一种提高位置传感器采样精度的电路制造技术

本发明专利技术公开了一种提高位置传感器采样精度的电路，包括：参考电压模块、传感器接口模块、滤波模块、一级放大模块、二级放大模块；所述参考电压模块与所述传感器接口模块相连，用于向所述接口模块提供参考电压；所述滤波模块与所述传感器接口模块相连，用于对所述接口模块的输入信号电压按频率进行选择，避免高频信号的干扰，且稳定电路的电压；所述一级放大模块与所述滤波模块相连，用于对所述滤波模块传出电压的初次放大；所述二级放大模块与所述一级放大模块相连，用于对所述一级放大模块传出电压的再次放大。本发明专利技术的电路不仅能够大幅提高位置传感器的采样精度，还可以通过改变电阻器件的参数，在众多电路中应用，具有很高的通用性。用性。用性。

【技术实现步骤摘要】
一种提高位置传感器采样精度的电路


[0001]本专利技术涉及传感器
，更具体地讲，涉及一种提高位置传感器采样精度的电路。

技术介绍

[0002]位置传感器是能感受被测物的位置并转换成可用输出信号的传感器。位置传感器被广泛应用于各种工业和商业应用中，从高端军用和防务应用到低成本的汽车和家用电器。
[0003]传统的提高位置传感器采样精度的方案是使用运算放大器组成同向放大电路针对单片机的电压检测范围调整输入信号电压范围，使得电压检测范围与最大信号电压幅度进行匹配。但是，这种只使用同向放大电路的方案会使输入信号电压的下限值与上限值一并增大，浪费了电压检测范围中低电压的部分，而且采样精度提高的效果并不明显。
[0004]本专利技术中的电路方案能选择要放大的输入信号电压段，将其从中值区分，将上限值增大的同时，把下限值减小，充分利用了单片机电压检测范围中的低电压部分，大幅提高位置传感器的采样精度。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供了一种提高位置传感器采样精度的电路，以解决传统位置传感器采样精度不高、电压检测范围本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种提高位置传感器采样精度的电路，其特征在于，包括：参考电压模块、传感器接口模块、滤波模块、一级放大模块、二级放大模块；参考电压模块与传感器接口模块相连，参考电压模块用于向传感器接口模块提供参考电压，且隔离供源电路与传感器接口模块，消除之间的相互影响；滤波模块与传感器接口模块相连，滤波模块用于对传感器接口模块的输入信号电压按频率进行选择，避免高频信号的干扰，且稳定电路的电压；一级放大模块与滤波模块相连，一级放大模块用于对滤波模块传出电压的初次放大；二级放大模块与一级放大模块相连，二级放大模块用于对一级放大模块传出电压的再次放大。2.如权利要求1所述的提高位置传感器采样精度的电路，其特征在于，所述参考电压模块包括：电阻R1、电阻R2、运算放大器U1、直流电源；运算放大器U1的正极信号输入端分别与电阻R1、电阻R2的一端相连，运算放大器U1的负极信号输入端与运算放大器U1的信号输出端相连，运算放大器U1的正电源端与供源电压相连，运算放大器U1的负电源端接地；电阻R1的另一端与直流电源相连；电阻R2的另一端接地。3.如权利要求1所述的提高位置传感器采样精度的电路，其特征在于，所述传感器接口模块包括：电阻式位置传感器J1、电阻R3；电阻R3的一端作为检测点X1，与电阻式位置传感器J1的一个引脚相连，电阻R3的另一端接地；电阻式位置传感器J1的另一引脚与运算放大器U1的信号输出端、负极信号输入端相连。4.如权利要求1所述的提高位置传感器采样精度的电路，其特征在于，所述滤波模块包括：电阻R4、电容C1、稳压管D1；电阻R4的一端与检测点X1相连；稳压管D1的负极作为检测点X2，分别与电阻R4的另一端、电容C1的一端相连，稳压管D1的正极接地；电容C1的另一端接地。5.如权利要求1所述的提高位置传感器采样精度的电路，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘立，魏海峰，王浩陈，
申请(专利权)人：江苏科技大学，
类型：发明
国别省市：