一种产品测试方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种产品测试方法、装置、设备及存储介质，该产品测试方法包括：接收测试任务指令，所述测试任务指令包含待测试产品名称；生成和所述待测试产品名称对应的测试方案；接收基于所述测试方案进行测试生成的测试数据；基于所述测试数据获取测试过程中发现的缺陷数据；于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，并将所述缺陷数据和所述解决方案发送至设定流程节点进行缺陷管理；根据所述测试数据和所述缺陷管理过程中产生的数据生成测试报告并更新所述缺陷数据库。本发明专利技术实施例能够根据缺陷数据库获取测试过程中发现的缺陷的解决方案，方便测试人员得到结论，提高测试效率。测试效率。测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种产品测试方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及测试管理
，尤其涉及一种产品测试方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着电子产品、智能电网的发展，产品测试面临着越来越多的要求与挑战，软件的规模及复杂度也大大提高。
[0003]目前大部分测试方法以人工为主，当检测出产品缺陷时需要人工去分析该缺陷的解决方案，这就要求测试人员需要具有较丰富的测试经验，且测试人员需要花费较多的时间才能够得到结论，测试效率较低。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种产品测试方法、装置、设备及存储介质，以解决现有的测试方法测试效率低的技术问题。
[0005]本专利技术提出的技术方案如下：
[0006]本专利技术实施例第一方面提供了一种产品测试方法，包括：接收测试任务指令，所述测试任务指令包含待测试产品名称；生成和所述待测试产品名称对应的测试方案；接收基于所述测试方案进行测试生成的测试数据；基于所述测试数据获取测试过程中发现的缺陷数据；于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种产品测试方法，其特征在于，包括：接收测试任务指令，所述测试任务指令包含待测试产品名称；生成和所述待测试产品名称对应的测试方案；接收基于所述测试方案进行测试生成的测试数据；基于所述测试数据获取测试过程中发现的缺陷数据；于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，并将所述缺陷数据和所述解决方案发送至设定流程节点进行缺陷管理；根据所述测试数据和所述缺陷管理过程中产生的数据生成测试报告并更新所述缺陷数据库。2.根据权利要求1所述的产品测试方法，其特征在于，所述生成和所述待测试产品名称对应的测试方案，包括：根据所述待测试产品名称于历史测试经验库和异常问题库中获取关联的测试用例，并基于所述测试用例生成对应的测试方案。3.根据权利要求2所述的产品测试方法，其特征在于，所述根据所述待测试产品名称于历史测试经验库和异常问题库中获取关联的测试用例，并基于所述测试用例生成对应的测试方案，包括：于异常问题库中获取和所述待测试产品名称关联的异常问题和异常原因；于历史测试经验库中获取用于检测所述异常和所述异常原因的测试用例将所述测试用例进行聚合，生成测试方案。4.根据权利要求1所述的产品测试方法，其特征在于，在根据所述测试任务生成测试方案后，包括：接收测试设备信息和测试人员的任务信息；根据所述测试设备信息和所述任务信息将所述测试任务和测试方案分配至对应的测试人员。5.根据权利要求1所述的产品测试方法，其特征在于，所述于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，包括：获取所述缺陷数据的日志文件；将所述日志文件和所述缺陷数据库中的历史信息进行匹配，获取所述缺陷数据的解决方案。6.根据权利要求1所述的产品测试方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴书旭，吴斌，倪巍梨，杨忠，章芸芸，佟乐，黄林弟，
申请(专利权)人：浙江正泰仪器仪表有限责任公司，
类型：发明
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