本实用新型专利技术公开了一种电路板老化测试装置，包括底板，底板顶部的一端固定连接有立板，立板一侧的底部固定连接有老化测试箱，老化测试箱的顶部开设有通槽，通槽的内部贯穿有竖杆，竖杆一侧的底端固定连接有放置架，竖杆设置有两组。本实用新型专利技术通过滑块与滑槽之间的滑动连接，且在拉杆、竖杆、放置架与滑块依次固定连接的情况下，竖杆与通槽内部的贯穿，实现放置架在老化测试箱内部的移动，便于在待测电路板实现老化测试完成之后，进行断电，并将已经测试好的待测电路板移出老化测试箱的内部，对待测电路板进行更换，通过手动的方式，可降低老化测试箱内部的温度，从而提高了转移老化测试的精确性，延长了装置的使用寿命。延长了装置的使用寿命。延长了装置的使用寿命。
【技术实现步骤摘要】
一种电路板老化测试装置
[0001]本技术涉及电路板老化
，具体为一种电路板老化测试装置。
技术介绍
[0002]电路板是众多电子产品中必不可少的部件，需要具有较高的稳定性，随着科技的不断发展，电子产品的升级和创新，电路板技术也在不断地升级。
[0003]在电子产品投入生产的时候，需要对其要安装的电路板进行老化测试，提高其稳定性，才能投入使用，常见的老化主要有光照老化、湿热老化、热分老化，老化测试是利用发热丝加热气体，使得气流吹到电路板上进行加热，实现对电路板的老化测试。
[0004]目前的一种电路板老化测试装置，如公开号CN2015180665U的专利所述包括待测电路板，包括箱体，箱体的一侧转动连接有多个舱门，箱体的内部开设有多个检测舱，检测舱内部的两个端角均固定有驱动电机，两个驱动电机的输出端均固定有螺纹杆，且螺纹杆与箱体之间转动连接，螺纹杆的外侧螺纹连接有滑块，滑块的顶部固定有放置架。本技术通过驱动电机、螺纹杆和滑块之间的相互配合，使得装置可以在老化测试结束后，及时将电路板断电，并将测试好的电路板推出装置，提醒工作人员更换新的电路板，且通过第三推杆电机、转动条和舱门之间的相互配合，使得装置可以为电路板提供一个相对封闭的环境进行测试。
[0005]针对上述中的相关技术，申请人认为上述技术方案中通过驱动电机、螺纹杆和滑块之间的相互配合实现电路板的断电并提醒工作人员更换新的电路板，通过机械结构实现电路板的断电和取放，机械的运行会产生较高的热量，而装置的内部进行老化测试时就是通过热风实现测试，两者同时产生热量，会降低装置的老化测试精准性，缩短了老化测试装置的使用寿命。
技术实现思路
[0006]本技术的目的在于提供一种电路板老化测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出电路板老化测试装置，会因为机械的运行会产生较高的热量，而装置的内部进行老化测试时就是通过热风实现测试，两者同时产生热量，会降低装置的老化测试精准性，缩短了老化测试装置的使用寿命的问题。
[0007]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种电路板老化测试装置，包括底板，所述底板顶部的一端固定连接有立板，所述立板一侧的底部固定连接有老化测试箱，所述老化测试箱的顶部开设有通槽，所述通槽的内部贯穿有竖杆，所述竖杆一侧的底端固定连接有放置架，竖杆设置有两组，两组所述竖杆位于放置架的两侧，所述放置架底部的一端固定连接有滑块，所述老化测试箱内部的底壁开设有供应于滑块滑动连接有滑槽，所述老化测试箱内侧壁一端的底部开设有通孔，所述放置架的顶端设置有待测电路板，所述放置架内壁的一侧固定连接有两个第二电动推杆，所述第二电动推杆的伸缩端固定连接有固定板，所述固定板的顶端固定连接有供电接头。
[0008]作为本技术的一种优选方案，所述老化测试箱内部顶壁的中间位置固定连接有发热丝，所述老化测试箱内部位于发热丝的下方固定连接有风机。
[0009]作为本技术的一种优选方案，所述通孔的一侧设置有密封结构，所述密封结构包括有固定连接于老化测试箱外侧壁上的连接杆一，所述连接杆一的一端转动连接有连接杆二，所述连接杆二的底端转动连接有连接杆三，所述连接杆三远离连接杆二的一端固定连接有盖板，所述盖板远离连接杆三的一侧固定连接有密封塞，所述密封塞远离盖板一侧的顶端固定连接有连接弹簧，所述连接弹簧的顶端固定连接有连接块，所述连接块远离连接弹簧的一端与老化测试箱的内侧壁固定连接。
[0010]作为本技术的一种优选方案，所述竖杆设置有两组，两组所述竖杆位于放置架的两侧。
[0011]作为本技术的一种优选方案，所述竖杆一侧的顶端固定连接有拉杆，所述竖杆一侧远离拉杆的一侧固定连接有插杆，所述立板的内侧壁开设有供应于插杆插接连接的插槽，所述插槽的内部固定连接有橡胶圈，所述插杆贯穿于橡胶圈的内部。
[0012]作为本技术的一种优选方案，所述放置架顶部的一端固定连接有两组第一电动推杆，所述第一电动推杆的伸缩端固定连接有固定块。
