一种中子注量在线测量的温度自动校正系统及方法技术方案

本发明专利技术具体涉及一种中子注量在线测量的温度自动校正系统及方法，解决了目前在温变环境中直接测量中子注量误差较大的问题。本发明专利技术提供的一种中子注量在线测量的温度自动校正系统，包括处理计算机、电源模块、恒流源模块、电流测量模块和探测器模块；电源模块分别与所述探测器模块和电流测量模块连接；探测器模块与恒流源模块连接；电流测量模块与探测器模块连接，处理计算机加载中子注量测量程序和温度校正程序；探测器模块包括连接的温度探测器和中子注量探测器，中子注量探测器为半导体探测器，温度探测器紧邻中子注量探测器安装。本发明专利技术还提供一种中子注量在线测量的温度自动校正方法。正方法。正方法。

【技术实现步骤摘要】
一种中子注量在线测量的温度自动校正系统及方法


[0001]本专利技术涉及辐射探测过程中温度的测量，涉及一种中子注量在线测量的温度自动校正系统及方法。

技术介绍

[0002]中子注量测量是放射物理诊断、器件损伤评估、材料改性测量等重要研究领域的关键参数测量项目之一，如何准确获取中子注量数据成为中子探测研究的热点。目前，半导体探测法由于实时、测量简单等优点已较多地应用于中子注量的测量。在半导体探测方法中，中子辐照在半导体材料中造成的位移损伤使材料少子寿命显著降低，进而导致半导体探测器电流增益发生变化，利用电流增益变化量与中子注量之间的数学关系即可测量中子注量(1MeV等效注量)。在测量过程中，若探测器工作电流固定，则输入电流与中子注量间的关系为：其中，为中子注量，C为常数，
△
I
in
为输入电流变化值，I
C
为工作电流。
[0003]然而，半导体材料性能参数与温度密切相关，在不同温度下半导体探测器测量的中子注量存在差异，一般情况下，在温度变化范围较小(小于10摄氏度)的情况下，温度带来的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种中子注量在线测量的温度自动校正系统，其特征在于：包括处理计算机(4)、电源模块(1)、恒流源模块(3)、电流测量模块(5)和探测器模块(2)；所述探测器模块(2)包括依次连接的温度探测器(21)和中子注量探测器(22)，所述中子注量探测器(22)为半导体探测器，所述温度探测器(21)紧邻中子注量探测器(22)设置；所述电源模块(1)分别与中子注量探测器(22)、温度探测器(21)和电流测量模块(5)连接，所述电源模块(1)为中子注量探测器(22)和温度探测器(21)提供正向工作电压和控制电压，电源模块(1)为电流测量模块(5)提供正负双向偏置电压；所述中子注量探测器(22)与恒流源模块(3)连接，用于获得恒定的工作电流；所述电流测量模块(5)分别与中子注量探测器(22)和温度探测器(21)连接，电流测量模块(5)用于对中子注量探测器(22)和温度探测器(21)的输入电流信号进行采样，并将输入电流信号传输至处理计算机(4)，所述处理计算机(4)加载有中子注量测量程序和温度校正程序，用于对输入电流信号进行处理得到对应的中子注量和温度，并根据温度对中子注量进行校正。2.根据权利要求1所述的一种中子注量在线测量的温度自动校正系统，其特征在于：所述电源模块(1)包括LDO电压转换电路，所述LDO电压转换电路的输出端分别与中子注量探测器(22)和温度探测器(21)连接，并为中子注量探测器和温度探测器提供正向工作电压和控制电压；所述LDO电压转换电路还与电流测量模块(5)连接。3.根据权利要求2所述的一种中子注量在线测量的温度自动校正系统，其特征在于：所述恒流源模块(3)包括依次连接的适配电阻(31)和恒流晶体管(32)，所述恒流晶体管(32)通过串联适配电阻(31)与中子注量探测器(22)连接，且恒流晶体管(32)的公共端接地。4.根据权利要求3所述的一种中子注量在线测量的温度自...

【专利技术属性】
技术研发人员：李瑞宾，吴伟，郭晓强，甘惠元，刘炜剑，白小燕，刘岩，
申请(专利权)人：西北核技术研究所，
类型：发明
国别省市：