一种二极管阵列检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术实施例提供的一种二极管阵列检测装置，涉及光信号检测技术领域。二极管阵列检测装置包括安装架、光源模组、分光模组及散热模组。光源模组与安装架连接，分光模组也与安装架连接，并且分光模组与光源模组连接，散热模组包括散热框，散热框与安装架连接且共同限定出散热通道，所述光源模组至少部分位于散热通道内，所述散热孔或安装架中的至少一个开设有与散热通道连通的进风口。光源模组进行热交换后的气体会被限定在散热通道内流动，直至从散热通道远离光源模组的一端排出，避免了光源模组散发的气体影响二极管阵列检测装置内的其它器件。内的其它器件。内的其它器件。

【技术实现步骤摘要】
一种二极管阵列检测装置


[0001]本技术涉及光信号检测
，具体而言，涉及一种二极管阵列检测装置。

技术介绍

[0002]二极管阵列检测装置是一种光吸收检测器，它采用光电二极管阵列作为检测元件，形成多通道并行工作，可对光栅分离的所有波长的光信号进行检测，从而迅速决定具有最佳选择性和灵敏度的波长。可得任意波长的色谱图及任意时间的光谱图，具有色谱峰纯度鉴定、光谱图检索等功能，为定性、定量分析提供更丰富的信息。
[0003]经专利技术人研究发现，现有的光吸收检测器中的光源模组所散发的热量容易影响二极管阵列检测装置内的其它器件。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种二极管阵列检测装置，其设置有散热模组，散热模组具有散热框，散热框与安装架连接且共同限定出散热通道，散热框的一端与光源模组连接，进而光源模组所散发的热量能够通过独立的散热通道排出，因此能够有效的避免光源模组所散发的热量影响二极管阵列检测装置内的其它器件。
[0005]本技术的实施例是这样实现的：
[0006]第一方面，本技术提供一种二极管阵列检测装置，包括：
[0007]安装架；
[0008]光源模组，光源模组与安装架连接；
[0009]分光模组，分光模组与安装架连接，分光模组与光源模组连接；
[0010]散热模组，散热模组包括散热框，散热框与安装架连接且共同限定出散热通道，光源模组至少部分位于散热通道内，散热框或安装架中的至少一个开设有与散热通道连通的进风口。
[0011]在可选的实施方式中，光源模组设置有至少部分位于散热通道内的散热器，散热器用于吸收光源模组的热量。
[0012]在可选的实施方式中，散热模组还包括设置于散热通道内的散热风扇，散热风扇位于散热器远离光源模组的一侧，散热风扇用于将光源模组散发的热量排出散热通道外。
[0013]在可选的实施方式中，进风口设置于安装架且进风口的开口方向与散热通道的轴线方向呈夹角。
[0014]在可选的实施方式中，光源模组包括光源壳体及设置于光源壳体内的发光组件，光源壳体开设有出光口，光源壳体外侧设置有定位连接件，定位连接件的中心、出光口的中心及发光组件的发光中心在预设直线上，定位连接件远离光源壳体的一端与分光模组连接。
[0015]在可选的实施方式中，发光组件包括第一发光件、第二发光件及聚焦透镜，聚焦透镜位于第一发光件及第二发光件之间。
[0016]在可选的实施方式中，二极管阵列检测装置还包括隔热件，隔热件套设于定位连接件且位于定位连接件与分光模组之间。
[0017]在可选的实施方式中，分光模组包括分光壳体及设置于分光壳体内的流通池、反射镜、狭缝件、光栅及阵列传感器，分光壳体开设有进光口，流通池的中心、进光口的中心、定位连接件的中心、出光口的中心及发光组件的发光中心在预设直线上，其中发光组件发出的光能够依次经过流通池、反射镜、狭缝件、光栅及阵列传感器。
[0018]在可选的实施方式中，二极管阵列检测装置还包括聚光透镜组，聚光透镜组包括相连接且同轴设置的第一透镜座及第二透镜座，第一透镜座的尺寸小于第二透镜座的尺寸，第二透镜座靠近第一透镜座的端面抵持于分光壳体的内壁，第一透镜座用于依次插接于进光口及定位连接件。
[0019]在可选的实施方式中，分光模组还包括设置于分光壳体内的校正组件，校正组件位于流通池与进光口之间，校正组件包括驱动件、连接柱及设置于连接柱周壁的校正玻璃，驱动件与连接柱连接，驱动件用于驱动连接柱转动，以带动校正玻璃在第一预设位置及第二预设位置上切换，当校正玻璃处于第一预设位置时，预设直线经过校正玻璃。
[0020]本技术实施例的有益效果是：本技术实施例提供的一种二极管阵列检测装置包括安装架、光源模组、分光模组及散热模组。光源模组与安装架连接，分光模组也与安装架连接，并且分光模组与光源模组连接，散热模组包括散热框，散热框与安装架连接且共同限定出散热通道，光源模组至少部分位于散热通道内，散热孔或安装架中的至少一个开设有与散热通道连通的进风口。在散热时，与光源模组进行热交换后的气体会被限定在散热通道内流动，直至从散热通道远离光源模组的一端排出，避免了与光源模组进行热交换后的气体在离开光源模组后直接就与二极管阵列检测装置内的其它器件接触，也就尽可能的避免了光源模组散发的气体影响二极管阵列检测装置内的其它器件。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0022]图1为本技术实施例提供的二极管阵列检测装置的结构示意图；
[0023]图2为本技术实施例提供的光源模组、隔热件、分光模组的分离示意图；
[0024]图3为本技术实施例提供的二极管阵列检测装置中的光路示意图。
[0025]图标:1
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二极管阵列检测装置；10
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安装架；20
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光源模组；21
