基于Blob分析的粗定位方法、装置、电子设备及介质制造方法及图纸

本申请涉及工业机器视觉技术领域，特别涉及一种基于Blob分析的粗定位方法、装置、电子设备及介质，其中，包括：采集工件标准图像和工件待检测图像；提取工件标准图像和工件待检测图像的目标区域，并对目标区域进行Blob分析得到目标区域的中心位置或四边位置；根据中心位置或四边位置计算粗定位信息，以根据粗定位信息对工件待检测图像进行定位矫正。由此，解决了物体因受到机械运动的影响，在摄像时位置会发生位移，导致待检测图中检测区可能会偏离检测目标，造成识别错误、检测或测量不准等问题。该方法的定位信息既可以直接用于检测区位置偏移的矫正，也可以基于此进一步进行精定位，以降低定位耗时和外部干扰影响，使定位信息更准确。准确。准确。

【技术实现步骤摘要】
基于Blob分析的粗定位方法、装置、电子设备及介质


[0001]本申请涉及工业机器视觉
，特别涉及一种基于Blob分析的粗定位方法、装置、电子设备及介质。

技术介绍

[0002]机器视觉在工业领域的应用越来越广泛，如物体识别、缺陷检测、尺寸测量、定位引导等等，机器视觉中光学成像非常关键，光学成像品质直接影响图像算法判定的结果，光学成像品质受打光方式、物体材质、硬件的稳定性和现场环境等因素的影响，如显示屏外观的成像受灰尘脏污的干扰非常大，3C零部件的成像受物体材质影响非常大，因成像干扰因素多样。
[0003]相关技术中，一般是通过绘制一定范围的检测区(如图1的黑色框)作为先验的输入信息，在检测区中进行识别、检测或测量，这样能排除检测区以外的干扰影响。
[0004]然而，由于在工业领域，物体因受到机械运动的影响，在摄像时位置会发生变化，检测区可能会偏离检测目标，造成识别错误、检测或测量不准等问题，从而影响图像算法判定的结果，亟待解决。

技术实现思路

[0005]本申请提供一种基于Blob分析的粗定位方法、装置、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于Blob分析的粗定位方法，其特征在于，包括以下步骤：采集工件标准图像和工件待检测图像；提取所述工件标准图像和所述工件待检测图像的目标区域，并对所述目标区域进行Blob分析得到目标区域的中心位置或四边位置；以及根据所述中心位置或所述四边位置计算粗定位信息，以根据所述粗定位信息对所述工件待检测图像进行定位矫正。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述目标区域进行Blob分析得到目标区域的中心位置或四边位置，包括：对所述目标区域进行Blob形态学开运算和Blob形态学闭运算，得到形态学处理后的目标区域；基于预设的第一形状特征，对所述形态学处理后的目标区域进行Blob筛选，得到多个相似Blob区域，并将所述多个相似Blob区域中区域最大的Blob区域作为筛选出的目标区域；基于预设的第二形状特征，对所述筛选出的目标区域进行Blob形状拟合，得到所述目标区域的中心位置或四边位置。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，其中，所述预设的第一形状特征包括矩度、圆度和凸率中的至少一项；所述预设的第二形状特征包括矩形、斜矩形、凸边形、圆形和椭圆形中的至少一项。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据所述中心位置或所述四边位置计算粗定位信息之后，还包括：根据所述中心位置或所述四边位置确定所述工件标准图像和所述工件待检测图像之间的偏移量；根据所述偏移量对所述工件待检测图像中绘制的检测区域进行矫正。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述提取所述工件标准图像和所述工件待检测图像的目标区域，包括：基于预设的平滑处理策略和/或预设的增强策略，对所述工件标准图像和所述工件待检测图像进行预处理；基于预设的提取策略，从预处理后的所述工件标准图像和所述工件待...

【专利技术属性】
技术研发人员：江少波，
申请(专利权)人：苏州凌云光工业智能技术有限公司，
类型：发明
国别省市：