【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学设备
，具体涉及瞄准偏差测试装置
，特 别是一种外场环境下激光光轴瞄准偏差测试系统。
技术介绍
激光和可见光在精密测试系统能否保证准确地瞄准目标，关键在于系统两 波段光轴的瞄准一致性，若瞄准一致性偏差大，测试误差就会变大。现有的光 电瞄准设备以及精密测试装置中的两光轴系统，在实验室精密装调后，可保证 其基本处于平行。在国内光电瞄准设备以及精密测试装置大多是在实验室内利 用反射式二米平行光管对两光轴进行校准和测试。由于被测设备的实际工作均在外场环境下进行，因此直接影响被测设备的 工作精度-(1)在外场使用时，由于环境温度的变化和机体或车体振动等引起瞄准系 统结构参数发生变化，即引起结构失调。其实际指向会严重偏离原始位置，引起多光轴漂移和不平行，有时不平行误差达到io'，导致装置的测试性能变差，命中率低。目前在外场条件下，还没有很好的手段解决多光轴瞄准偏差测试及 校准问题。(2)在远距离瞄准中，大气温度、气压、能见度、湿度及气溶胶等都会引 起大气折射率发生变化，并使光传播路径改变，导致光轴和目标成像位置发生 漂移，形成瞄准偏差，从而影...
【技术保护点】
一种外场环境下激光光轴瞄准偏差测试系统，包括发射机构、调整机构和接收组件，其特征在于：所述发射机构包括设置于调整机构上的第一观瞄镜（２）和激光器（１），调整机构分别包括设置于光学平台（４）上的激光器调整机构（５）、第一观瞄镜调整机构（６）、第二观瞄镜调整机构（７）和激光接收物镜调整机构（８）；所述的接收组件包括第二观瞄镜（９）、激光接收光学系统和ＣＣＤ（１８），所述第二观瞄镜（９）设置于第二观瞄镜调整机构（７）上，激光接收光学系统由滤光片（１２）、物镜第一透镜（１３）、物镜第二透镜（１４）、物镜第三透镜（１５）、物镜第一反射镜（１６）和物镜第二反射镜（１７）组成，第一观瞄镜...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：高明，吴振森，倪晋平，侯宏录，杜玉军，李建超，马卫红，吕宏，王青松，
申请(专利权)人：西安工业大学，
类型：发明
国别省市：87[中国|西安]
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