本发明专利技术提供了一种粉末电阻率测试方法及装置，涉及粉末电阻率测试技术领域。其方法包括：将粉末样品进行装载固定；对装载的粉末样品均匀施加压力，测量粉末样品的实时电阻率；持续增加施加的压力，直至粉末样品的实时电阻率稳定；将稳定的实时电阻率作为粉末样品的电阻率，完成粉末电阻率的测试。该方法在对粉末施加压力的同时，对其电阻率进行测量，直至粉末样品的实时电阻率稳定再获取粉末样品的电阻率，实现对粉末电阻率与压力关系的准确刻画。其可以保证粉末颗粒已压实，最小化粉末颗粒间的接触电阻，有效提升粉末电阻率测试的精确度。确度。确度。
【技术实现步骤摘要】
一种粉末电阻率测试方法及装置
[0001]本专利技术涉及粉末电阻率测试
，尤其是涉及一种粉末电阻率测试方法及装置。
技术介绍
[0002]现有粉末材料被广泛应用于复合材料中，其应用优势包含了高导电性、高导热性、低密度或易加工成型等。而部分粉末的电阻率对复合材料的导电性能影响很大，如导电炭黑，因此，准确评估粉末导电性能具有重要意义。但对于粉末类型样品，其难以被压制成薄膜，无法使用目前主流的四探针测量法测量其电阻率。
[0003]现有的粉末电阻率测方法是先将粉末型样品压制成块状再进行测试，其虽然能实现对于粉末电阻率的测试，但在测试过程中难以保证粉末颗粒间是否压实，从而导致了颗粒间接触电阻较大影响最终的测试精度，存在测试精度不高的问题。
技术实现思路
[0004]本专利技术旨在提供一种粉末电阻率测试方法及装置，以解决上述技术问题，在对粉末施加压力的同时，测量其电阻率，实现对粉末电阻率与压力关系的准确刻画，以使粉末颗粒间的接触电阻最小，从而提升粉末电阻率测试的精确度。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种粉末电阻率测试方法，包括以下步骤：
[0006]将粉末样品进行装载固定；
[0007]对装载的粉末样品均匀施加压力，测量粉末样品的实时电阻率；
[0008]持续增加施加的压力，直至粉末样品的实时电阻率稳定；
[0009]将稳定的实时电阻率作为粉末样品的电阻率，完成粉末电阻率的测试。
[0010]上述方案在对粉末施加压力的同时，对其电阻率进行测量，直至粉末样品的实时电阻率稳定再获取粉末样品的电阻率，实现对粉末电阻率与压力关系的准确刻画。其可以保证粉末颗粒已压实，最小化粉末颗粒间的接触电阻，有效提升粉末电阻率测试的精确度。
[0011]进一步地，所述将粉末样品进行装载固定，具体为：将粉末样品装载到圆筒状部件中进行固定。
[0012]上述方案中，将粉末样品装载到圆筒状部件中，可以使得粉末也呈现圆筒状，保证其在受到压力时，其各个方向都可以均匀受力，保证了电阻率测试精度，避免由于受力不均产生的测量误差。
[0013]进一步地，所述对装载的粉末样品均匀施加压力，测量粉末样品的实时电阻率，具体为：对装载的粉末样品均匀施加压力，采用四电极法测量粉末样品的实时电阻率。
[0014]上述方案中，通过四电极法对粉末样品的实时电阻率进行测量，其可以减少测量误差，提升测量的精确度。
[0015]进一步地，在所述持续增加施加的压力，直至粉末样品的实时电阻率稳定后，还包括：
[0016]控制粉末样品的温度到预设的温度值；
[0017]待粉末样品的实时电阻率稳定，获取粉末样品对应温度下的实时电阻率。
[0018]上述方案中，通过对粉末样品的温度控制，在实现不同温度下电阻率测量的同时，可以通过高温减少由粉末吸潮带来的测量误差，提升电阻率测量的精确度。
[0019]上述方案充分考虑了粉末样品吸潮导致的电阻率测试误差及考虑了粉末样品在不同温度下的电阻率差异，实现对粉末电阻率更为精确的测量，保证其测量结果可以更好地刻画粉末的导电性能。
[0020]进一步地，所述控制粉末样品的温度到预设的温度值，具体为：通过热传导的方式控制粉末样品的温度到预设的温度值。
[0021]上述方案中，通过热传导的方式控制粉末样品的温度，其实现方便，且可以保证粉末样品的均匀受热，减少由温度产生的测量误差。
[0022]本专利技术还提供一种粉末电阻率测试装置，包括装载模块、压片模块、测试模块和控制处理模块；其中：
[0023]所述装载模块用于装载固定粉末样品；
[0024]所述压片模块用于对装载的粉末样品均匀施加压力；
[0025]所述测试模块用于测量粉末样品的实时电阻率并传输至控制处理模块；
[0026]所述控制处理模块用于控制压片模块持续增加施加的压力，直至粉末样品的实时电阻率稳定并将稳定的实时电阻率作为粉末样品的电阻率。
