一种量子产率测量装置及其量子产率的测量方法制造方法及图纸

技术编号:37850100 阅读:27 留言:0更新日期:2023-06-14 22:37
本申请实施例公开了一种量子产率测量装置及其量子产率的测量方法,该量子产率测量装置包括积分球、光源和载样设备,光源用于提供射入积分球内的激发光束;载样设备设置在积分球中;载样设备包括机架、样品台和掩膜板;样品台和掩膜板均设置在机架上,样品台用于放置待测试样品;掩膜板设有用于供激发光束穿过并照射到待测试样品的通孔,通孔的面积小于或等于4mm2。本申请还提供了基于该量子产率测量装置的量子产率的测量方法。本申请提供的量子产率测量装置、量子产率的测量方法可以提高待测试样品的荧光量子产率的测量准确性。样品的荧光量子产率的测量准确性。样品的荧光量子产率的测量准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种量子产率测量装置及其量子产率的测量方法


[0001]本申请涉及显示
,具体涉及一种量子产率测量装置及其量子产率的测量方法。

技术介绍

[0002]荧光量子产率(Fluorescence Quantum Yield,PLQY)作为电致发光器件的一个重要指标,PLQY的高低也间接反映了电致发光器件的发光层电致发光时辐射复合效率高低,因此测量电致发光器件的PLQY对预测器件的性能好坏有很好的参考作用。同时,PLQY还可以用作评判发光层在电致发光器件中的衰减指标:如在长时间的恒流老化过程中,测量电致发光器件发光层的PLQY可用以判别发光层是否受到破坏。目前测量PLQY的设备都是针对溶液和薄膜的,这要求溶液和薄膜的面积大于激发光的光斑面积,而现有技术中,由于电致发光器件的微型化,大量的电致发光器件的活性区域面积较小,远小于目前测量PLQY的设备中提供的光斑面积(光斑面积通常为3mm
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5mm),特别是量子点发光二极管(Quantum Dots Light

Emitting Diode,QLED),QLED的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种量子产率测量装置,其特征在于,包括:积分球;光源,所述光源用于提供射入所述积分球内的激发光束;以及载样设备,所述载样设备设置在所述积分球中,所述载样设备包括机架、样品台和掩膜板;所述样品台和所述掩膜板均设置在所述机架上,所述样品台用于放置待测试样品;所述掩膜板设有用于供所述激发光束穿过并照射到所述待测试样品的通孔,所述通孔的面积小于或等于4mm2。2.根据权利要求1所述的量子产率测量装置,其特征在于,所述通孔为边长为1~2mm的正方形孔或直径为1~2mm的圆形孔。3.根据权利要求1所述的量子产率测量装置,其特征在于,所述样品台上设置有用于定位所述待测试样品的定位工具;所述定位工具为定位件、定位槽、定位刻度中的任一种。4.根据权利要求1所述的量子产率测量装置,其特征在于,所述载样设备还包括:光强信息采集装置,所述光强信息采集装置设置在所述机架上,所述光强信息采集装置用于采集所述待测试样品的不同区域经所述激发光束激发后的出光强度信息。5.根据权利要求4所述的量子产率测量装置,其特征在于,所述载样设备还包括:位置信息采集装置,所述位置信息采集装置与所述光强信息采集装置电连接,所述光强信息采集装置发送所述出光强度信息对应的区域信息至所述位置信息采集装置,所述位置信息采集装置根据所述区域信息记录位置信息。6.根据权利要求5所述的量子产率测量装置,其特征在于,所述载样设备还包括:移动装置,所述移动装置连接于所述机架,用于使所述样品台与所述激发光束相对移动。7.根据权利要求6所述的量子产率测量装置,其特征在于,所述量子产率测量装置还包括:控制装置,所述控制装置分别与所述光强信息采集装置、所述位置信息采集装置、所述移动装置电连接,所述控制装置包括用于接收所述位置信息的接收单元和用于根据所述接收单元接...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄子健芦子哲王成黄盼宁贺晓光
申请(专利权)人:TCL科技集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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