【技术实现步骤摘要】
一种用于强磁场中负离子直流引出的测量结构
[0001]本技术属于核
，涉及离子源技术，具体涉及一种用于强磁场中负离子直流引出的测量结构。
技术介绍
[0002]粒子源是产生带电粒子的装置，为加速器提供带电粒子束，是加速器关键的部件之一。粒子源和加速器两者是相辅相成的，加速器的发展对粒子源不断的提出新的要求，而粒子源技术的重大突破和发展又将为加速器技术带来发展与革新。近几十年来，随着加速器的不断发展和改进，人们对粒子源有了更加广泛的了解和应用，其中离子源就是最为典型的例子。离子源被广泛应用于离子注入、离子刻蚀、中子发生器、霍尔推进器、回旋加速器等众多领域。在离子源和加速器的不断发展进步的过程中，束流引出测量是重要的步骤之一。
[0003]对于不同领域中的离子源，所要了解的束流参数是不同的，根据不同的实际需要选择测量的参数和测试方法。
[0004]离子束测量的基本方法如：
[0005]1）截束测量法。用导体截止束的部分或全部，测量收集到的电流或热量。
[0006]2）利用电磁场与带电粒子的相
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于强磁场中负离子直流引出的测量结构，包括法拉第筒，所述法拉第筒包括外筒(1)和内筒(2)，内筒(2)通过连接结构固定在所述外筒(1)内，其特征在于，还包括尾筒(6)和陶瓷套管(7)，所述外筒(1)、内筒(2)和尾筒(6)截面均为圆形并具有中央通孔，所述陶瓷套管穿过内筒(2)和尾筒(6)，所述外筒和尾筒分别由较细的颈部和较粗的圆座(8)组成，所述圆座和颈部连接处及圆座侧面底部为弧形，所述外筒(1)固定在尾筒(6)上方，且外筒(1)的圆座底面和尾筒的圆座顶面之间具有间隙。2.如权利要求1所述的用于强磁场中负离子直流引出的测量结构，其特征在于，所述连接结构包括上套筒(3)、下套筒(4)和锁紧套筒(5)，所述上套筒和下套筒分别套在所述内筒的上部...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈宇航，李杰，马瑞利，王丹，石金水，丁亨松，
申请(专利权)人：四川玖谊源粒子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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