【技术实现步骤摘要】
检查用连接器
[0001]本技术涉及用于高频信号的测定的检查用连接器。
技术介绍
[0002]作为以往的与检查用连接器相关的技术，例如，已知有专利文献1所记载的探测器。专利文献1所记载的探测器具备中心导体、外筒、第一衬套以及第二衬套。外筒具有圆筒形状，该圆筒形状具有沿上下方向延伸的中心轴线。中心导体在外筒内沿上下方向延伸。第一衬套设置于外筒的下端附近。第一衬套支承于外筒，并且支承中心导体。第二衬套设置于外筒的上端附近。第二衬套支承于外筒，并且支承中止导体。由此，外筒与中心导体绝缘。对中心导体施加高频信号。外筒与接地电位连接。
[0003]专利文献1：国际公开第2016/72193号公报
[0004]然而，在专利文献1所记载的探测器中，迫切期望提高高频信号的检查精度。
技术实现思路
[0005]因此，本技术的目的在于提供一种能够提高高频信号的检查精度的检查用连接器。
[0006]本技术的一个方式的检查用连接器是与包含连接器接地端子、连接器信号端子以及连接器主体的连接器连接的检查用连接器，
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种检查用连接器，其特征在于，是与包含连接器接地端子、连接器信号端子以及连接器主体的连接器连接的检查用连接器，上述连接器接地端子以及上述连接器信号端子被上述连接器主体保持为在左右方向上排列，上述检查用连接器具备：探测器，被传送高频信号，并且沿上下方向延伸；绝缘性支承部件，在上下方向上观察，具有包围上述探测器的周围的环形形状；柱塞，连接接地电位，并且保持上述绝缘性支承部件；以及限位器，在上述检查用连接器与上述连接器连接时，上述检查用连接器位于上述连接器的上方，上述柱塞具有柱塞下表面，通过上述探测器从上述柱塞下表面向下方突出，在上述检查用连接器与上述连接器连接时，上述探测器与上述连接器信号端子接触，上述绝缘性支承部件的下端位于比上述柱塞下表面靠下方，并且位于比上述探测器的下端靠上方，上述限位器具有接触部，上述接触部位于比上述柱塞下表面靠下方，在上述检查用连接器与上述连接器连接时，上述接触部从上方与上述连接器接触，从而上述柱塞下表面不与上述连接器接触。2.根据权利要求1所述的检查用连接器，其特征在于，上述柱塞包含上述限位器。3.根据权利要求2所述的检查用连接器，其特征在于，上...
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