固态硬盘性能优化方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种固态硬盘性能优化方法、装置、电子设备及存储介质，其中方法包括：当检测到固态硬盘中的晶圆到达写空数据周期时，确定晶圆中的数据块对应的数据块工作时间是否超过写空数据周期的结束时间阈值；若否，则修改写周期性阈值并将写空数据并发度修改为第一并发度阈值；当检测到固态硬盘中的处理器到达温度读取周期时，确定在上一个温度读取周期内固态硬盘中的所有温度传感器的温度是否都到达高温阈值；若否，则修改温度传感器的扫描周期性阈值并将处理器的读取温度并发度修改为第二并发度阈值，通过控制晶圆串行写空数据以及控制处理器离散化获取温度来减轻对硬盘工作的影响。工作的影响。工作的影响。

【技术实现步骤摘要】
固态硬盘性能优化方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及计算机
，特别是涉及一种固态硬盘性能优化方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]现有技术中为增强数据可靠性，SSD(固态硬盘)内部数据存储采用RAID5(Redundant ArraysofIndependentDisks磁盘阵列)保护，比如31+1方式，即每写31个用户数据，会对应1个校验数据。比如superBLOCK0，是由每个DIE(晶圆)上的BLOCK0(数据块)组成的。比如superBLOCK0内的SuperPAGE0是由所有BLOCK0的PAGE0组成的。
[0003]鉴于NANDopenBLOCK特性要求，openBLOCK需要在规定时间内关闭，在SSD随机读即没有用户写入的情况下，后台通过周期性填写dummy(空数据)的方式来关闭BLOCK，由于同一RAID内多个DIE上的BLOCK并行。由于NANDDIE上同时只能执行读/写/擦动作中的其中一种，所以空数据的写动作会拖延对应DIE上的读操作。为减少对随机读性能的影响，目前方案本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种固态硬盘性能优化方法，所述方法包括：当检测到固态硬盘中的晶圆到达写空数据周期时，确定所述晶圆中的数据块对应的数据块工作时间是否超过所述写空数据周期的结束时间阈值；若否，则修改所述写周期性阈值并将所述写空数据并发度修改为第一并发度阈值；当检测到所述固态硬盘中的处理器到达温度读取周期时，确定在上一个温度读取周期内所述固态硬盘中的所有温度传感器的温度是否都到达高温阈值；若否，则修改温度传感器的扫描周期性阈值并将所述处理器的读取温度并发度修改为第二并发度阈值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述修改所述写周期性阈值并将所述写空数据并发度修改为第一并发度阈值包括：确定所述固态硬盘在上一个写空数据周期内是否接收到用户发送的写请求；若是，则将所述写周期性阈值修改为第一写周期性阈值并将所述写空数据并发度修改为第一并发度阈值；若否，则确定所述固态硬盘在上一个写空数据周期内是否接收到用户发送的读请求并将所述写空数据并发度修改为第一并发度阈值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述固态硬盘在上一个写空数据周期内是否接收到用户发送的读请求并将所述写空数据并发度修改为第一并发度阈值包括：若是，则将所述写周期性阈值修改为第二写周期性阈值；若否，则将所述写周期性阈值修改为所述第一写周期性阈值。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述写周期性阈值修改为第一写周期性阈值并将所述写空数据并发度修改为第一并发度阈值之后包括：根据晶圆编号和所述第一写周期性阈值生成所述晶圆对应的晶圆写周期；根据所述晶圆写周期和所述第一并发度阈值控制所述晶圆执行写空数据操作。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述修改温度传感器的扫描周期性阈值并将所述处理器的读取温度并发度修改为第二并发度阈值包括：确定在上一个温度读取周期内是否存在温度传感器的温度到达所述高温阈值；若是，则确定未到达所述高温阈值的温度...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑善龙，钟戟，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：