多核处理器稳定性测试方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:37962642 阅读:14 留言:0更新日期:2023-06-30 09:37
本发明专利技术实施例公开了一种多核处理器稳定性测试方法、装置、电子设备及存储介质,其中,方法包括:在待测设备的待测多核处理器的当前工作频率下,采用目标测试程序对所述待测多核处理器进行加压处理;在确定所述待测设备的所述待测多核处理器生成当前稳定性测试信息的情况下,从所述待测多核处理器的各个处理器内核中确定目标内核,并更新所述目标内核的当前工作频率;返回执行在待测设备的待测多核处理器的当前工作频率下,采用目标测试程序对所述待测多核处理器进行加压处理的操作,直至确定满足多核处理器稳定性测试终止条件。本发明专利技术实施例的技术方案能够提高多核处理器稳定性测试的可靠性和准确性。试的可靠性和准确性。试的可靠性和准确性。

【技术实现步骤摘要】
多核处理器稳定性测试方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及测试
,尤其涉及一种多核处理器稳定性测试方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]目前,各产业对于设备平台系统运行的稳定性要求越来越高,而处理器的稳定性也是影响设备平台系统运行稳定性的重要因素之一。因此,在设备出厂前通常需要对其处理器进行稳定性测试。
[0003]目前,对处理器进行稳定性测试的方法包括两种:第一种完全依靠人力手动测试,需要人工重复切换处理器的高低工作频率。第二种是自动测试方式,需要触发处理器运行特定的测试程序切换处理器的高低工作频率,获取该处理器运行在该特定的测试程序的过程中的状态数据,判断处理器是否出现死机或重启等异常情况,以确定处理器的稳定性测试结果。
[0004]专利技术人在实现本专利技术的过程中,发现现有技术存在如下缺陷:人力手动测试的方式需要人力重复相同的工作,浪费大量的人力资源。同时,人力手动进行处理器的稳定性测试往往会出现处理器的工作频率被频繁切换的问题,可能会导致处理器的供电芯片出现过流保护现象本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多核处理器稳定性测试方法,其特征在于,包括:在待测设备的待测多核处理器的当前工作频率下,采用目标测试程序对所述待测多核处理器进行加压处理;在确定所述待测设备的所述待测多核处理器生成当前稳定性测试信息的情况下,从所述待测多核处理器的各个处理器内核中确定目标内核,并更新所述目标内核的当前工作频率;返回执行在待测设备的待测多核处理器的当前工作频率下,采用目标测试程序对所述待测多核处理器进行加压处理的操作,直至确定满足多核处理器稳定性测试终止条件。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述采用目标测试程序对所述待测多核处理器进行加压处理之前,还包括:根据设备配置表获取各个平台设备的设备功耗信息;根据所述设备功耗信息从所述平台设备中筛选所述待测设备;获取所述待测设备中待测多核处理器的当前工作频率及所述待测多核处理器支持的全部工作频率。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在待测设备的待测多核处理器的当前工作频率下,采用目标测试程序对所述待测多核处理器进行加压处理,包括:根据所述待测设备所属的平台类型确定至少一个稳定性测试程序;随机选择其中一个所述稳定性测试程序作为所述目标测试程序;根据所述待测多核处理器的实际运行数据生成加压序列;采用所述目标测试程序按照所述加压序列对所述待测多核处理器依次进行加压处理。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待测多核处理器的数量为多个;所述从所述待测多核处理器的各个处理器内核中确定目标内核,包括:依次遍历各所述待测多核处理器,并将当前遍历待测多核处理器的全部处理器内核作为所述目标内核;在确定所述待测多核处理器遍历完成后,将所述待测多核处理器的全部处理器内核作为所述目标内核。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待测多核处理器的数量为多个;所述待测多核处理器包括多个晶片DIE;所述从所述待测多核处理器的各个处理器内核中确定目标内核,包括:依次遍历各所述待测多核处理器的DIE,并将当前遍历待测多核处理器的当前遍历DIE的全部处理器内核作为所述目标内...

【专利技术属性】
技术研发人员:丁健云陈杰房振南柴兆文黄建新
申请(专利权)人:中科可控信息产业有限公司
类型:发明
国别省市:

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