[0027]上述方案中，压片模块在对粉末施加压力的同时，测试模块对其电阻率进行同步测量，直至粉末样品的实时电阻率稳定再获取粉末样品的电阻率，实现对粉末电阻率与压力关系的准确刻画。该系统可以保证粉末颗粒已压实，最小化粉末颗粒间的接触电阻，有效提升粉末电阻率测试的精确度。
[0028]进一步地，所述装载模块为圆筒状部件。
[0029]上述方案中，圆筒状部件的设置，可以使装载在其中的粉末也呈现圆筒状，保证粉末在受到压力时，其各个方向都可以均匀受力，保证了电阻率测试精度，避免由于受力不均产生的测量误差。
[0030]进一步地，所述测试模块采用四电极法测量粉末样品的实时电阻率。
[0031]上述方案中，通过四电极法对粉末样品的实时电阻率进行测量，其可以减少测量误差，提升测量的精确度。
[0032]进一步地，所述粉末电阻率测试装置还包括温度控制模块；所述温度控制模块用于控制粉末样品的温度到预设的温度值；待测试模块测量的粉末样品的实时电阻率稳定，由控制处理模块获取粉末样品对应温度下的实时电阻率。
[0033]上述方案中，通过温度控制模块对粉末样品进行温度控制，可以实现不同温度下粉末电阻率的测量，其同时可以减少由粉末吸潮带来的测量误差，提升电阻率测量的精确度。
[0034]上述方案充分考虑了粉末样品吸潮导致的电阻率测试误差及考虑了粉末样品在不同温度下的电阻率差异，实现对粉末电阻率更为精确的测量，保证其测量结果可以更好地刻画粉末的导电性能。
[0035]进一步地，所述温度控制模块用于控制粉末样品的温度到预设的温度值，具体为：
温度控制模块通过热传导的方式控制粉末样品的温度到预设的温度值。
[0036]上述方案通过热传导的方式控制粉末样品的温度，其实现方便，且可以保证粉末样品的均匀受热，减少由温度产生的测量误差。
附图说明
[0037]图1为本专利技术一实施例提供的一种粉末电阻率测试方法流程示意图；
[0038]图2为本专利技术一实施例提供的一种粉末电阻率测试装置模块连接示意图；
[0039]图3为本专利技术一实施例提供的一种装载模块结构示意图；
[0040]图4为本专利技术一实施例提供的一种压片模块结构示意图；
[0041]图5为本专利技术一实施例提供的一种测试模块及温度控制模块的电路连接示意图；
[0042]其中：1、控制处理模块；2、装载模块；201、圆筒状部件；202、电极；203、温度传感探头；204、上压块；205、下压块；3、压片模块；301、手轮；302、丝杆；303、支架；304、固定台；305、操作手柄；306、压力检测表；307、底座；308、压缩设备；4、测试模块；401、导线；402、电阻测试仪；5、温度控制模块；501、控制电源；502、电加热膜。
具体实施方式
[0043]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整的描本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种粉末电阻率测试方法，其特征在于，包括以下步骤：将粉末样品进行装载固定；对装载的粉末样品均匀施加压力，测量粉末样品的实时电阻率；持续增加施加的压力，直至粉末样品的实时电阻率稳定；将稳定的实时电阻率作为粉末样品的电阻率，完成粉末电阻率的测试。2.根据权利要求1所述的一种粉末电阻率测试方法，其特征在于，所述将粉末样品进行装载固定，具体为：将粉末样品装载到圆筒状部件中进行固定。3.根据权利要求1所述的一种粉末电阻率测试方法，其特征在于，所述对装载的粉末样品均匀施加压力，测量粉末样品的实时电阻率，具体为：对装载的粉末样品均匀施加压力，采用四电极法测量粉末样品的实时电阻率。4.根据权利要求1～3任一项所述的一种粉末电阻率测试方法，其特征在于，在所述持续增加施加的压力，直至粉末样品的实时电阻率稳定后，还包括：控制粉末样品的温度到预设的温度值；待粉末样品的实时电阻率稳定，获取粉末样品对应温度下的实时电阻率。5.根据权利要求4所述的一种粉末电阻率测试方法，其特征在于，所述控制粉末样品的温度到预设的温度值，具体为：通过热传导的方式控制粉末样品的温度到预设的温度值。6.一种粉末...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭向阳，于是乎，吴吉，余欣，范亚洲，黄剑平，黄振，王锐，宋萌，赵东生，
申请(专利权)人：广东电网有限责任公司电力科学研究院，
类型：发明
国别省市：
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