，所述矩形波信号的持续时间大于或等于1毫秒，且小于10毫秒。4.根据权利要求3所述的热插拔测试装置，其特征在于，所述矩形波信号包括多个所述第二高电平信号和多个所述第二低电平信号，所述第二高电平信号或所述第二低电平信号的持续时间大于...

【专利技术属性】
技术研发人员：李平，陈江，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：