一种稳压器的单粒子瞬态仿真方法技术

技术编号:37861837 阅读:23 留言:0更新日期:2023-06-15 20:51
本发明专利技术公开了一种稳压器的单粒子瞬态仿真方法,基于TCAD仿真平台建立稳压器中核心器件CMOS的单粒子效应仿真模型,基于SPICE仿真平台构建稳压器等效电路。通过对稳压器的电路级单粒子效应仿真,得到稳压器输出电压,进而分析单粒子效应对稳压器工作状态的影响。本发明专利技术通过器件级建模仿真和电路级建模仿真相结合,可以实现对稳压器的单粒子效应仿真,分析单粒子效应对稳压器工作状态的影响,解决了加速器资源有限、辐照粒子能量不易调节、经济成本高等问题,为开展稳压器抗辐射评价和加固设计提供技术支撑,有助于提高器件在航天领域应用的可靠性。用的可靠性。用的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种稳压器的单粒子瞬态仿真方法


[0001]本专利技术涉及一种稳压器的单粒子瞬态仿真方法,属于电源芯片抗辐照技术5领域。

技术介绍

[0002]随着航天科技的迅速发展,集成电路的集成度越来越高,各种电子元器件被广泛应用于航天器上。复杂的空间辐射环境将给电子元器件及其电路带来及
[0003]其严峻的辐射安全问题。研究半导体器件及其电路的空间辐射效应,提高其抗0辐射水平是近年来国内外微电子学十分重视的课题。低压差线性稳压器(Low Dropout Regulator,LDO)作为重要的直流电压电源,具有极低的自有噪声和较高的电源抑制比,被广泛应用于航天领域。稳压器的工作性能直接关系到整个电子设备的技术指标和可靠性,而空间应用时的辐射环境可能使稳压器出现辐射
[0004]损伤,如单粒子瞬态,影响电源电压稳定性,给航天器带来严重故障,因此对5稳压器空间辐射效应进行深入研究显得尤为重要。
[0005]地面重离子辐照试验是研究单粒子效应常用的技术手段,可以精确地评估出器件的抗辐射能力,但是地面辐照试验存在加速器资源有限、辐照粒子能量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种稳压器的单粒子瞬态仿真方法,其特征在于,包含以下步骤:(1)根据稳压器的尺寸结构和工艺参数,对稳压器中核心器件CMOS进行二维器件级建模,得到CMOS的二维结构模型;(2)对所述二维结构模型进行网格划分,生成CMOS电学仿真模型;(3)对所述CMOS电学仿真模型进行TCAD器件电学仿真,得出器件的典型电学参数或曲线;(4)根据器件的典型电学参数或曲线,对器件的工艺参数进行优化,得到CMOS电学仿真优化模型;(5)定义入射粒子参数;(6)基于CMOS电学仿真优化模型和入射粒子参数,对CMOS器件的敏感位置进行单粒子效应建模仿真;(7)构建稳压器等效电路;(8)构建故障注入源,将故障注入源注入所述稳压器等效电路中,进行稳压器的电路级单粒子效应仿真,得到稳压器输出电压;(9)根据所述稳压器输出电压的变化,分析单粒子效应对稳压器工作状态的影响。2.根据权利要求1所述的一种稳压器的单粒子瞬态仿真方法,其特征在于:所述工艺参数,包括CMOS器件的沟道层厚度、势垒层厚度、栅漏间距、P型栅掺杂浓度以及势垒层组分。3.根据权利要求1所述的一种稳压器的单粒子瞬态仿真方法,其特征在于:所述电学参数或曲线,包括器件的正向、反向特性或者转移、输出特性曲线。4.根据权利要求1所述的一种稳压器的单粒子瞬态仿真方法,其特征在于:所述入射粒子参数,包括重离子的入射位置、入射深度、径迹半径、线性能量转移、电荷生成脉冲宽度与峰值时间。5.根据权利要求1所述的一种稳压器的单粒子瞬态仿真方法,其特征在于:所述稳压器等效电路,包括差分放大器、输出级放大电路和负载电容,其中,差分放大器用于差分输入、电位移动、双端到单端转换及提供增益;输出级放大电路,用于为共源放大器提供恒定偏置电流,作为第二级输出负载;负载电容,用于模拟下级电路带来的影响。6.根据权利要求1所述的一种稳压器的单粒子瞬态仿真方法,其特征在于:所述构建故障注入源,将故障注入源注入所述稳压器等效电路中,进行稳压器的电路级单粒子效应仿真,具体方法为:将不同线性能量传输LET值仿真得到的单粒子瞬态电流通过双指数模型进行拟合,得到故障电流源;所述双指数模型,公式为:当t<t
d1
,I(t)=0;当t
d1
<t<...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑雪松莫日根刘婧宇吉俐张竞择杨智博罗磊张雷浩梅博
申请(专利权)人:中国空间技术研究院
类型:发明
国别省市:

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