一种具有定位和尺寸测量功能的散射成像方法技术

本发明专利技术公开了一种具有定位和尺寸测量功能的散射成像方法，应用于一种具有定位和尺寸测量功能的散射成像装置，该装置包括按顺序直线同轴排列的宽谱光源、散射介质、光阑、面阵探测器，所述面阵探测器连接有一计算机，该方法利用成像系统的物像关系及宽谱光照明下散射介质后的光强信号分布规律，在对隐藏物体进行非侵入结构识别的同时还可以对其进行尺寸测量和三维定位；可以应用在散斑自相关成像实验中，系统结构简单，操作方便，在水下探测，透雾成像等方面都有很大应用前景。成像等方面都有很大应用前景。成像等方面都有很大应用前景。

【技术实现步骤摘要】
一种具有定位和尺寸测量功能的散射成像方法


[0001]本申请涉及透过散射介质成像
，尤其涉及一种具有定位和尺寸测量功能的散射成像方法。

技术介绍

[0002]光透过雾、霾、云或生物组织等散射介质时，出射光场会出现紊乱，导致传统成像模糊甚至无效。针对这一问题，研究人员提出了多种解决方案，主要分为屏蔽散射光和使用散射光两类。屏蔽散射光的成像方式主要有空间、时间、相干门控等技术，此类技术借助弹道光的准直性、飞行时间或相干性来筛选出弹道光，弹道光的能量随着散射厚度衰减很快，只适用于比较薄的散射介质。使用散射光的成像方式主要有迭代波前整形技术、相位共轭技术，解卷积方法，散斑相关方法等等。其中，前三种方法需要侵入散射介质内部、提前标定系统等，对系统的稳定性和可侵入性要求较高，而散斑相关方法则不仅具有非侵入的特性，系统结构和操作步骤也都非常简单，近年来发展迅速。2012年，Bertolotti等人利用强度自相关，成功重建出荧光目标图像，2014年，Katz等首次使用单帧散斑自相关完成了对隐藏物体的成像，极大节省了信号采集时间。2017年，Cua等人利用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有定位和尺寸测量功能的散射成像方法，其特征在于，应用于一种具有定位和尺寸测量功能的散射成像装置，该装置包括按顺序直线同轴排列的宽谱光源、散射介质、光阑、面阵探测器，所述面阵探测器连接有一计算机，该方法包括：标定所述光阑和面阵探测器的相对空间坐标；将宽谱光源、待测物体、散射介质放入以搭建并调节光路，其中所述散射介质紧贴光阑放置；对于调节后的光路，调节光阑的位置，以使得所述面阵探测器采样不同光阑位置下的光强信号，；计算两个光强信号，各自的发散中心位置C1和C2；分别计算两光阑位置与与其对应的光强信号发散中心的连线l1和l2，计算l1和l2两条直线之间的最短距离，并将该距离的线段中心位置作为待测物体的位置；对光强分布执行自相关运算并对所得自相关执行相位恢复操作，得到隐藏物体的重建图像并计算重建图像的大小H(O')；根据散斑自相关成像的物像放大规律，利用所述重建图像的大小、两个光阑的各自的位置、发散中心位置C1和C2以及待测物体的位置，计算出物体大小H(O)。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测物体的尺寸小于所述散射介质的记忆效应范围。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的光阑固定于一位移台上，以进行得到光阑的位置调整。4.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：王歆，施钧辉，梁其传，陈睿黾，李驰野，
申请(专利权)人：之江实验室，
类型：发明
国别省市：