一种基于六端口的散射参数测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种基于六端口的散射参数测试系统，包括四个不同结构形式的定向耦合器，分别为第一定向耦合器、第二定向耦合器、第三定向耦合器和第四定向耦合器，定向耦合器的端口之间通过传输线连接，第一定向耦合器的直通端口作为输入端p1接收输入功率，第一定向耦合器的直通端口与第二定向耦合器的输入端连接；第二定向耦合器的直通端作为被测端口p2，第二定向耦合器的耦合端作为参考端口p4，第三定向耦合器的直通端作为参考端口p3，第四定向耦合器的直通端和耦合端分别作为参考端口p5和p6。本实用新型专利技术实现了通过四个元件，满足最佳测量精度的q值等幅和均匀120

【技术实现步骤摘要】
一种基于六端口的散射参数测试系统


[0001]本技术涉及微波网络参数测试
，特别涉及一种基于六端口的散射参数测试系统。

技术介绍

[0002]在微波和无线通信领域中，微波测量技术是不可或缺的基础和重要组成部分。目前在电磁场理论和微波网络理论中，一般采用散射参数来表征微波器件的特性。迄今为止，由于微波器件的散射参数必须通过微波测量来获取，这就需要先进的网络测量技术和测量仪器。
[0003]目前标量网络分析仪和矢量网络分析仪(VNA)是人们测量微波网络参数时最常用的仪器。矢量网络分析仪利用软件来修正硬件的不完善性，测量精度更高，且能够进行相位测量。但是VNA需要一个幅相接收机把射频信号转换为中频信号，进而提取被测网络的幅度和相位信息，同时也需要锁相系统保证频率转换的准确性。这就提升了系统的复杂度和制造成本。
[0004]现有技术中，还可通过六端口电路进行测量，六端口电路通常由同相功分器、定向耦合器等无源器件构成，且不要求微波器件的性能很理想。通过测量4个端口的电压幅度或功率水平，就能同时获得被测件的幅度和相位信息，通过六端口电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于六端口的散射参数测试系统，其特征在于，包括第一定向耦合器、第二定向耦合器、第三定向耦合器和第四定向耦合器，定向耦合器的端口之间通过传输线连接，所述第一定向耦合器的直通端口作为输入端p1接收输入功率，所述第一定向耦合器的直通端口沿同一走线层与所述第二定向耦合器的输入端连接，将输入功率输出至所述第二定向耦合器的直通端；所述第二定向耦合器的直通端作为被测端口p2，所述第二定向耦合器的耦合端作为参考端口p4，所述第三定向耦合器的直通端作为参考端口p3，所述第四定向耦合器的直通端和耦合端分别作为参考端口p5和p6。2.根据权利要求1所述的基于六端口的散射参数测试系统，其特征在于，所述传输线采用偏置耦合带状线。3.根据权利要求2所述的基于六端口的散射参数测试系统，其特征在于，所述第一定向耦合器为同向耦合器，所述第二定向耦合器为多节反向定向耦合器，所述第三定向耦合器和第四定向耦合器为反向耦合器。4.根据权利要求3所述的基于六端口的散射参数测试系统，其特征在于，所述第一定向耦合器的直通端与所述第二定向耦合器的输入端连接，所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪涛，彭舒，
申请(专利权)人：西华师范大学，
类型：新型
国别省市：