[0013]作为本技术的一种优选方案，所述放置架顶部远离第一电动推杆的一端固定连接有时间继电器，所述放置架顶部靠近时间继电器的一端固定连接有信号控制器，所述放置架顶部靠近信号控制器的一端固定连接有信号灯。
[0014]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0015](1)通过设置有老化测试箱、通孔、滑槽、滑块、竖杆、拉杆、放置架以及通槽，能够在装置对电路板进行老化测试的过程中，通过滑块与滑槽之间的滑动连接，且在拉杆、竖杆、放置架与滑块依次固定连接的情况下，竖杆与通槽内部的贯穿，实现放置架在老化测试箱内部的移动，便于在待测电路板实现老化测试完成之后，进行断电，并将已经测试好的待测电路板移出老化测试箱的内部，对待测电路板进行更换，通过手动的方式，可降低老化测试箱内部的温度，从而提高了转移老化测试的精确性，延长了装置的使用寿命；
[0016](2)通过设置有连接杆一、连接杆二、连接杆三、盖板、密封塞、连接弹簧以及连接块，能够在装置对电路板进行老化测试的过程中，通过放置架的推力作用，实现密封塞与通孔内部的脱离，通过连接杆三、连接杆二和连接杆一实现对密封塞的限位支撑，通过连接弹簧、密封塞与连接块之间的固定连接，能够在密封塞自身的重力作用下，重新实心密封塞与通孔之间的密封，使得待测电路板在进行老化测试的时候，可以达到一个较好的密封环境，且在更换待测电路板的时候，即可实现老化测试箱的打开和密封，提高了装置的使用便捷性；
[0017](3)通过设置有插杆、插槽以及橡胶圈，能够在装置对电路板进行老化测试的过程中，通过插杆与插槽内部的插接连接，并且在橡胶圈套设于插杆外部的情况下，可在待测电路板置于老化测试箱的内部之后，实现对竖杆的限位，从而保持待测电路板在进行老化测试时具有较好的稳定性。
附图说明
[0018]图1为本技术的主视剖视结构示意图；
[0019]图2为本技术的放置架俯视结构示意图；
[0020]图3为本技术的图1中A处放大结构示意图；
[0021]图4为本技术的密封结构放大结构示意图；
[0022]图5为本技术的放置架局部放大结构示意图。
[0023]图中：1、底板；2、老化测试箱；201、通孔；202、发热丝；203、风机；3、滑槽；4、滑块；5、立板；6、竖杆；7、拉杆；8、放置架；9、通槽；10、密封结构；1001、连接杆一；1002、连接杆二；1003、连接杆三；1004、盖板；1005、密封塞；1006、连接弹簧；1007、连接块；11、待测电路板；12、时间继电器；13、信号控制器；14、信号灯；15、固定块；16、第一电动推杆；17、插杆；18、插槽；19、橡胶圈；20、第二电动推杆；21、固定板；22、供电接头。
具体实施方式
[0024]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电路板老化测试装置，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)顶部的一端固定连接有立板(5)，所述立板(5)一侧的底部固定连接有老化测试箱(2)，所述老化测试箱(2)的顶部开设有通槽(9)，所述通槽(9)的内部贯穿有竖杆(6)，所述竖杆(6)一侧的底端固定连接有放置架(8)，所述放置架(8)底部的一端固定连接有滑块(4)，所述老化测试箱(2)内部的底壁开设有供应于滑块(4)滑动连接有滑槽(3)，所述老化测试箱(2)内侧壁一端的底部开设有通孔(201)，所述放置架(8)的顶端设置有待测电路板(11)，所述放置架(8)内壁的一侧固定连接有两个第二电动推杆(20)，所述第二电动推杆(20)的伸缩端固定连接有固定板(21)，所述固定板(21)的顶端固定连接有供电接头(22)。2.根据权利要求1所述的一种电路板老化测试装置，其特征在于：所述老化测试箱(2)内部顶壁的中间位置固定连接有发热丝(202)，所述老化测试箱(2)内部位于发热丝(202)的下方固定连接有风机(203)。3.根据权利要求1所述的一种电路板老化测试装置，其特征在于：所述通孔(201)的一侧设置有密封结构(10)，所述密封结构(10)包括有固定连接于老化测试箱(2)外侧壁上的连接杆一(1001)，所述连接杆一(1001)的一端转动连接有连接杆二(1002)，所述连接杆二(1002)的底端转动连接有连接杆三(1003)，所述连接杆三(1003)远离连接杆二(1002)的一端固定连接有盖板...
【专利技术属性】
技术研发人员：李松威，黄宝玉，
申请(专利权)人：佛山市南海区科莱声电器有限公司，
类型：新型
国别省市：
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