一种基于低相噪晶振自相关技术的噪声校准装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开一种基于低相噪晶振自相关技术的噪声校准装置及方法。该装置包括窄线宽激光器，用于产生激光；电光调制器，用于以低相噪晶振为调制频率对所述激光进行强度调制，获得调制光信号；光纤耦合器，用于将所述调制光信号分成两路，获得第一路调制光信号和第二路调制光信号；第一光电转换器，用于将所述第一路调制光信号进行光电转换，获得第一路射频信号；第二光电转换器，用于将所述第二路调制光信号进行光电转换，获得第二路射频信号；数字化相位噪声测试仪，用于采集所述第一路射频信号和所述第二路射频信号后，利用共源自相关法获得待测的噪声。该装置无需延迟线，避免了灵敏度下降和傅氏频偏盲区的问题。了灵敏度下降和傅氏频偏盲区的问题。了灵敏度下降和傅氏频偏盲区的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种基于低相噪晶振自相关技术的噪声校准装置及方法


[0001]本专利技术涉及光电
领域。更具体地，涉及一种基于低相噪晶振自相关技术的噪声校准装置及方法。

技术介绍

[0002]目前，光电转换器底部噪声校准装置采用的是传统延迟线的校准方法，装置包括低相噪参考源、激光器、电光调制器、延迟线、检相器和数字采集处理器。这种装置的缺点是：1、传统频率综合技术产生的低相噪参考源的相位噪声指标远差于光电转换器的底部噪声，即使在正交检相状态下，低相噪参考源的相位噪声影响也不能完全消除；2、传统电延迟线的校准方法，直接导致测量灵敏度的下降和分析傅氏频偏盲区的问题；3、光电转换器的底部噪声测试的频率范围是微波频段，但是微波频段的测量系统的底部噪声较差；4、传统延迟线校准装置由于检相两臂的电延迟的不平衡性，导致检相灵敏度的定标不确定度较大。由于微波光子雷达技术的发展，作为光子雷达接收端的光电转换器的底部噪声直接影响雷达的目标捕捉性能，所以此参数愈加得到重视。另外，光电转换器的出厂技术指标中，通常只包括带宽、暗电流和响应度等，而没有光电转换中最为重要的底部噪声指本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于低相噪晶振自相关技术的噪声校准装置，其特征在于，该装置包括窄线宽激光器，用于产生激光；电光调制器，用于以低相噪晶振为调制频率对所述激光进行强度调制，获得调制光信号；光纤耦合器，用于将所述调制光信号分成两路，获得第一路调制光信号和第二路调制光信号；第一光电转换器，用于将所述第一路调制光信号进行光电转换，获得第一路射频信号；第二光电转换器，用于将所述第二路调制光信号进行光电转换，获得第二路射频信号；数字化相位噪声测试仪，用于采集所述第一路射频信号和所述第二路射频信号后，利用共源自相关法获得待测的噪声。2.根据权利要求1所述的基于低相噪晶振自相关技术的噪声校准装置，其特征在于，所述窄线宽激光器的波长为1550nm，输出功率大于70mW，RIN小于其中所述为所述光电转换器的底部噪声指标。3.根据权利要求1所述的基于低相噪晶振自相关技术的噪声校准装置，其特征在于，所述电光调制器的工作波长为1550nm，插入损耗为6dB，频率范围小于10GHz。4.根据权利要求1所述的基于低相噪晶振自相关技术的噪声校准装置，其特征在于，所述低相噪晶振的输出功率为16dBm，输出频率为10MHz，相位噪声大于
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170dBc/Hz@10kHz。5.根据权利要求1所述的基于低相噪晶振自相关技术的噪声校准装置，其特征在于，所述光纤耦合器的每路损...

【专利技术属性】
技术研发人员：阎栋梁，葛军，柳丹，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：