一种用于辐射成像检查系统的束流校正装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种用于辐射成像检查系统的束流校正装置及方法，系统包括：包括加速器、准直器、X射线束流校正装置以及阵列探测器；其中，所述X射线束流校正装置设置在靠近加速器侧的主射线路径上，且主射线路径上的主射线直接贯穿照射X射线束流校正装置后被所述成像探测器阵列接收用于X射线成像。通过辐射探测器接收加速器经过准直器准直后主射线的大剂量的X射线后经过光电组件将辐射能量转换的电信号，然后经电子学电路处理的数据通过数据传输接口传输至成像数据处理模块和加速器，用于X射线成像数据束流校正处理和加速器出束剂量和剂量率监测及安全联锁。和剂量率监测及安全联锁。和剂量率监测及安全联锁。

【技术实现步骤摘要】
一种用于辐射成像检查系统的束流校正装置及方法


[0001]本专利技术属于辐射成像
，尤其涉及一种用于辐射成像检查系统的束流校正装置及方法。

技术介绍

[0002]辐射成像领域，电子加速器广泛用于作为辐射源配合阵列式探测器用于辐射成像，但辐射成像领域的电子加速器为脉冲式出束，脉冲时间极短(一般为几个微秒)，各个脉冲间的辐射剂量存在一定的波动，会对成像的图像效果产生很大的影响，在图像上会产生亮暗不均的条纹，影响对图像的内容判断，目前采用的放置在阵列探测器边缘的探测器或者在靠近加速器位置放置冗余射线测量探测器作为校正探测器，但其采集的束流波动无法完全反映加速器的波动，导致校正效果不佳；同时目前电子加速器剂量监测通常采用穿透电离室，其对极短时间的脉冲式射线反应并不敏感，不能反映电子加速器相邻脉冲产生的X射线剂量波动。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种用于辐射成像检查系统的束流校正装置及方法，用于解决采集的束流波动无法完全反映加速器的波动，导致校正效果不佳的技术问题。
[0004]本专利技术提供一种用于辐射成像检查系统的束流校正装置，包括加速器、准直器、X射线束流校正装置以及阵列探测器；其中，所述X射线束流校正装置设置在靠近加速器侧的主射线路径上，且主射线路径上的主射线直接贯穿照射X射线束流校正装置后被所述成像探测器阵列接收用于X射线成像。
[0005]进一步地，所述系统还包括滤光片，所述滤光片设置在所述加速器和所述X射线束流校正装置之间，所述滤光片用于对所述加速器产生的X射线进行滤光。
[0006]进一步地，所述X射线束流校正装置包括：电子学电路；与所述电子学电路连接的数据传输接口；以及与所述电子学电路连接的辐射探测器，用于接收加速器经过准直器准直后的X射线，并将X射线的辐射能量转换的电信号。
[0007]进一步地，所述辐射探测器与所述电子学电路的连接方式为直接连接或间接连接。
[0008]本专利技术还提供一种用于辐射成像检查系统的束流校正方法，包括：加速器未出束时，将一段时间内X射线束流校正装置和探测器阵列采集的计数值的统计值作为X射线束流校正装置和探测器阵列的本底值I
D
；加速器出束且在加速器和探测器阵列没有遮挡时，将一段时间内X射线束流校正装置和探测器阵列采集的计数值的统计值作为束流强度参考值I
L
；将后续X射线束流校正装置和探测器阵列采集的计数值I
*.j
与初始值分别扣除本底值后做比较，以初始值对后续X射线束流校正装置和探测器阵列采集的计数值进行归一化处理，进行X射线成像亮度校正，经过亮度校正后的值为I
c
；
对完成亮度校正的数据，基于束流校正装置的数据与初始值的比较结果进行时间方向上的束流波动校正，经过束流校正后的值为束流校正后的值为
[0009]本申请的一种用于辐射成像检查系统的束流校正装置及方法，通过辐射探测器接收加速器经过准直器准直后主射线的大剂量的X射线后经过光电组件将辐射能量转换的电信号，然后经电子学电路处理的数据通过数据传输接口传输至成像数据处理模块和加速器，用于X射线成像数据束流校正处理和加速器出束剂量和剂量率监测及安全联锁。
附图说明
[0010]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0011]图1为本专利技术一实施例提供的一种用于辐射成像检查系统的束流校正装置的安装位置示意图；
[0012]图2为本专利技术一实施例提供的一种用于辐射成像检查系统的束流校正装置的X射线束流校正装置的结构示意图。
