【技术实现步骤摘要】
断背斜型圈闭体积校正系数确定方法、装置、设备及介质
[0001]本专利技术涉及地质研究
，尤其涉及一种断背斜型圈闭体积校正系数确定方法、装置、设备及介质。
技术介绍
[0002]断背斜型圈闭体积是预测断背斜型圈闭内储存的油气资源潜力的直接参数，一般通过底面积与储层厚度的乘积计算断背斜型圈闭体积。但是，这种方式确定的断背斜型圈闭体积与实际情况存在较大误差，通常引入体积校正系数对计算得到的断背斜型圈闭体积进行校正。因此，如何准确求取断背斜型圈闭的体积校正系数，成为制约断背斜型圈闭资源量预测精度的最大瓶颈。
[0003]现有技术中，通常直接依据个人经验或者采用专家打分法在断背斜型圈闭资源量预测时赋予断背斜型圈闭体积校正系数，甚至直接忽略该参数对资源量预测结果的影响。由此得到的断背斜型圈闭资源量通常高估或者低估断背斜型圈闭体积，结果存在明显误差，因而无法真实反映地下真实资源潜力，直接影响了断背斜型圈闭的勘探潜力评价和勘探方案部署。
技术实现思路
[0004]本专利技术提供了一种断背斜型圈闭体积校正系数确...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种断背斜型圈闭体积校正系数确定方法，其特征在于，所述方法包括：确定待测断背斜型圈闭在标准横截面上的目标参数信息；所述标准横截面用于代表所述待测断背斜型圈闭的底面所在平面；根据所述目标参数信息确定所述待测断背斜型圈闭的参考校正系数；所述参考校正系数是指幅度校正系数、断层校正系数和储层校正系数；根据所述参考校正系数确定所述待测断背斜型圈闭的体积校正系数；其中，所述幅度校正系数根据第一横截面积与第二横截面积的比值确定，所述第一横截面积基于第一参考面积确定，所述第一参考面积是指所述待测断背斜型圈闭受顶面幅度影响导致的横截面积，所述第二横截面积基于第二参考面积确定，所述第二参考面积是指所述待测断背斜型圈闭在理想角度下的横截面积，所述理想角度是指储层倾角为0度，所述断层校正系数根据第三横截面积与第二横截面积的比值确定，所述第三横截面积基于第三参考面积确定，所述第三参考面积是指所述待测断背斜型圈闭受控圈断层影响导致的横截面积，所述储层校正系数根据第四横截面积与所述第二横截面积的比值确定，所述第四横截面积基于第四参考面积确定，所述第四参考面积是指所述待测断背斜型圈闭受储层产状倾斜影响导致的横截面积。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标准横截面根据所述待测断背斜型圈闭范围内的目标线段所在的横截面进行确定，所述目标线段为所述待测断背斜型圈闭范围内与控圈断层垂直的线段，所述目标线段的长度等于参考线段长度的一半，所述参考线段为所述待测断背斜型圈闭范围内与控圈断层垂直的最长线段。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述目标参数信息确定所述待测断背斜型圈闭的参考校正系数，包括：根据目标参数信息中的幅度参数信息和预设幅度函数确定所述待测断背斜型圈闭的幅度校正系数；其中，所述幅度参数信息包括理想角度下所述标准横截面上待测断背斜型圈闭范围内的储层横截面长度和储层横截面厚度，以及所述待测断背斜型圈闭在标准横截面上的顶面倾角；所述预设幅度函数用于描述所述幅度参数信息与所述幅度校正系数的映射关系；根据目标参数信息中的断层参数信息和预设断层函数确定所述待测断背斜型圈闭的断层校正系数；其中，所述断层参数信息包括理想角度下所述标准横截面上待测断背斜型圈闭范围内的储层横截面长度和储层横截面厚度，以及所述待测断背斜型圈闭在标准横截面上的控圈断层倾角；所述预设断层函数用于描述所述断层参数信息与所述断层校正系数的映射关系；根据目标参数信息中的储层参数信息和预设储层函数确定所述待测断背斜型圈闭的储层校正系数；其中，所述储层参数信息包括所述待测断背斜型圈闭内的储层倾角，所述预设储层函数用于描述所述储层参数信息与所述储层校正系数的映射关系。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设幅度函数的表达式如下：C＝H
r
cotα/2L
r
；其中，C为幅度校正系数，L
r
为理想角度下标准横截面上待测断背斜型圈闭范围内的储层横截面长度，H
r
为理想角度下标准横截面上待测断背斜型圈闭范围内的储层横截面厚度，α为待测断背斜型圈闭在标准横截面上的顶面倾角。
5...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈彬滔，马峰，杨丽，马轮，史忠生，薛罗，雷明，郑茜，谢明贤，徐飞，
申请(专利权)人：中国石油天然气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。