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光源壳体；22
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定位连接件；23
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第一发光件；24
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第二发光件；25
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聚焦透镜；30
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分光模组；31
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分光壳体；32
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流通池；33
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反射镜；34
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狭缝件；35
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光栅；36
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阵列传感器；40
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散热模组；41
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散热框；42
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散热器；43
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散热风扇；44
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出风口；50
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进风口；60
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隔热件；70
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聚光透镜组；71
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第一透镜座；72
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第二透镜座；80
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校正组件；81
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连接柱；82
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校正玻璃；2
‑
预设直线。
具体实施方式
[0026]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新
型实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0027]因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种二极管阵列检测装置，其特征在于，包括：安装架；光源模组，所述光源模组与所述安装架连接；分光模组，所述分光模组与所述安装架连接，所述分光模组与所述光源模组连接；散热模组，所述散热模组包括散热框，所述散热框与所述安装架连接且共同限定出散热通道，所述光源模组至少部分位于所述散热通道内，所述散热框或所述安装架中的至少一个开设有与所述散热通道连通的进风口。2.根据权利要求1所述的二极管阵列检测装置，其特征在于：所述光源模组设置有至少部分位于所述散热通道内的散热器，所述散热器用于吸收所述光源模组的热量。3.根据权利要求2所述的二极管阵列检测装置，其特征在于：所述散热模组还包括设置于所述散热通道内的散热风扇，所述散热风扇位于所述散热器远离所述光源模组的一侧，所述散热风扇用于将所述光源模组散发的热量排出所述散热通道外。4.根据权利要求2所述的二极管阵列检测装置，其特征在于：所述进风口设置于所述安装架且所述进风口的开口方向与所述散热通道的轴线方向呈夹角。5.根据权利要求1所述的二极管阵列检测装置，其特征在于：所述光源模组包括光源壳体及设置于所述光源壳体内的发光组件，所述光源壳体开设有出光口，所述光源壳体外侧设置有定位连接件，所述定位连接件的中心、所述出光口的中心及所述发光组件的发光中心在预设直线上，所述定位连接件远离所述光源壳体的一端与所述分光模组连接。6.根据权利要求5所述的二极管阵列检测装置，其特征在于：所述发光组件包括第一发光件、第二发光件及聚焦透镜，所述聚焦透镜位于所述第一发光...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋瑶，程鹏，罗阁，
申请(专利权)人：山东悟空仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：