具体实施方式
[0013]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0014]请参阅图1
‑
图2，辐射成像系统通常包括加速器1，准直器2，被检物体4，阵列探测器5，本申请的X射线束流校正装置3放在靠近加速器侧主射线路径上。X射线束流校正装置3包括：辐射探测器33，用于接收加速器1经过准直器2准直后主射线的大剂量的X射线直接贯穿照射；辐射探测器33吸收X射线后经过光电组件将辐射能量转换的电信号，然后经电子学电路31处理的数据通过数据传输接口32传输至成像数据处理模块6和加速器1，用于X射线成像数据束流校正处理和加速器1出束剂量和剂量率监测及安全联锁。
[0015]具体地，X射线束流校正装置3包括：电子学电路31；与所述电子学电路31连接的数据传输接口32；以及与所述电子学电路31连接的辐射探测器33，用于接收加速器经过准直器准直后的X射线，并将X射线的辐射能量转换的电信号。
[0016]进一步地，其中，所述辐射探测器33与所述电子学电路31的连接方式为直接连接或间接连接。
[0017]在一个具体实施例中，束流校正装置3内部还有数据采集处理电路，数据采集处理
电路中包含数据采集处理程序、剂量率与计数值标定表，用于数据处理并转发数据，输出控制信号和剂量监测结果，包括：
[0018]将数字信号处理为反映电子加速器束流波动的计数值后按照规则打包处理，按照协议传输给成像数据处理模块6，与阵列探测器5采集的数据一一对应。
[0019]将计数值与标定的剂量表对应得到剂量和剂量率值，输出给加速器1，提供实时加速器1单脉冲剂量率和剂量反馈。
[0020]将计数值和设定的阈值进行比较，输出安全联锁信号，在加速器1输出X射线剂量超过限值或波动范围超过限定值时停止X射线束流发射。
[0021]将计数值与加速器1模式关联，通过判断计数值是否在标定区间，反馈给加速器控制模块当前工作参数模式是否切换成功。
[0022]在一个可选的实施例中，本申请给出了一种应用于辐射成像检查系统的X射线束流校正方法，扫描的图像描述为M*N的矩阵，包括：
[0023]加速器1未出束时，将一段时间内X射线束流校正装置3和探测器阵列5采集的计数值的统计值作为X射线束流校正装置3和探测器阵列5的本底值I
D
；
[0024]加速器1出束且在加速器1和探测器阵列5没有遮挡时，将一段时间内X射线束流校正装置3和探测器阵列5采集的计数值的统计值作为束流强度参考值I
L
；
[0025]将后续X射线束流校正装置3和探测器阵列5采集的计数值I
*.j
与初始值分别扣除本底值后做比较，以初始值对后续X射线束流校正装置3和探测器阵列5采集的计数值进行归一化处理，进行X射线成像亮度校正，经过亮度校正后的值为I本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于辐射成像检查系统的束流校正装置，其特征在于，包括加速器(1)、准直器(2)、X射线束流校正装置(3)以及阵列探测器(5)；其中，所述X射线束流校正装置(3)设置在靠近加速器(1)侧的主射线路径上，且主射线路径上的主射线直接贯穿照射X射线束流校正装置(3)后被所述成像探测器阵列(5)接收用于X射线成像。2.根据权利要求1所述的一种用于辐射成像检查系统的束流校正装置，其特征在于，所述系统还包括滤光片，所述滤光片设置在所述加速器(1)和所述X射线束流校正装置(3)之间，所述滤光片用于对所述加速器(1)产生的X射线进行滤光。3.根据权利要求1所述的一种用于辐射成像检查系统的束流校正装置，其特征在于，所述X射线束流校正装置(3)包括：电子学电路(31)；与所述电子学电路(31)连接的数据传输接口(32)；以及与所述电子学电路(31)连接的辐射探测器(33)，用于接收加速器经过准直器准直后的X射线，并将X射线的辐射能量转换的电信号。4.根据权利要求3所述的一种用于辐射成像检查系统的束流校正装置，其特征在于，其中，所述辐射探测器(33)为闪烁体探测器、气体探测器或半导体探测器。5.根据权利要求3所述的一种用于辐射成像检查系统的束流校正装置，其特征在于，其中，所述辐射探测器(33)与所述电子学电...

【专利技术属性】
技术研发人员：黎超，张海平，雷晓明，熊志辉，
申请(专利权)人：中广核贝谷科技有限公司，
类型：发明
国别省市：