一种芯片验证方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

本申请实施例公开了一种芯片验证方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法具体包括：获取用于验证芯片的资源数量；判断所述资源数量是否不为零；若所述资源数量不为零，从测试用例列表中获取测试用例并运行，直至所述资源数量为零或所述测试用例列表为空；获取所述测试用例的测试结果。本申请实施例实现了快速高效的完成芯片的测试用例回归。的完成芯片的测试用例回归。的完成芯片的测试用例回归。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片验证方法、装置、计算机设备和存储介质


[0001]本申请实施例涉及芯片领域，尤其涉及一种芯片验证方法、装置、计算机设备和存储介质。

技术介绍

[0002]测试用例回归是一种在数字芯片验证中使用到的方法，通常用大量不同的测试用例来检验芯片的质量。
[0003]现在的测试用例回归方法是顺序的，即一个芯片测试完成才能开始下一个芯片的测试。
[0004]但是当测试用例数量超过特定阈值且每个测试用例的平均耗时较大时，无法快速高效的完成测试用例回归，将极大的增加芯片面世的时间，降低了产品竞争力。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供一种芯片验证方法、装置、计算机设备和存储介质，用于实现快速高效的完成芯片的测试用例回归。
[0006]本申请实施例提供的芯片验证方法，包括：
[0007]获取用于验证芯片的资源数量；
[0008]判断所述资源数量是否不为零；
[0009]若所述资源数量不为零，从测试用例列表中获取测试用例并运行，直至所述资源数量为零或所述测试用例列表为空；
[0010]获取所述测试用例的测试结果。
[0011]可选的，所述测试结果为测试日志文件，所述方法还包括：
[0012]基于预设的错误关键词对所述测试日志文件进行搜索，得到所述测试日志文件的失败信息；
[0013]删除所述失败信息中的假错信息，得到测试日志结果文件。
[0014]可选的，所述删除所述失败信息中的假错信息包括：
[0015]获取全局过滤文件；
[0016]根据所述全局过滤文件删除所述失败信息中的假错信息。
[0017]可选的，所述测试日志文件为多个，所述删除所述失败信息中的假错信息包括：
[0018]获取局部过滤文件，所述局部过滤文件用于针对特定的测试日志文件的假错信息；
[0019]根据所述局部过滤文件删除所述失败信息中的假错信息。
[0020]可选的，所述方法还包括：
[0021]判断所述测试日志结果文件是否为空；
[0022]若所述测试日志结果文件为空，将测试通过信息写入所述测试日志结果文件，并删除所述测试日志结果文件中的仿真日志和仿真波形得到回归结果报告，所述测试通过信
息用于表示所述测试用例的测试通过。
[0023]可选的，所述判断所述测试日志结果文件是否为空之后，所述方法还包括：
[0024]若所述测试日志结果文件不为空，将测试失败信息写入所述测试日志结果文件，并保存所述测试日志结果文件中的仿真日志、仿真波形和种子信息得到回归结果报告，所述测试通过信息用于表示所述测试用例的测试失败。
[0025]可选的，所述若所述资源数量不为零，从测试用例列表中获取测试用例并运行包括：
[0026]若所述资源数量不为零，从测试用例列表中获取测试用例并获取测试次数；
[0027]根据所述测试次数运行所述测试用例。
[0028]本申请实施例提供的芯片验证装置，包括：
[0029]获取单元，用于获取用于验证芯片的资源数量；
[0030]判断单元，用于判断所述资源数量是否不为零；
[0031]运行单元，用于若所述资源数量不为零，从测试用例列表中获取测试用例并运行，直至所述资源数量为零或所述测试用例列表为空；
[0032]验证单元，用于获取所述测试用例的测试结果。
[0033]本申请实施例提供的计算机设备，包括：
[0034]中央处理器，存储器以及输入输出接口；
[0035]所述存储器为短暂存储存储器或持久存储存储器；
[0036]所述中央处理器配置为与所述存储器通信，并执行所述存储器中的指令操作以执行前述方法。
[0037]本申请实施例提供的计算机可读存储介质，存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行前述方法。
[0038]从以上技术方案可以看出，本申请实施例具有以下优点：
[0039]本申请实施例通过获取用于验证芯片的资源数量；判断所述资源数量是否不为零；若所述资源数量不为零，从测试用例列表中获取测试用例并运行，直至所述资源数量为零或测试所述用例列表为空；获取所述测试用例的测试结果，可以在资源数满足的情况下并发的运行测试用例，从而实现快速高效的完成芯片的测试用例回归。
附图说明
[0040]图1为本申请实施例提供的芯片验证方法的一实施例示意图；
[0041]图2为本申请实施例提供的芯片验证方法的另一实施例示意图；
[0042]图3为本申请实施例提供的芯片验证装置的一实施例示意图；
[0043]图4为本申请实施例提供的计算机设备的一实施例示意图；
具体实施方式
[0044]下面结合附图，对本申请的实施例进行描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。本领域普通技术人员可知，随着技术发展和新场景的出现，本申请实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。
[0045]本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语
″
第一
″
、
″
第二
″
等是用于区别
类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术语
″
包括
″
和
″
具有
″
以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0046]本申请实施例提供一种芯片验证方法、装置、计算机设备和存储介质，用于实现快速高效的完成芯片的测试用例回归。以下分别进行详细说明。
[0047]如图1所示，本申请提供的芯片验证方法的一实施例包括：
[0048]101、获取用于验证芯片的资源数量。
[0049]在对芯片的测试用例进行验证时，首先获取用于验证芯片的资源数量，示例性的，在Linux终端通过管道的方式创建共享资源，初始化共享的资源数量为A。该资源数量A决定了可以并发进行的芯片测试用例的数量。如想要同时进行50个测试用例，可以设置A＝50。
[0050]102、判断资源数量是否不为零。
[0051]103、若资源数量不为零，从测试用例列表中获取测试用例并运行，直至资源数量为零或测试用例列表为空。
[0052]104、获取测试用例的测试结果。
[0053]获取资源数量后，自动开始查询，判断资源数量是否不为零，即判断当前可用的资源数量是否为A！＝0，若A！＝0，即资源数量不为零，则从测试用例列表中获取一个测试用例并运行，然后将资源数量设置为本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：获取用于验证芯片的资源数量；判断所述资源数量是否不为零；若所述资源数量不为零，从测试用例列表中获取测试用例并运行，直至所述资源数量为零或所述测试用例列表为空；获取所述测试用例的测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试结果为测试日志文件，所述方法还包括：基于预设的错误关键词对所述测试日志文件进行搜索，得到所述测试日志文件的失败信息；删除所述失败信息中的假错信息，得到测试日志结果文件。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述删除所述失败信息中的假错信息包括：获取全局过滤文件；根据所述全局过滤文件删除所述失败信息中的假错信息。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试日志文件为多个，所述删除所述失败信息中的假错信息包括：获取局部过滤文件，所述局部过滤文件用于针对特定的测试日志文件的假错信息；根据所述局部过滤文件删除所述失败信息中的假错信息。5.根据权利要求2
‑
4中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：判断所述测试日志结果文件是否为空；若所述测试日志结果文件为空，将测试通过信息写入所述测试日志结果文件，并删除所述测试日志结果文件中的仿真日志和仿真波形得到回归结果报告，所述测试通过信息用于表示所述测试用例的测试通过。6.根据权利要求5所述的方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：王辉，赵正，王萍，焦宽祥，
申请(专利权)人：紫光同芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：