羟基化学键取向红外光谱测角仪制造技术

本实用新型专利技术涉及一种羟基化学键取向红外光谱测角仪，包括空心的基体，所述基体上端设置有刻度盘，所述基体后端设置有透光狭缝，所述透光狭缝两侧为调整板，所述调整板上设置有微调螺栓，所述基体前端设置有载样器，所述载样器上设置有观察窗口，所述刻度盘上设置有指针，所述基体下端设置有调节钮，所述载样器上下设置有转轴，所述载样器通过所述转轴连接所述指针和调节钮。利用本实用新型专利技术能够直观得到复杂的量子化学计算结果相近的数据，本实用新型专利技术产品体积小，结构简单并且制造成本低廉。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种羟基化学键取向红外光谱测角仪。
技术介绍
解决粘土矿物羟基取向问题，为许多学者所关注，羟基(H0-化学键)在天然矿物或人工矿物中，在矿物晶体结构中具有很重要的意义，它的数量，占位和方向能够反映晶体结构微观特性，尤其是化学键的方向特性可提供晶体结构的微观信息。原来测试方法(中子衍射法)测试利用羟基对红外的敏感性，根据吸收强度与入射光电矢量和振动电偶极矩的关系以及片状粘土矿物定向羟基的分布特征，建立羟基相对于(001)面取向的电矩圆锥模型进行复杂的计算得出结论；市场缺乏一种直观的得到复杂的量子化学计算结果数据，体积小、结构简单又经济实用的羟基化学键取向红外光谱测角仪。
技术实现思路
本技术的目的是针对上述现有技术的不足，提供一种直观得到与复杂的量子化学计算结果相近的数据，并且体积小，结构简单的羟基化学键取向红外光谱测角仪。 本技术解决上述技术问题采取的技术方案是一种羟基化学键取向红外光谱测角仪，其特征在于包括空心的基体，所述基体上端设置有水平的有角度读数的刻度盘，所述基体后端设置有用于红外光穿过的透光狭缝，所述透光狭缝两侧为调整板，所述调整板上设置有用于调节所述透光狭缝大小的微本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种羟基化学键取向红外光谱测角仪，其特征在于包括空心的基体，所述基体上端设置有水平的有角度读数的刻度盘，所述基体后端设置有用于红外光穿过的透光狭缝，所述透光狭缝两侧为调整板，所述调整板上设置有用于调节所述透光狭缝大小的微调螺栓，所述基体前端设置有载样器，所述载样器上设置有用于透过红外光并且与所述透光狭缝平齐的观察窗口，所述刻度盘上设置有指针，所述基体下端设置有用于调节所述载样器旋转角度的调节钮，所述载样器上下设置有用于所述载样器旋转的转轴，所述载样器通过所述转轴连接所述指针，所述载样器通过所述转轴连接所述调节钮。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨正华，吴永新，
申请(专利权)人：长安大学，
类型：实用新型
国别省市：87[中国|西安]