【技术实现步骤摘要】
温度传感器
[0001]本技术涉及测量装置
,尤其涉及一种温度传感器。
技术介绍
[0002]传统的温度传感器是通过物体随温度变化而改变某种特性(如:电阻、电容、磁性能、频率、热噪声等),通过该特性来间接测量温度的变化。最常用的温度传感器为热电阻温度传感器和热电偶温度传感器。
[0003]热电阻温度传感器是利用导体或半导体的电阻值随温度变化而变化的原理进行测温的,在导体或半导体的阻值随温度变化而变化之后,利用检测电路来检测电阻值的变化。由于导体或者半导体的电阻值随温度变化的系数有限,温度每变化一摄氏度,电阻的变化值较小,检测电路很难检测出电阻的细微变化,导致热电阻温度传感器的测量精度较低,一般为0.15
‑
0.35摄氏度。
[0004]而热电偶温度传感器包括两种不同材质的导体,两导体组成闭合回路,当导体两端存在温度梯度时,回路中就会有电流通过,此时在两端之间存在电位差,利用感应电路确定电位差之后,根据电位差与温度的函数关系,可以确定温度。但由于大多数的金属热电偶随温度变化而产生的电位差 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种温度传感器,其特征在于,包括光源、第一透镜、分光镜、感应块、反射镜、第二透镜和CCD传感器阵列;所述第一透镜设置为能够将所述光源发出的光线转化为平行光线,所述分光镜设置为将所述平行光线分为能够照射于所述反射镜上的第一光线和能够照射于所述感应块上的第二光线,所述第一光线与所述第二光线相垂直,所述感应块远离所述分光镜的一端与所述分光镜的相对位置固定,所述第二光线能够在所述感应块上发生反射,所述感应块的体积能够随温度的变化而胀缩;所述第二透镜设置为能够将所述第一光线与所述第二光线所产生的干涉图样进行放大处理并投放至所述CCD传感器阵列;所述CCD传感器阵列设置为在接收经过放大处理的所述干涉图样后产生电流信号。2.根据权利要求1所述的温度传感器,其特征在于,还包括第三透镜和第四透镜;所述第三透镜设置于所述分光镜与所述反射镜之间,所述第三透镜设置为能够对所述第一光线进行汇聚;所述第四透镜设置于所述分光镜与所述感应块之间,所述第四透镜设置为能够对所述第二光线进行汇聚。3.根据权利要求1所述的温度传感器,其特征在于,还包括全...
【专利技术属性】
技术研发人员:隋军,韩付海,余朝晃,
申请(专利权)人:中科鑫通微电子技术北京有限公司,
类型:新型
国别省市:
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